[發明專利]一種光纖F-P傳感器測量應變的方法

在審

• 申請號: 201711431760.8
• 申請日: 2017-12-26
• 公開（公告）號: CN108195300A
• 公開（公告）日: 2018-06-22
• 發明（設計）人: 祝連慶;李達;董明利;婁小平;張雯;何巍;李紅
• 申請（專利權）人: 北京信息科技大學
• 主分類號: G01B11/16
• 分類號: G01B11/16
• 代理公司: 北京律恒立業知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11416
• 代理人: 顧珊;龐立巖

1.一種光纖F-P傳感器測量應變的方法，其特征在于，所述方法包括：

制作光纖F-P傳感器，包括：

在高精度三維運動平臺上固定光纖夾具，將去除涂層的HI-1060光纖固定在所述光纖夾具上；

在所述光纖夾具正上方布置高反鏡，在所述高反鏡前端依次布置800nm飛秒激光器、半波片、偏振片、衰減片和用于激光穿過的窗口，所述800nm飛秒激光器以劃線的方式發射飛秒激光，所述飛秒激光依次穿過所述半波片、偏振片、衰減片和窗口，經所述高反鏡反射后由100倍的顯微物鏡聚焦至所述光纖夾具上的HI-1060光纖，對所述HI-1060光纖劃線刻寫；

在所述高反鏡正上方布置電荷耦合器件，所述電荷耦合器觀測激光的聚焦位置和激光對所述夾具上HI-1060光纖的加工形貌；

搭建應變測試系統，所述應變測系統包括寬帶光源、環形器、光纖F-P傳感器、移動拉伸平臺和光譜分析儀；

將所述光纖F-P傳感器固定在所述移動拉伸平臺上，左右移動所述移動拉伸平臺，使所述光纖F-P傳感器產生應變；

所述光譜分析儀實時觀測并記錄所述光纖F-P傳感器的反射光譜。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述HI-1060光纖介于測試寬帶光源與測試光譜分析儀之間，所述HI-1060光纖一端連接所述測試寬帶光源，另一端連接所述測試光譜分析儀，所述測試光譜分析儀實時觀測所述測試寬帶光源發射的測試激光的反射光譜。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述測試寬帶光源發射的測試激光的波長范圍為1530nm～1600nm。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述測試光譜分析儀的工作波長范圍為1200nm～2400nm，最小分辨精度為0.05nm。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述HI-1060光纖刻寫過程中，控制所述高精度三維運動平臺的移動和所述窗口的閉合/開啟，制作不同腔長的光纖F-P傳感器。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述顯微物鏡的放大倍數為100倍，數值孔徑為0.70。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述光纖夾具的上方和下方分別安裝LED照明設備。

8.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述800nm飛秒激光器發射的飛秒激光的單脈沖能量為5μJ，加工速度為80um/s，刻寫長度為40μm。