[發明專利]一種近紅外光譜采樣方法在審
| 申請號： | 201711421858.5 | 申請日： | 2017-12-25 |
| 公開（公告）號： | CN108195795A | 公開（公告）日： | 2018-06-22 |
| 發明（設計）人： | 閆曉劍 | 申請（專利權）人： | 四川長虹電器股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/359 | 分類號： | G01N21/359 |
| 代理公司： | 成都虹橋專利事務所(普通合伙) 51124 | 代理人： | 吳中偉 |
| 地址： | 621000 四*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 近紅外光譜 近紅外光譜分析 采樣函數 采樣數據 光敏電流 采樣 擬合 近紅外光譜數據 近紅外光譜信號 光譜儀 光譜特征 光源特征 區分度 編程 | ||
【權利要求書】：
1.一種近紅外光譜采樣方法，其特征在于，包括步驟：
依據樣品的光譜特征和/或光譜儀的光源特征擬合采樣函數；
當接收到光敏電流數據后，將接收到的光敏電流數據逐點經過擬合的采樣函數處理，形成逐點的采樣數據；
基于逐點的采樣數據形成近紅外光譜。
2.如權利要求1所述的一種近紅外光譜采樣方法，其特征在于，依據樣品的光譜特征擬合采樣函數A，依據光譜儀的光源特征擬合采樣函數B；當接收到的光敏電流數據后，將接收到的光敏電流數據逐點經過采樣函數A、采樣函數B處理，形成逐點的采樣數據。
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