[發明專利]一種熱液型鈾礦深部探測方法在審
| 申請號: | 201711418656.5 | 申請日: | 2017-12-25 |
| 公開(公告)號: | CN108279444A | 公開(公告)日: | 2018-07-13 |
| 發明(設計)人: | 李子穎;程紀星;林錦榮;聶江濤 | 申請(專利權)人: | 核工業北京地質研究院 |
| 主分類號: | G01V11/00 | 分類號: | G01V11/00 |
| 代理公司: | 核工業專利中心 11007 | 代理人: | 包海燕 |
| 地址: | 100029 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 找礦 鈾礦 熱液 深部 探測 地質構造信息 音頻大地電磁 放射性測量 標量測量 成礦規律 成礦信息 地質資料 環境信息 礦床勘探 連續測量 強度測量 梯度測量 找礦效果 找礦預測 直接信息 測氡儀 磁力儀 遠景區 總磁場 測深 抽氣 測量 預測 | ||
本發明屬于礦床勘探技術領域,具體涉及一種熱液型鈾礦深部探測方法。本發明包括以下步驟:依據熱液型鈾礦的成礦規律圈定成礦遠景區;通過音頻大地電磁儀采用張量或標量測量的方式進行電磁測深;通過高精度磁力儀采用剖面連續測量工作方式進行總磁場強度測量、梯度測量;通過測氡儀采用抽氣測量方式進行測氡作業;根據上述測量結果,結合已知地質資料,得到成礦環境信息和直接成礦信息,預測鈾成礦有利部位。本發明既可以獲取到鈾成礦環境的地質構造信息實現間接找礦,又可以獲取到鈾成礦的直接信息實現直接找礦,與傳統放射性測量找礦方法相比,顯著提高了找礦預測的準確性和效率,尤其是對于深度找礦具有良好的找礦效果。
技術領域
本發明屬于礦床勘探技術領域,具體涉及一種熱液型鈾礦深部探測方法。
背景技術
我國熱液型鈾礦主要賦存于斷裂構造、裂隙帶、破碎帶和不同期次巖漿巖侵入體接觸界面、不同火山巖界面、盆地或基底不整合面、構造巖體界面、火山構造、不整合面中。熱液型鈾礦礦體主要為脈狀、群脈狀、扁豆狀、板狀及不規則復雜形態,單個礦體大都構成單一礦床,但多以規模較小的礦體群出現。
熱液型鈾礦按圍巖可劃分為火山巖型和花崗巖型兩類。熱液型鈾礦成礦地質體及主要控礦因素包括:
①斷裂構造控礦:斷裂構造是熱液型鈾礦最關鍵的控礦因素,控礦斷裂構造有不同成因、不同形式,不同類型的斷裂構造控制著不同級別鈾礦的空間分布。區域深源斷裂構造控制著鈾礦的區域分布,次級斷裂構造控制著鈾礦床、礦體的空間定位。
②火山構造控礦:不同巖性火山界面、火山盆地與變質巖基底界面及環形火山構造控制著鈾礦空間分布,這些界面構造活動形成構造界面,有利于鈾礦賦存,如相山礦田碎斑流紋巖與流紋英安巖組間界面、火山盆地變質巖基底界面、環形火山塌陷構造等。
③晚期巖漿巖控礦:晚期酸性巖脈(花崗斑巖等)和中基性巖脈(煌斑巖、輝綠巖等)與鈾礦時間關系密切,這些晚期巖脈成為了熱液型鈾礦的賦存空間,如相山礦田、諸廣礦田晚期花崗巖脈、花崗斑巖脈、煌斑巖和輝綠巖脈等。
④巖體界面:不同期次巖漿侵入體接觸界面控制著鈾礦體產出位置,即巖體接觸界面后期由于構造活動形成構造面,為鈾礦的賦存提供了有利空間,如諸廣礦田不同期次花崗巖體接觸面。
⑤蝕變帶控礦:熱液型鈾礦均有強烈的熱液蝕變,熱液蝕變范圍一般遠大于礦體,是主要的找礦識別標志。熱液蝕變礦物主要有鉀(鈉)長石化、綠泥石化、碳酸鹽化、赤鐵礦化、水云母化、螢石化、黃鐵礦化、硅化等。
熱液型鈾礦的這些控制因素,往往表現出深部成礦地質構造體的變化,并導致了各種巖石物理性質的變化,如巖石電阻率的變化、磁化率的變化以及放射性元素含量的變化等。通常,熱液型鈾礦的控制因素如破碎帶、蝕變帶、裂隙帶等,反映在電阻率上的特點為低阻異常,在磁性上的特點為局部的磁異常,在氡濃度變化上的特點是局部的高氡異常。這就為地球物理勘查技術的應用提供了前提條件。地球物理勘查技術在鈾礦找礦中的作用有兩種,一是間接找礦,即探明鈾成礦地質環境條件,識別出與鈾成礦有關的地質體(如晚期巖脈)、斷裂構造、巖體界面、火山構造、不整合面以及礦化蝕變帶等;二是直接找礦,即通過探測鈾礦體產生的放射性異常信息,直接找到鈾礦。
傳統的熱液型鈾礦勘探主要采用放射性測量方法,包括各種氡及其子體測量方法、地面伽馬能譜或者伽馬總量測量方法、航空放射性測量、土壤熱釋光法等。這些方法的特點是利用鈾的放射性特征,直接探測鈾或者鐳衰變時產生的子體或者射線,達到找礦的目的。在熱液型鈾礦勘探早期,礦體多位于淺部(一般小于幾十米),放射性測量方法找礦效果確實明顯,發現了很多鈾礦床,如航空放射性測量發現的鄒家山礦床、石馬山礦床等。但是,隨著找礦深度的增加,放射性測量方法的找礦效果已明顯降低。
發明內容
本發明需要解決的技術問題為:隨著找礦深度的增加,現有技術中普遍采用的放射性測量方法,找礦效果難以滿足需求。
本發明的技術方案如下所述:
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