[發(fā)明專利]種子含水量檢測(cè)系統(tǒng)和方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711404946.4 | 申請(qǐng)日: | 2017-12-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108267420A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-07-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 譚易東;潘奕;李辰;丁慶 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市太赫茲系統(tǒng)設(shè)備有限公司;深圳市太赫茲科技創(chuàng)新研究院 |
| 主分類號(hào): | G01N21/3586 | 分類號(hào): | G01N21/3586 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 吳平 |
| 地址: | 518102 廣東省深圳市寶*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 太赫茲時(shí)域 種子含水量 檢測(cè)裝置 太赫茲時(shí)域光譜 信號(hào)分析裝置 檢測(cè)系統(tǒng) 太赫茲波 探測(cè)模塊 探測(cè)光 農(nóng)業(yè)生產(chǎn)過(guò)程 飛秒激光器 太赫茲輻射 無(wú)損檢測(cè) 預(yù)測(cè)模型 分束器 檢測(cè) 優(yōu)化 | ||
本發(fā)明提供一種種子含水量檢測(cè)系統(tǒng),包括太赫茲時(shí)域檢測(cè)裝置和信號(hào)分析裝置;所述太赫茲時(shí)域檢測(cè)裝置包括飛秒激光器、分束器、太赫茲輻射模塊、太赫茲探測(cè)模塊;所述信號(hào)分析裝置,與所述太赫茲探測(cè)模塊連接,用于接收所述太赫茲波和所述探測(cè)光、并對(duì)所述太赫茲波和所述探測(cè)光進(jìn)行處理生成太赫茲時(shí)域光譜。此外,還提供一種種子含水量的檢測(cè)方法。通過(guò)太赫茲時(shí)域檢測(cè)裝置對(duì)種子的檢測(cè),達(dá)到了無(wú)損檢測(cè)的效果,并且不會(huì)改變種子的物理及化學(xué)性質(zhì),進(jìn)一步優(yōu)化了農(nóng)業(yè)生產(chǎn)過(guò)程。更進(jìn)一步地,通過(guò)建立預(yù)測(cè)模型的方式,使得后續(xù)只需獲取種子的太赫茲時(shí)域光譜數(shù)據(jù),即可得到種子的含水量。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及農(nóng)作物種子檢測(cè)領(lǐng)域,特別是涉及一種種子含水量檢測(cè)系統(tǒng)和方法。
背景技術(shù)
在農(nóng)業(yè)生產(chǎn)中,種子的質(zhì)量十分重要,直接決定著農(nóng)作物的生長(zhǎng)狀況,因此,往往對(duì)于種子的質(zhì)量有著十分嚴(yán)格的把控。
目前應(yīng)用比較廣泛和成熟的種子含水量測(cè)試方法有烘干稱重法與射線檢測(cè)法。烘干稱重法優(yōu)點(diǎn)是對(duì)設(shè)備沒(méi)有嚴(yán)格的要求,結(jié)果也較為可靠。但是取樣較為困難,過(guò)程復(fù)雜,且該方法是有損測(cè)量,需破壞樣品,且測(cè)量時(shí)間很長(zhǎng),步驟繁瑣且不能長(zhǎng)期定點(diǎn)監(jiān)測(cè)。射線檢測(cè)法的優(yōu)點(diǎn)是不用取樣、測(cè)速快、精確度高,但是相關(guān)裝置昂貴、操作復(fù)雜、測(cè)量范圍小,并且工作人員需要配備防輻射的裝置,進(jìn)一步增加了成本和操作難度。
發(fā)明內(nèi)容
基于此,有必要針對(duì)有損樣品、成本高昂、過(guò)程復(fù)雜、有輻射的問(wèn)題,提供一種種子含水量檢測(cè)系統(tǒng)和方法。
一種種子含水量檢測(cè)系統(tǒng),包括太赫茲時(shí)域檢測(cè)裝置和信號(hào)分析裝置;
所述太赫茲時(shí)域檢測(cè)裝置包括飛秒激光器、分束器、太赫茲輻射模塊以及太赫茲探測(cè)模塊;
所述飛秒激光器用于輻射飛秒激光;
所述分束器用于將所述飛秒激光分為泵浦光和探測(cè)光;
所述太赫茲輻射模塊用于接收所述泵浦光并輻射出太赫茲波;
所述太赫茲探測(cè)模塊,包括用于調(diào)節(jié)所述泵浦光與所述探測(cè)光之間的相對(duì)延時(shí)的延時(shí)裝置;所述太赫茲探測(cè)模塊用于探測(cè)所述太赫茲波以及經(jīng)所述延時(shí)裝置延遲后的所述探測(cè)光;
所述信號(hào)分析裝置,與所述太赫茲探測(cè)模塊連接,用于接收所述太赫茲波和所述探測(cè)光、并對(duì)所述太赫茲波和所述探測(cè)光進(jìn)行處理生成太赫茲時(shí)域光譜。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述太赫茲時(shí)域檢測(cè)裝置還包括調(diào)光透鏡組件、載物架組件;
所述調(diào)光透鏡組件用于調(diào)節(jié)由所述太赫茲輻射模塊輻射的太赫茲波使得所述太赫茲波穿過(guò)待測(cè)樣品;
所述載物架組件用于放置所述待測(cè)樣品,所述載物架組件包括可移動(dòng)的載物臺(tái)。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述太赫茲輻射模塊包括偏置電壓模塊和光電導(dǎo)輻射天線;
所述偏置電壓模塊用于給所述光電導(dǎo)輻射天線提供偏置電壓;
所述光電導(dǎo)輻射天線用于接收所述泵浦光,并在所述偏置電壓的驅(qū)動(dòng)下輻射出所述太赫茲波。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述太赫茲探測(cè)模塊還包括光電導(dǎo)探測(cè)天線;
所述光電導(dǎo)探測(cè)天線用于根據(jù)接收的所述探測(cè)光并同時(shí)接收所述太赫茲波。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述調(diào)光透鏡組件包括太赫茲聚焦透鏡和太赫茲準(zhǔn)直透鏡;
所述太赫茲聚焦透鏡位于所述光電導(dǎo)輻射天線與所述載物臺(tái)之間,所述太赫茲聚焦透鏡用于將所述太赫茲波聚焦至所述載物臺(tái)上的待測(cè)樣品;
所述太赫茲準(zhǔn)直透鏡位于所述載物臺(tái)與所述光電導(dǎo)探測(cè)天線之間,所述太赫茲準(zhǔn)直透鏡用于將從所述待測(cè)樣品透射出來(lái)的太赫茲光束準(zhǔn)直。
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G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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