[發明專利]發光二極管外延片及其制造方法在審
| 申請號: | 201711401679.5 | 申請日: | 2017-12-22 |
| 公開(公告)號: | CN109962132A | 公開(公告)日: | 2019-07-02 |
| 發明(設計)人: | 邱鏡學;凃博閔;林雅雯 | 申請(專利權)人: | 展晶科技(深圳)有限公司;榮創能源科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/06 | 分類號: | H01L33/06;H01L33/32;H01L33/00 |
| 代理公司: | 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334 | 代理人: | 薛曉偉;袁海江 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市寶*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 發光二極管外延 阻擋區 發光活性層 量子阱結構 藍寶石 漸變區 襯底 高鋁 覆蓋 量子阱區 線性變化 氮化鎵 緩沖層 鋁摻雜 銦摻雜 制造 | ||
1.一種發光二極管外延片,其包括藍寶石襯底、依次覆蓋在所述藍寶石襯底的C面上的緩沖層、N型半導體層、發光活性層和P型半導體層,其特征在于,所述發光活性層包括至少一層量子阱結構,每層量子阱結構包括量子阱區、漸變區、高鋁區以及阻擋區,所述阻擋區覆蓋并連接所述高鋁區,所述P型半導體層覆蓋并連接所述阻擋區,所述漸變區的材質為鋁摻雜或銦摻雜的氮化鎵,且鋁或銦的含量自靠近N型半導體層的一側向遠離N型半導體層的一側呈線性變化。
2.如權利要求1所述的發光二極管外延片,其特征在于:所述漸變區的材質為鋁摻雜的氮化鎵,其化學式為AlyGa1-yN,0<y≤1,鋁的含量自靠近N型半導體層的一側向遠離N型半導體層的一側呈線性增加,所述量子阱區覆蓋并連接所述N型半導體層,所述漸變區位于所述量子阱區及所述高鋁區之間,并連接所述量子阱區及所述高鋁區。
3.如權利要求2所述的發光二極管外延片,其特征在于:所述量子阱區的材質為銦摻雜的氮化鎵,化學式為InxGa1-xN,0<x<1;所述高鋁區的材質為鋁摻雜的氮化鎵,化學式為AlzGa1-zN,0.7≤z<1,所述阻擋區的材質為銦摻雜的氮化鎵,化學式為IntGa1-tN,0≤t<1。
4.如權利要求3所述的發光二極管外延片,其特征在于:所述量子阱區的厚度范圍為1至3納米,所述漸變區的厚度范圍為1至2納米,所述高鋁區的厚度范圍為1至2納米,所述阻擋區的厚度范圍為10至12納米。
5.如權利要求1所述的發光二極管外延片,其特征在于:所述漸變區的材質為銦摻雜的氮化鎵,化學式為InxGa1-xN,0<x<1,銦的含量自靠近N型半導體層的一側向遠離N型半導體層的一側呈線性減少,所述漸變區覆蓋并連接所述N型半導體層,所述量子阱區位于所述漸變區及所述高鋁區之間,并連接所述漸變區及所述高鋁區。
6.如權利要求5所述的發光二極管外延片,其特征在于:所述量子阱區的材質為銦摻雜的氮化鎵,化學式為InyGa1-yN,0<y≤1;所述高鋁區的材質為鋁摻雜的氮化鎵,化學式為AlzGa1-zN,0.7≤z<1,所述阻擋區的材質為銦摻雜的氮化鎵,化學式為IntGa1-tN,0≤t<1。
7.如權利要求6所述的發光二極管外延片,其特征在于:所述漸變區的厚度范圍為1至2納米,所述量子阱區的厚度范圍為1至3納米,所述高鋁區的厚度范圍為1至2納米,所述阻擋區的厚度范圍為10至12納米。
8.如權利要求1所述的發光二極管外延片,其特征在于:所述發光活性層包括重覆生長的5~10層所述量子阱結構。
9.一種發光二極管外延片的制造方法,包括如下步驟:
提供一藍寶石襯底,在所述藍寶石襯底的C面上依次覆蓋形成緩沖層及N型半導體層;
在N型半導體層上形成至少一層量子阱結構,每層量子阱結構包括量子阱區、漸變區、高鋁區以及阻擋區,所述阻擋區覆蓋并連接所述高鋁區,所述漸變區的材質為鋁摻雜或銦摻雜的氮化鎵,且鋁或銦的含量自靠近N型半導體層的一側向遠離N型半導體層的一側呈線性變化;
在所述阻擋區上生長形成P型半導體層。
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