[發(fā)明專利]一種雙插入層反射鏡結(jié)構(gòu)的垂直結(jié)構(gòu)LED芯片及其制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711396712.X | 申請(qǐng)日: | 2017-12-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108511568A | 公開(公告)日: | 2018-09-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李國(guó)強(qiáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 河源市眾拓光電科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L33/06 | 分類號(hào): | H01L33/06;H01L33/46;H01L33/00 |
| 代理公司: | 廣州市越秀區(qū)哲力專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44288 | 代理人: | 邵穗娟;湯喜友 |
| 地址: | 517000 廣東省河*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 反射鏡 垂直結(jié)構(gòu)LED芯片 金屬層 反射鏡結(jié)構(gòu) 雙插入層 生長(zhǎng) 襯底 制備 反射鏡反射率 反射鏡表面 工藝穩(wěn)定性 光輸出效率 金屬層表面 熱穩(wěn)定 黏附性 良率 | ||
本發(fā)明公開了一種雙插入層反射鏡結(jié)構(gòu)的垂直結(jié)構(gòu)LED芯片,包括Si襯底、LED外延片、反射鏡第一插入金屬層、納米Ag反射鏡和反射鏡第二插入金屬層;LED外延片生長(zhǎng)在Si襯底上,反射鏡第一插入金屬層生長(zhǎng)在LED外延片表面,納米Ag反射鏡生長(zhǎng)在反射鏡第一插入金屬層表面,反射鏡第二插入金屬層生長(zhǎng)在納米Ag反射鏡表面。本發(fā)明還提供一種雙插入層反射鏡結(jié)構(gòu)的垂直結(jié)構(gòu)LED芯片的制備方法。本發(fā)明的垂直結(jié)構(gòu)LED芯片改善了Ag基反射鏡黏附性差和熱穩(wěn)定差的問(wèn)題,大幅度提高Ag反射鏡的工藝穩(wěn)定性及反射鏡反射率,進(jìn)而提高了垂直結(jié)構(gòu)LED芯片的良率及光輸出效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及LED制造領(lǐng)域,尤其涉及一種雙插入層反射鏡結(jié)構(gòu)的垂直結(jié)構(gòu)LED芯片及其制備方法。
背景技術(shù)
隨著LED在照明領(lǐng)域的逐步應(yīng)用,市場(chǎng)對(duì)白光LED光效的要求越來(lái)越高,GaN基垂直結(jié)構(gòu)LED具有單面出光,良好的散熱能力,能夠承受大電流注入,這樣一個(gè)垂直結(jié)構(gòu)LED芯片可以相當(dāng)于幾個(gè)正裝結(jié)構(gòu)芯片,折合成本只有正裝結(jié)構(gòu)的幾分之一,因此,GaN基垂直結(jié)構(gòu)LED是市場(chǎng)所向,是半導(dǎo)體照明發(fā)展的必然趨勢(shì)。與傳統(tǒng)的平面結(jié)構(gòu)LED相比,垂直結(jié)構(gòu)LED具有許多優(yōu)點(diǎn):垂直結(jié)構(gòu)LED兩個(gè)電極分別在LED的兩側(cè),電流幾乎全部垂直流過(guò)外延層,沒(méi)有橫向流動(dòng)的電流,電流分布均勻,產(chǎn)生的熱量減少;采用鍵合與剝離的方法將導(dǎo)熱不好的藍(lán)寶石襯底去除,換成導(dǎo)電性好并且具有高熱導(dǎo)率的襯底,可有效地散熱;n-GaN層為出光面,該層具有一定的厚度,便于制作表面微結(jié)構(gòu),以提高光提取效率??傊?,與傳統(tǒng)平面結(jié)構(gòu)相比,垂直結(jié)構(gòu)在出光、散熱等方面具有明顯的優(yōu)勢(shì)。
而反射鏡是垂直結(jié)構(gòu)LED芯片最重要的結(jié)構(gòu)之一,形成低接觸電阻高反射率的p型歐姆接觸是獲取低電壓高光輸出功率的LED芯片的必要條件。圖1為現(xiàn)有技術(shù)垂直結(jié)構(gòu)LED芯片結(jié)構(gòu)示意圖,1’是Si(100)襯底,2’是鍵合層,3’是金屬保護(hù)層,4’是傳統(tǒng)Ni/Ag反射鏡層,5’是p-GaN層,6’是量子阱層,7’是n-GaN層,8’是n電極層。目前主要采用Ag作為反射鏡的核心材料,因?yàn)锳g是可見(jiàn)光波段反射率最高的金屬。但是Ag材料也有明顯的兩個(gè)缺點(diǎn),一是Ag在GaN表面的黏附性較差,容易在芯片后續(xù)制程中很容易發(fā)生脫落,造成芯片的漏電和良率降低;同時(shí)Ag的功函數(shù)只有4.65eV,而p-GaN的功函數(shù)高達(dá)7.5eV,Ag和p-GaN之間存在較大的肖特基勢(shì)壘,即便通過(guò)高溫合金化處理,仍然會(huì)有較高的接觸電阻存在,最終造成較高的正向電壓;其二是由于Ag的物理化學(xué)性質(zhì)十分活潑,會(huì)導(dǎo)致其在300度以上的合金化過(guò)程中發(fā)生擴(kuò)散,團(tuán)簇,氧化等現(xiàn)象,造成Ag反射率的大幅退化,并對(duì)GaN造成破壞,造成芯片光輸出的大幅衰減。因此解決Ag反射鏡黏附性差、熱穩(wěn)定差的問(wèn)題,是提高反射率實(shí)現(xiàn)高光效LED的重要組成部分。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明的目的之一在于提供一種雙插入層反射鏡結(jié)構(gòu)的垂直結(jié)構(gòu)LED芯片,該垂直結(jié)構(gòu)LED芯片改善了Ag基反射鏡黏附性差和熱穩(wěn)定差的問(wèn)題,大幅度提高Ag反射鏡的工藝穩(wěn)定性及反射鏡反射率,進(jìn)而提高了垂直結(jié)構(gòu)LED芯片的良率及光輸出效率。
本發(fā)明的目的之二在于提供一種雙插入層反射鏡結(jié)構(gòu)的垂直結(jié)構(gòu)LED芯片的制備方法,該制備方法采用雙插入層疊層設(shè)計(jì),結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,未使用到貴金屬,在提高性能的同時(shí)極大地節(jié)省了成本。
本發(fā)明的目的之一采用如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
一種雙插入層反射鏡結(jié)構(gòu)的垂直結(jié)構(gòu)LED芯片,包括Si襯底、LED外延片、反射鏡第一插入金屬層、納米Ag反射鏡和反射鏡第二插入金屬層;
所述LED外延片生長(zhǎng)在Si襯底上,所述反射鏡第一插入金屬層生長(zhǎng)在LED外延片表面,所述納米Ag反射鏡生長(zhǎng)在反射鏡第一插入金屬層表面,所述反射鏡第二插入金屬層生長(zhǎng)在納米Ag反射鏡表面;
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