[發(fā)明專利]一種觸摸開關(guān)及皮膚測試儀在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711394752.0 | 申請日: | 2017-12-21 |
| 公開(公告)號: | CN108092656A | 公開(公告)日: | 2018-05-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 麻文山;吳恩豪 | 申請(專利權(quán))人: | 青島海爾科技有限公司 |
| 主分類號: | H03K17/96 | 分類號: | H03K17/96;A61B5/00 |
| 代理公司: | 工業(yè)和信息化部電子專利中心 11010 | 代理人: | 秦瑩 |
| 地址: | 266101 山東省*** | 國省代碼: | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微分波形 觸摸點(diǎn) 金屬 產(chǎn)生電路 觸摸開關(guān) 電壓信號產(chǎn)生電路 皮膚測試儀 轉(zhuǎn)換電路 皮膚 安裝復(fù)雜度 方波產(chǎn)生器 觸發(fā)電容 觸摸按鍵 電壓信號 方波信號 環(huán)境變化 順次連接 微動(dòng)開關(guān) 產(chǎn)生器 接收方 按鍵 | ||
1.一種觸摸開關(guān),其特征在于,包括:轉(zhuǎn)換電路、及在接觸到皮膚時(shí)產(chǎn)生觸發(fā)電容的金屬觸摸點(diǎn),其中,所述轉(zhuǎn)換電路包括順次連接的方波產(chǎn)生器、微分波形產(chǎn)生電路及電壓信號產(chǎn)生電路,所述微分波形產(chǎn)生電路還與所述金屬觸摸點(diǎn)連接,以獲取所述金屬觸摸點(diǎn)在接觸到皮膚時(shí)產(chǎn)生的觸發(fā)電容;
所述方波產(chǎn)生器,用于輸出方波信號;
所述微分波形產(chǎn)生電路,用于接收所述方波信號,在所述金屬觸摸點(diǎn)未接觸到皮膚的情況下,將所述方波信號轉(zhuǎn)換為第一微分波形;在所述金屬觸摸點(diǎn)接觸到皮膚的情況下,將所述方波信號轉(zhuǎn)換為第二微分波形;
所述電壓信號產(chǎn)生電路,用于將所述第一微分波形轉(zhuǎn)換為第一電壓信號/將第二微分波形轉(zhuǎn)換為第二電壓信號。
2.如權(quán)利要求1所述的觸摸開關(guān),其特征在于,所述電壓信號產(chǎn)生電路還用于:當(dāng)由所述第一電壓信號變?yōu)榈诙妷盒盘枙r(shí),發(fā)出開啟信號。
3.如權(quán)利要求1所述的觸摸開關(guān),其特征在于,所述微分波形產(chǎn)生電路包括:第一電容、二極管及觸發(fā)電容接收元件;
所述第一電容與所述方波產(chǎn)生器串聯(lián);所述二極管的負(fù)極連接所述第一電容,正極接地;所述觸發(fā)電容接收元件的一端與所述第一電容連接,另一端與所述金屬觸摸點(diǎn)連接,以獲取所述金屬觸摸點(diǎn)在接觸到皮膚時(shí)產(chǎn)生的觸發(fā)電容。
4.如權(quán)利要求1所述的觸摸開關(guān),其特征在于,所述電壓信號產(chǎn)生電路包括:第一電阻、第二電阻、第二電容及電壓檢測元件;
所述第二電阻和所述第二電容串聯(lián)后與所述第一電阻并聯(lián),所述電壓檢測元件位于所述第二電阻和第二電容之間,用于檢測電壓信號。
5.一種皮膚測試儀,其特征在于,包括:測試探頭、權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的觸摸開關(guān)及與所述觸摸開關(guān)連接的檢測裝置,其中,所述觸摸開關(guān)的金屬觸摸點(diǎn)位于所述測試探頭上;
所述觸摸開關(guān),用于當(dāng)皮膚接觸到所述金屬觸摸點(diǎn)時(shí),發(fā)出開啟信號;
所述檢測裝置,用于當(dāng)接收到所述觸摸開關(guān)發(fā)送的開啟信號時(shí),對皮膚狀態(tài)進(jìn)行測試。
6.如權(quán)利要求5所述的皮膚測試儀,其特征在于:所述檢測裝置包括位于所述測試探頭上的印制電路板走線及第二轉(zhuǎn)換電路,所述印制電路板走線與所述第二轉(zhuǎn)換電路通過引腳連接;
所述印制電路板走線,用于當(dāng)所述測試探頭接觸皮膚時(shí),產(chǎn)生測試電容;
所述第二轉(zhuǎn)換電路,用于根據(jù)所述測試電容得到皮膚狀態(tài)的測試值。
7.如權(quán)利要求6所述的皮膚測試儀,其特征在于,所述印制電路板走線的數(shù)量為兩條,且兩條印制電路板走線相互平行。
8.如權(quán)利要求5所述的皮膚測試儀,其特征在于,所述金屬觸摸點(diǎn)位于所述測試探頭的中心。
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