[發明專利]一種低相噪光頻梳附加噪聲的測量裝置

有效

• 申請號: 201711393166.4
• 申請日: 2017-12-21
• 公開（公告）號: CN108120884B
• 公開（公告）日: 2020-09-18
• 發明（設計）人: 閻棟梁
• 申請（專利權）人: 北京無線電計量測試研究所
• 主分類號: G01R29/26
• 分類號: G01R29/26;G01R23/16
• 代理公司: 北京正理專利代理有限公司 11257
• 代理人: 付生輝

本發明公開了一種低相噪光頻梳附加噪聲的測量裝置，包括：第一光頻梳、第二光頻梳、超穩光源、第一隔離器、第二隔離器、衰減器、第一移相器、耦合器、第一濾波器、第三隔離器、第一放大器、第二濾波器、第二放大器、第二移相器、混頻器、低通濾波器、基帶放大器和FFT測試儀。本發明的低相噪光頻梳附加噪聲的測量裝置為基于自相關法的載波抑制系統，通過載波抑制后，混頻器和低噪聲放大器的噪聲對測量結果沒有影響；并且光電探測器PD的噪聲在測量結果中會被相關去除，對測量結果沒有影響；解決低相噪光頻梳附加噪聲的測量問題。

技術領域

本發明涉及光頻梳技術領域，具體涉及一種低相噪光頻梳附加噪聲的測量裝置。

背景技術

傳統的光頻梳附加噪聲測量技術是采用檢相法，主要包括檢相器、光電探測器PD、低噪聲放大器和第一D采集器等。這種方法通過采用雙平衡混頻器作為檢相器來使用，近載頻光頻梳附加噪聲的測量結果會受到混頻器自身有色噪聲的影響，而且為了使得輸入到混頻器上的信號功率適當，會在光電探測器PD的輸出后加入放大器，這些放大器自身有色噪聲和熱噪聲也會影響光頻梳附加噪聲性能的測量結果。

目前國內光頻梳附加噪聲測量的問題是：1、檢相法中混頻器和低噪聲放大器的噪聲對測量結果有影響；2、檢相法中引入了光電探測器PD的噪聲，對測量結果有影響。

發明內容

為解決上述技術問題，本發明提供一種低相噪光頻梳附加噪聲的測量裝置，解決低相噪光頻梳附加噪聲的測量問題。

為了實現上述目的，本發明采用以下技術方案：

一種低相噪光頻梳附加噪聲的測量裝置，包括：第一光頻梳、第二光頻梳、超穩光源、第一隔離器、第二隔離器、衰減器、第一移相器、耦合器、第一濾波器、第三隔離器、第一放大器、第二濾波器、第二放大器、第二移相器、混頻器、低通濾波器、基帶放大器和FFT測試儀；

第一光頻梳的光參考端與超穩光源的參考輸出1端連接，第一光頻梳的射頻端與第一隔離器的輸入端連接；第一隔離器的輸出端與衰減器的輸入端連接；衰減器的輸出端與耦合器的輸入1端連接；

第二光頻梳的光參考端與超穩光源的參考輸出2端連接，第二光頻梳的射頻端與第二隔離器的輸入端連接；第二隔離器的輸出端與第一移相器的輸入端連接，第一移相器的輸出端與耦合器的輸入2端連接；

耦合器的差分1端與第一濾波器的輸入端連接；第一濾波器的輸出端與第一放大器的輸入端連接；第一放大器的輸出端與混頻器的本振端連接；

耦合器的差分2端與第三隔離器的輸入端連接；第三隔離器的輸出端與第二濾波器的輸入端連接；第二濾波器的輸出端與第二放大器的輸入端連接；第二放大器的輸出端與第二移相器的輸入端連接；第二移相器的輸出端與混頻器的射頻端連接；

混頻器的中頻端與低通濾波器的輸入端連接；低通濾波器的輸出端與基帶放大器的輸入端連接；基帶放大器的輸出端與FFT測試儀連接。

具體的，所述超穩光源與第一光頻梳和第二光頻梳之間的連接通過單模光纖連接。

更具體的，所述第一光頻梳、第二光頻梳、第一隔離器、第二隔離器、衰減器、第一移相器、耦合器、第一濾波器、第三隔離器、第一放大器、第二濾波器、第二放大器、第二移相器、混頻器、低通濾波器、基帶放大器和FFT測試儀之間的連接通過射頻電纜連接。

本發明的有益效果

本發明提供的低相噪光頻梳附加噪聲的測量裝置，解決低相噪光頻梳附加噪聲的測量問題，其具有以下優點：1)、通過載波抑制后，混頻器和低噪聲放大器的噪聲對測量結果沒有影響；2)、基于自相關法的載波抑制系統，光電探測器PD的噪聲在測量結果中會被相關去除，對測量結果沒有影響。

附圖說明

圖1為本發明低相噪光頻梳附加噪聲的測量裝置功能實現示意圖。