[發(fā)明專利]用于檢查材料中的大致圓形孔的方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201711389697.6
• 申請日: 2017-12-20
• 公開（公告）號: CN108205013A
• 公開（公告）日: 2018-06-26
• 發(fā)明（設計）人: R.W.伯格曼;T.J.巴青格爾;T.E.摩爾登豪爾
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: G01N27/90
• 分類號: G01N27/90;G01N29/04
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 郭帆揚;譚祐祥

1.一種用于檢查材料中的大致圓形孔的方法，所述方法包括：

將探針軸向地饋送至所述大致圓形孔中，直至所述探針完全通過所述大致圓形孔，同時所述探針被激活，所述探針包括：

柔性片，其被塑形并被偏置成大致上與所述大致圓形孔的內部的一部分相符合；以及

設置在所述柔性片上的多個傳感器，每個傳感器配置成將無損信號傳送至所述材料中用于檢查所述大致圓形孔；

在所述探針完全饋送通過所述大致圓形孔之后，使所述探針圍繞所述大致圓形孔的主軸旋轉至少九十度；

在使所述探針旋轉至少九十度之后且在所述探針被激活的同時，將所述探針從所述大致上圓形孔中軸向地移除；以及

將由將所述探針軸向地饋送至所述大致圓形孔中并從所述大致圓形孔中軸向地移除所述探針得到的關于所述大致圓形孔的渦流數據或超聲數據中的至少一個進行編譯。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，進一步包括在將所述探針軸向地饋送至所述大致圓形孔中之前校準所述探針。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述校準包括：

將所述探針放置在校準樣品中，所述校準樣品復制所述大致圓形孔的形狀；

從所述探針發(fā)起進入所述校準樣品中的所述無損信號；

將關于所述校準樣品的渦流數據或超聲數據中的至少一個進行編譯；以及

響應于渦流數據或超聲數據中的所述至少一個偏離所述校準樣品的預期渦流或預期超聲響應而調整所述無損信號。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述校準包括：

將所述探針放置在平板附近；

從所述探針發(fā)起進入所述平板中的所述無損信號；

將關于所述平板的渦流數據或超聲數據中的至少一個進行編譯；以及

響應于渦流數據或超聲數據中的所述至少一個偏離所述平板的預期渦流或預期超聲響應而調整所述無損信號。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述探針進一步包括與所述柔性片耦接的探針支架，所述方法進一步包括：

將所述探針支架安裝在所述大致圓形孔附近的所述材料上。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述大致圓形孔是所述材料中的螺栓孔或鉆孔。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述無損信號包括渦流信號和超聲信號中的一個。

8.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述探針中的所述多個傳感器沿著某條線在所述柔性片上延伸。

9.一種用于檢查材料中的大致圓形孔的方法，所述方法包括：

將探針安裝在所述大致圓形孔附近的所述材料上，所述探針包括：

柔性片，其被塑形并被偏置成大致上與所述大致圓形孔的內部的一部分相符合；

設置在所述柔性片上的多個傳感器，每個傳感器用于將無損信號傳送至所述材料中用于檢查所述大致圓形孔；以及

與所述柔性片耦接的探針底座，所述探針底座用于安裝在所述材料上；

激活所述探針；

在將所述柔性片插入至所述大致圓形孔中并激活所述探針之后，使所述柔性片圍繞所述大致圓形孔的主軸旋轉至少三百六十度；

從所述大致圓形孔中移除所述柔性片；以及

將來自于所述柔性片在所述大致圓形孔內的旋轉期間收集的渦流數據或超聲數據中的至少一個的關于所述孔的渦流數據或超聲數據中的至少一個進行編譯。

10.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，進一步包括在將所述探針安裝在所述大致圓形孔附近的所述材料上之前校準所述探針。