[發明專利]一種X射線晶體取向以及殘余應力測定裝置在審
| 申請號： | 201711386224.0 | 申請日： | 2017-12-20 |
| 公開（公告）號： | CN108195859A | 公開（公告）日： | 2018-06-22 |
| 發明（設計）人： | 宮聲凱;尚勇;裴延玲;李樹索 | 申請（專利權）人： | 北京航空航天大學 |
| 主分類號： | G01N23/207 | 分類號： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 北京高沃律師事務所 11569 | 代理人： | 王戈 |
| 地址： | 100000*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 機械手 半環 取向 測定裝置 測距儀 三軸聯動平臺 抓取 軌道 晶體的 偏離 殘余應力測定 計算機控制 殘余應力 全自動化 釋放 線對稱 標定 測量 掃描 流水 計算機 | ||
1.一種X射線晶體取向測定裝置，其特征在于，所述測定裝置包括機械手、X射線發射器、X射線接收器、三軸聯動平臺、半環軌道、測距儀和計算機；
所述機械手用于抓取和釋放晶體以及用于所述晶體的轉動和擺動；
所述半環軌道位于所述機械手的下方，所述半環軌道用于設置所述X射線發射器和所述X射線發射器的空間姿態；
所述X射線發射器位于所述半環軌道上，所述X射線發射器用于發射X射線；
所述X射線接收器位于所述半環軌道上，所述X射線接收器用于接收X射線發射器發出的X射線；所述X射線發射器和所述X射線接收器關于所述半環軌道的主軸線對稱；
所述三軸聯動平臺位于所述半環軌道的下方，所述三軸聯動平臺用于調整所述X射線發射器與X射線接收器與所述晶體的距離；
所述測距儀位于所述半環軌道上，所述測距儀用于保證所述晶體與X射線光路測定點始終在所述測定晶體表面上；
所述計算機與所述機械手連接，所述計算機用于控制所述機械手完成抓取晶體和釋放晶體的動作以及掃描所述晶體偏離不同取向的角度以及完成對晶殘余應力的分析。
2.根據權利要求1所述的一種X射線晶體取向測定裝置，其特征在于，所述測定裝置還包括一個伺服電機，所述伺服電機分別與所述X射線發射器和所述X射線接收器連接，用于調整所述X射線發射器與所述晶體的角度和用于調整所述X射線接收器與所述晶體的角度。
3.根據權利要求1所述的一種X射線晶體取向測定裝置，其特征在于，所述測定裝置還包括第一伺服電機和第二伺服電機，所述第一伺服電機和所述X射線發射器連接，用于調整所述X射線發射器和所述晶體的角度；所述第二伺服電機和所述X射線接收器連接，用于調整所述X射線接收器和所述晶體的角度。
4.根據權利要求1所述的一種X射線晶體取向測定裝置，其特征在于，所述測定裝置還包括第一基板，所述第一基板包括第一臺階和第二臺階，所述第一臺階的高度大于所述第二臺階的高度，所述第一臺階上設置所述機械手，所述第二臺階上設置所述三軸聯動平臺。
5.根據權利要求1所述的一種X射線晶體取向測定裝置，其特征在于，所述測定裝置還包括第二基板，所述第二基板設置于所述三軸聯動平臺上，所述第二基板上設置所述半環軌道。
6.根據權利要求1所述的一種X射線晶體取向測定裝置，其特征在于，所述機械手為六軸機械手，所述六軸機械手上包含配套的氣動爪。
7.根據權利要求1所述的一種X射線晶體取向測定裝置，其特征在于，所述機械手的俯仰角范圍是-30°～﹢60°。
8.根據權利要求1所述的一種X射線晶體取向測定裝置，其特征在于，所述X射線發射器的功率值低于20W。
9.根據權利要求1所述的一種X射線晶體取向測定裝置，其特征在于，所述測距儀為紅外線測距儀，所述測距儀用于自動尋找所述晶體表面待測位置。
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