[發(fā)明專(zhuān)利]可切換式3D模組的不良檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711385787.8
• 申請(qǐng)日: 2017-12-20
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN108267453B
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-05-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 潘志宇;孫暉;錢(qián)靜嫻;周?chē)[
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 張家港康得新光電材料有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01N21/88
• 分類(lèi)號(hào): G01N21/88
• 代理公司: 北京品源專(zhuān)利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

本發(fā)明提供了一種可切換式3D模組的不良檢測(cè)方法。該檢測(cè)方法分別采用三種不同的不良區(qū)域檢測(cè)步驟對(duì)3D模組的不良區(qū)域進(jìn)行檢查，并通過(guò)分別對(duì)上述三種檢測(cè)步驟檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行邏輯判斷，相比于現(xiàn)有技術(shù)中僅采用一種檢測(cè)方式的檢測(cè)方法，提高了檢測(cè)精度，使檢測(cè)到的均為表面劃傷、內(nèi)部缺陷等真實(shí)不良，有效避免了漏檢和過(guò)檢等非真實(shí)不良的情況。經(jīng)過(guò)實(shí)踐驗(yàn)證，本申請(qǐng)的檢測(cè)方法所提供的檢測(cè)結(jié)果可靠性較高。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種可切換式3D模組的不良檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)于可切換式3D模組(3D Cell)，在進(jìn)行不良檢驗(yàn)時(shí)通常進(jìn)行人工檢查或采用自動(dòng)光學(xué)檢查技術(shù)。上述自動(dòng)光學(xué)檢查技術(shù)通常包括兩種方式：1)在可切換式3D模組上方直接放置能夠采集光線強(qiáng)度的相機(jī)(如CCD相機(jī))，以采集3D模組的光學(xué)圖像，從而通過(guò)判斷光學(xué)圖像中存在的灰階來(lái)判斷3D模組中是否存在不良區(qū)域；2)在相機(jī)與3D模組之間加一張偏光片，由于穿過(guò)3D Cell的出射光為偏振光，從而通過(guò)該偏光片能夠通過(guò)相機(jī)觀察到全黑圖像，若此時(shí)3D Cell中存在不良區(qū)域，該不良區(qū)域就會(huì)影響該部分的液晶配像，從而改變通過(guò)3D Cell的光線偏振方向，進(jìn)而與周?chē)尸F(xiàn)灰階差異，然后通過(guò)相機(jī)獲取光學(xué)圖像，并通過(guò)算法識(shí)別出存在灰階差異部分，就能夠分辨出3D Cell中存在的不良區(qū)域，如圖1所示。

上述可切換式裸眼3D的最終產(chǎn)品的組成方式是將3D Cell貼合在液晶顯示模塊(LCM)表面，不良檢查時(shí)需要以無(wú)偏光片人員檢出為準(zhǔn)。然而，上述3D模組的檢測(cè)方法存在以下問(wèn)題：檢測(cè)時(shí)是在3D Cell上直接架設(shè)相機(jī)拍攝，由于相機(jī)的傳感器與產(chǎn)品結(jié)構(gòu)間會(huì)產(chǎn)生干涉，從而會(huì)導(dǎo)致3D Cell中的部分不良表現(xiàn)輕微，進(jìn)而導(dǎo)致漏檢；并且，在將自動(dòng)光學(xué)檢查技術(shù)結(jié)合偏光片的測(cè)試方法中，需要將相機(jī)前的偏光片旋轉(zhuǎn)至全黑，此時(shí)不良表現(xiàn)會(huì)更加明顯，從而易導(dǎo)致部分裸視條件下表現(xiàn)較輕微或不可見(jiàn)的不良也會(huì)被檢出，進(jìn)而導(dǎo)致過(guò)檢。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的在于提供一種可切換式3D模組的不良檢測(cè)方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中3D模組的檢測(cè)方法存在漏檢和過(guò)檢的問(wèn)題。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種可切換式3D模組的不良檢測(cè)方法，包括相互獨(dú)立實(shí)施的以下步驟：a，在環(huán)境光或自然光下檢查3D模組的表面是否存在不良區(qū)域；b，采集從二次元影像顯示組件發(fā)射并穿過(guò)3D模組的第一光線得到第一光學(xué)圖像，并得到第一光學(xué)圖像的灰階，進(jìn)而根據(jù)灰度差異判斷3D模組內(nèi)是否存在不良區(qū)域及不良區(qū)域的位置；c，采集從二次元影像顯示組件發(fā)射并依次穿過(guò)3D模組及偏光片后的第二光線得到第二光學(xué)圖像，并得到第二光學(xué)圖像的灰階，進(jìn)而根據(jù)灰度差異判斷3D模組內(nèi)是否存在不良區(qū)域及不良區(qū)域的位置，當(dāng)在步驟a中檢測(cè)出不良區(qū)域時(shí)，判斷3D模組存在真實(shí)不良；當(dāng)在步驟a中未檢測(cè)出不良區(qū)域而在步驟b中檢測(cè)出不良區(qū)域時(shí)，判斷3D模組存在真實(shí)不良；當(dāng)在步驟a和步驟b中均未檢測(cè)出不良區(qū)域而在步驟c中檢測(cè)出不良區(qū)域時(shí)，判斷3D模組的不良區(qū)域?yàn)榉钦鎸?shí)不良。

進(jìn)一步地，步驟a包括以下過(guò)程：采用光學(xué)檢測(cè)設(shè)備對(duì)3D模組進(jìn)行人工外觀檢查。

進(jìn)一步地，3D模組包括相對(duì)的第一表面和第二表面，步驟a包括以下過(guò)程：采集被第一表面反射的第三光線得到第三光學(xué)圖像，并得到第三光學(xué)圖像的灰階，進(jìn)而根據(jù)灰度差異判斷3D模組內(nèi)是否存在不良區(qū)域及不良區(qū)域的位置；采集被第二表面反射的第四光線得到第四光學(xué)圖像，并得到第四光學(xué)圖像的灰階，進(jìn)而根據(jù)灰度差異判斷3D模組內(nèi)是否存在不良區(qū)域及不良區(qū)域的位置。

進(jìn)一步地，步驟c中的第二光學(xué)圖像為全黑圖像。

進(jìn)一步地，步驟c包括以下過(guò)程：S1，調(diào)節(jié)偏光片，使圖像采集設(shè)備采集到全黑圖像，并記錄全黑圖像；S2，得到全黑圖像的灰階，并根據(jù)灰度差異，判斷3D模組內(nèi)是否存在不良區(qū)域及不良區(qū)域的位置。

進(jìn)一步地，偏光片為鏡面線偏光片。