[發明專利]閃存芯片的性能測試方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 201711384655.3
• 申請日: 2017-12-20
• 公開（公告）號: CN108133732B
• 公開（公告）日: 2021-05-25
• 發明（設計）人: 劉凱
• 申請（專利權）人: 北京兆易創新科技股份有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種閃存芯片的性能測試方法，其特征在于，包括：

基于預設的選取規則選取閃存芯片的性能測試樣本，根據所述性能測試樣本對所述閃存芯片進行編程/擦除測試；

當檢測到所述編程/擦除測試完成時，根據所述性能測試樣本對所述閃存芯片進行讀干擾測試；

當檢測到所述讀干擾測試完成時，根據所述性能測試樣本對所述閃存芯片進行數據保留測試；

所述基于預設的選取規則選取閃存芯片的性能測試樣本，包括：獲取閃存芯片的各存儲翼中編號相同的存儲塊作為一組目標存儲塊集合；獲取至少兩組編號互不連續的目標存儲塊集合作為性能測試樣本；

所述根據所述性能測試樣本對所述閃存芯片進行編程/擦除測試，包括：

根據預先設置的各組所述目標存儲塊集合的目標編程/擦除次數，確定各組目標編程/擦除次數之間的對應關系；所述各組目標編程/擦除次數不同；

根據所述對應關系確定各所述存儲塊的擦除順序，依照所述擦除順序對所述閃存芯片進行編程/擦除測試；

其中，不同所述存儲塊中每次編程/擦除中寫入的數據不同，且同一所述存儲塊在每次編程/擦除時寫入的數據不同；

所述根據所述性能測試樣本對所述閃存芯片進行讀干擾測試，包括：

讀取所述性能測試樣本中各所述存儲塊中的數據；

當檢測到所述性能測試樣本中各所述存儲塊中的數據均完成一次讀操作時，則確認所述閃存芯片完成一次讀循環；

如果檢測到當前讀循環的次數達到預設的讀循環閾值，則獲取讀取錯誤的比特位數的數目，并進行記錄；

返回執行讀取所述性能測試樣本中各所述存儲塊中的數據的操作，直至當前讀循環次數達到預設的最高讀循環次數；

所述根據所述性能測試樣本對所述閃存芯片進行數據保留測試包括：

將所述性能測試樣本放置于達到預設溫度的環境中，記錄所述閃存芯片中數據保留的時間。

2.一種閃存芯片的性能測試裝置，其特征在于，包括：

編程/擦除測試模塊，用于基于預設的選取規則選取閃存芯片的性能測試樣本，根據所述性能測試樣本對所述閃存芯片進行編程/擦除測試；

讀干擾測試模塊，用于當檢測到所述編程/擦除測試完成時，根據所述性能測試樣本對所述閃存芯片進行讀干擾測試；

數據保留測試模塊，用于當檢測到所述讀干擾測試完成時，根據所述性能測試樣本對所述閃存芯片進行數據保留測試；

所述編程/擦除測試模塊還用于：

獲取閃存芯片的各存儲翼中編號相同的存儲塊作為一組目標存儲塊集合；

獲取至少兩組編號互不連續的目標存儲塊集合作為性能測試樣本；

所述數據保留測試模塊，還用于將所述性能測試樣本放置于達到預設溫度的環境中，記錄所述閃存芯片中數據保留的時間；

所述編程/擦除測試模塊還用于：

根據預先設置的各組所述目標存儲塊集合的目標編程/擦除次數，確定各組目標編程/擦除次數之間的對應關系；所述各組目標編程/擦除次數不同；

根據所述對應關系確定各所述存儲塊的擦除順序，依照所述擦除順序對所述閃存芯片進行編程/擦除測試；

其中，不同所述存儲塊中每次編程/擦除中寫入的數據不同，且同一所述存儲塊在每次編程/擦除時寫入的數據不同；

所述裝置中的讀干擾測試模塊還用于：

讀取所述性能測試樣本中各所述存儲塊中的數據；當檢測到所述性能測試樣本中各所述存儲塊中的數據均完成一次讀操作時，則確認所述閃存芯片完成一次讀循環；

如果檢測到當前讀循環的次數達到預設的讀循環閾值，則獲取讀取錯誤的比特位數的數目，并進行記錄；返回執行讀取所述性能測試樣本中各所述存儲塊中的數據的操作，直至當前讀循環次數達到預設的最高讀循環次數。

3.一種電子設備，其特征在于，所述設備包括：

一個或多個處理器；

存儲裝置，用于存儲一個或多個程序，

當所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執行，使得所述一個或多個處理器實現如權利要求1所述的閃存芯片的性能測試方法。

4.一種包含計算機可執行指令的存儲介質，其特征在于，所述計算機可執行指令在由計算機處理器執行時用于執行如權利要求1所述的閃存芯片的性能測試方法。