[發(fā)明專利]一種低耗受熱歷史顯示器及其制備和使用方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711380117.7 | 申請(qǐng)日： | 2017-12-20 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN108107023A | 公開（公告）日： | 2018-06-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 趙華;張景文 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 哈爾濱工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào)： | G01N21/59 | 分類號(hào)： | G01N21/59;C04B35/491;C04B35/50;C04B35/472;C04B35/465 |
| 代理公司： | 哈爾濱市文洋專利代理事務(wù)所(普通合伙) 23210 | 代理人： | 王艷萍 |
| 地址： | 150001 黑龍*** | 國省代碼： | 黑龍江;23 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 受熱歷史 顯示器 制備 薄膜 弛豫鐵電陶瓷 透射率 漂白 多塊 被測(cè)物體 監(jiān)控物品 切割拋光 陶瓷陣列 陶瓷片 體塊 制法 下放 測(cè)試 曝光 透明 | ||
1.一種低耗受熱歷史顯示器，其特征在于該漫反射式低耗受熱歷史顯示器由下底薄膜(1)、上底薄膜(2)和多塊弛豫鐵電陶瓷片(3)組成；
其中多塊弛豫鐵電陶瓷片(3)排列成一維陣列或二維陣列，一維陣列是按照弛豫鐵電陶瓷片的居里溫度從低到高或從高到低的順序排列的；二維陣列中各行從左至右弛豫鐵電陶瓷片的居里溫度從低到高，二維陣列中相鄰兩行的下一行的第一片弛豫鐵電陶瓷片的居里溫度高于前一行的任意一片；
同時(shí)多塊弛豫鐵電陶瓷片(3)是經(jīng)過波長(zhǎng)為300nm～450nm的超帶隙的紫外光至近帶隙的短波可見光曝光處理過的；
弛豫鐵電陶瓷片(3)粘貼在下底薄膜(1)上；
上底薄膜(2)覆蓋在多塊弛豫鐵電陶瓷片(3)之上；
下底薄膜(1)和上底薄膜(2)導(dǎo)熱且對(duì)紫外光和可見光不通透。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種低耗受熱歷史顯示器，其特征在于所述的弛豫鐵電陶瓷體片(3)為非透明的弛豫鐵電陶瓷或透明的弛豫鐵電陶瓷。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種低耗受熱歷史顯示器，其特征在于所述的非透明的弛豫鐵電陶瓷為鋯鈦酸鉛鐵電陶瓷Pb(Zr
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種低耗受熱歷史顯示器，其特征在于所述透明的弛豫鐵電陶瓷為鋯鈦鈮鐿酸鉛鑭Pb
5.根據(jù)權(quán)利要求1、2、3或4所述的一種低耗受熱歷史顯示器，其特征在于弛豫鐵電陶瓷片(3)經(jīng)波長(zhǎng)為300nm～450nm的超帶隙的紫外光到近帶隙的短波可見光進(jìn)行曝光處理后，透明弛豫鐵電陶瓷片的紫外輻射所致透射率下降30％～60％，非透明弛弛豫鐵電陶瓷片的紫外輻射所致漫反射率下降10％～40％。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
