[發明專利]一種發光材料的檢測方法

在審

• 申請號: 201711379300.5
• 申請日: 2017-12-20
• 公開（公告）號: CN108181332A
• 公開（公告）日: 2018-06-19
• 發明（設計）人: 谷亞男
• 申請（專利權）人: 大連智訊科技有限公司
• 主分類號: G01N23/207
• 分類號: G01N23/207;G01N21/64;G01N21/25;G01N1/28
• 代理公司: 盤錦大工智訊專利代理事務所(特殊普通合伙) 21244
• 代理人: 徐淑東;崔雪

本發明提供一種發光材料的檢測方法，包括：(1)取待測的發光材料，進行研磨；(2)對發光材料進行XRD檢測：將研磨后的發光材料置于XRD檢測儀中進行檢測，得到發光材料的XRD圖譜，將XRD圖譜與標準卡片進行比對，確定發光材料的基質成分；(3)對發光材料進行激發光譜檢測：將研磨后的發光材料置于熒光光譜儀中進行激發光譜檢測，得到發光材料的激發光譜；(4)對發光材料進行發射光譜檢測：將研磨后的發光材料置于熒光光譜儀中進行發射光譜檢測，得到發光材料的發射光譜；(5)對發光材料的激發光譜和發射光譜進行分析，確定發光材料的摻雜成分以及發光性質。本發明方法能夠減小發光材料檢測誤差、提高實驗效率。

技術領域

本發明涉及發光材料技術領域，尤其涉及一種發光材料的檢測方法。

背景技術

當今的發光材料和激光材料的研究，在國民經濟及國家安全的實際應用中，占主導和最重要地位。在進入新世紀后，稀土發光材料科學和技術成為今后占主導地位的平板顯示，第四代新照明光源，現代醫療電子設備，更先進的光纖通信等高新技術的發展和創新可靠的依據和保證。LED半導體發光二極管(LED)具有發光效率高、節能、無污染、壽命長、體積小、質量輕等優點，是最被看好的新一代固態照明產品，在照明市場具有很大的發展潛力。發光材料可應用于LED半導體發光二極管中。

但是，對于新研制發光材料的表征和檢測分析還存在一定的困難。

發明內容

本發明主要針對上述技術問題，提出一種發光材料的檢測方法，能夠減小發光材料檢測誤差、排除實驗干擾，提高實驗效率，為發光材料的成分、發光性能的分析提供可靠的依據。

本發明提供了一種發光材料的檢測方法，包括：

(1)取待測的發光材料，進行研磨；

(2)對發光材料進行XRD檢測：將研磨后的發光材料置于XRD檢測儀中進行檢測，得到發光材料的XRD圖譜，將XRD圖譜與標準卡片進行比對，確定發光材料的基質成分；

(3)對發光材料進行激發光譜檢測：將研磨后的發光材料置于熒光光譜儀中進行激發光譜檢測，得到發光材料的激發光譜；

(4)對發光材料進行發射光譜檢測：將研磨后的發光材料置于熒光光譜儀中進行發射光譜檢測，得到發光材料的發射光譜；

(5)對發光材料的激發光譜和發射光譜進行分析，確定發光材料的摻雜成分以及發光性質。

優選的，所述XRD檢測儀的工作參數為：

使用金屬Cu靶(輻射源為K線，λ＝0.15406nm)作為陽極，儀器陽極加速電壓設置為40KV，工作電流為30mA，掃描速度為2°/min，選用的2θ角掃描步長為0.02°，測量的2θ角度范圍為20°～60°。

優選的，所述熒光光譜儀的工作參數為：

用150W的氙燈作為激發光源，R928光電倍增管作為檢測器，分辨率為1.0nm，掃描速度為2400nm/min。

優選的，還包括：根據發光材料的激發光譜和發射光譜得到發光材料的色坐標，以進行發光材料的色度學分析。

本發明提供的一種發光材料的檢測方法，本發明方法簡單、成本低廉，能夠減小發光材料檢測誤差、排除實驗干擾，提高實驗效率，為發光材料的成分、發光性能的分析提供可靠的依據。

具體實施方式

為使本發明解決的技術問題、采用的技術方案和達到的技術效果更加清楚，下面結合實施例對本發明作進一步的詳細說明。可以理解的是，此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋本發明，而非對本發明的限定。

本發明提供了一種發光材料的檢測方法，包括：

(1)取待測的發光材料，進行研磨；