[發(fā)明專利]一種電壓暫降耐受能力的二分法測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711374527.0 | 申請日： | 2017-12-19 |
| 公開（公告）號： | CN108089106B | 公開（公告）日： | 2019-02-19 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 汪穎;肖先勇;桂良宇;李長松 | 申請（專利權(quán)）人： | 四川大學 |
| 主分類號： | G01R31/12 | 分類號： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 成都信博專利代理有限責任公司 51200 | 代理人： | 劉凱 |
| 地址： | 610065 四川*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 測試 最大持續(xù) 電壓暫降 二分法 耐受能力 耐受能力測試 測試設(shè)備 設(shè)備電壓 設(shè)備故障 受測設(shè)備 停止測試 時間點 減小 耐受 工作量 保證 | ||
本發(fā)明公開一種電壓暫降耐受能力的二分法測試方法，先確定一個電壓暫降幅值，測試設(shè)備在該幅值下最大持續(xù)時間情況下的故障情況：若在最大持續(xù)時間情況下設(shè)備不故障，則認定該設(shè)備耐受此幅值的電壓暫降，停止測試；若在最大持續(xù)時間情況下設(shè)備故障，最小持續(xù)時間點設(shè)備正常，則下一個測試持續(xù)時間為最大持續(xù)時間與最小持續(xù)時間的中值；以此類推，下一個測試持續(xù)時間為受測設(shè)備本次測試持續(xù)時間與上一次不同狀態(tài)的測試持續(xù)時間的中值，直到
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電壓降耐受能力測試技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種電壓暫降耐受能力的二分法測試方法。
背景技術(shù)
電氣化被稱為20世紀最偉大的工程成就，電網(wǎng)也被稱為是世界上最復雜的人造網(wǎng)絡(luò)，在目前已經(jīng)被認為是生活的最基本條件。如今的供電電能質(zhì)量一般都滿足了普通消費者的需求，但仍然可能會因為時間或者地區(qū)的不同而發(fā)生重大變化，這造成了電壓中斷或者電壓異常會時常發(fā)生，雖然在某些地方人們也是接受這種情況。然而，在當今高度發(fā)達的工業(yè)和數(shù)字經(jīng)濟時代，生產(chǎn)過程對電能質(zhì)量有著更高的要求。這些客戶要求有更高的電能質(zhì)量和更可靠的電能供應(yīng)，他們希望能夠減少電壓中斷和其他的電能質(zhì)量擾動。但是即使在現(xiàn)如今最為高度發(fā)達的電力系統(tǒng)中，電能質(zhì)量擾動仍然時有發(fā)生，這些電能質(zhì)量擾動對于某些用戶有著顯著影響。現(xiàn)代電力系統(tǒng)存在著電壓中斷、電壓暫降、電壓暫升、過電壓、諧波、閃變和其他許多電能質(zhì)量事件和擾動等問題。
當今社會最為顯著的電能質(zhì)量問題就是電壓暫降，電壓暫降對高科技產(chǎn)業(yè)有很大的影響，因為當其經(jīng)受電壓暫降時，相關(guān)過程控制系統(tǒng)可能被中斷，從而造成用戶的巨大損失。美國電力研究協(xié)會研究表明單相電壓暫降會導致生產(chǎn)商成千上萬的經(jīng)濟損失。連接到電網(wǎng)的電力電子設(shè)備具有不同程度的電壓暫降敏感度。設(shè)備的敏感度主要由兩個主要因素確定：設(shè)備的設(shè)計和電壓暫降的物理特性。所以需要有一套系統(tǒng)精確的電壓耐受能力測試方法。
按照《IEEE STD 1668-2014》標準，其包含自上而下、自左至右和封閉式三種測試方法，但其規(guī)定的測試計劃略少，無法滿足精確測試的要求；即使是添加測試計劃，也是人為選定，對測試結(jié)果精確度的提升很小。C4.110工作組推薦測試方法則是對固定的幾個點進行測試，仍然存在精確度不夠的問題。另外有學者提出逐步測試的方法，幅值從0V開始以1％的步長增加，時間從0ms開始測試，此種測試方法得出測試結(jié)果較為精確，但是其工作量太大，因為很多不必要的測試點可以略去。
《IEEE STD 1668-2014》標準中給定了測試計劃的示例參數(shù)，如下：
a)最大電壓幅值：85％標稱值；
b)最小電壓幅值：0％標準值；
c)最大持續(xù)時間：2s；
d)最小持續(xù)時間：0.02s；
e)幅值步長：5％標稱值(18步)；
f)持續(xù)時間預定值：2s、1s、0.5s、0.2s、0.1s、0.05s和0.02s(七個循環(huán))。
1)《IEEE STD 1668-2014》自上至下測試方法：這個電壓暫降測試方法是保持電壓暫降時間不變，電壓暫降幅值從設(shè)定的最大值(測試計劃中規(guī)定)到最小值變化(也如測試計劃中規(guī)定)，直到電壓暫降幅值到最小值或者受試設(shè)備發(fā)生故障。此后，電壓暫降持續(xù)時間減小到下一個預定值，電壓暫降幅值重復上述做法。在電壓暫降持續(xù)時間循環(huán)內(nèi)的暫降幅值下降，直到所有預設(shè)的持續(xù)時間都測完。其流程圖如圖1所示。
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