[發(fā)明專利]一種光發(fā)射器調(diào)試裝置及其調(diào)試方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711374048.9 | 申請日: | 2017-12-19 |
| 公開(公告)號: | CN108170109A | 公開(公告)日: | 2018-06-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 楊國民;王亞麗;袁航空 | 申請(專利權(quán))人: | 武漢恒泰通技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G05B19/418 | 分類號: | G05B19/418;H04B10/07 |
| 代理公司: | 北京眾合誠成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11246 | 代理人: | 徐楊松 |
| 地址: | 430000 湖北省武漢市東湖新*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光發(fā)射器 調(diào)試 光模塊 參數(shù)檢測模塊 物料數(shù)據(jù)庫 調(diào)試裝置 測試板 光器件 上位機 測試 圖儀 企業(yè)數(shù)據(jù)管理 發(fā)射器 參數(shù)檢測 參數(shù)信息 讀取測試 保存 寫入 入庫 查詢 制造 生產(chǎn) | ||
本發(fā)明涉及一種光發(fā)射器調(diào)試裝置及其調(diào)試方法,包括上位機、參數(shù)檢測模塊、物料數(shù)據(jù)庫、ERP系統(tǒng)、測試板和眼圖儀,參數(shù)檢測模塊用于光模塊產(chǎn)品所用光器件入庫時的參數(shù)檢測;物料數(shù)據(jù)庫用于保存光模塊產(chǎn)品所用光器件的參數(shù)信息,ERP系統(tǒng)用于保存企業(yè)數(shù)據(jù)管理信息;測試板用于對光發(fā)射器進行調(diào)試測試,眼圖儀用于讀取測試板的測試值;上位機用于根據(jù)光模塊產(chǎn)品的制造單號查詢所述ERP系統(tǒng)內(nèi)對應(yīng)的BOM清單,并從所述BOM清單中獲取光發(fā)射器的批號。本發(fā)明的有益效果是:通過在光發(fā)射器內(nèi)寫入其真實測試值的方式進行調(diào)試,無需循環(huán)或只需少量的循環(huán),即可完成光發(fā)射器的調(diào)試工序,從而縮短了生產(chǎn)工時。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光通信技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種光發(fā)射器調(diào)試裝置及其調(diào)試方法。
背景技術(shù)
隨著光通信行業(yè)的快速發(fā)展,數(shù)據(jù)通信、I P通信、語音通信的三網(wǎng)融合加速,光模塊的需求與日俱增,但是,光模塊的采購價格卻越來越低,光模塊制造商面臨的成本壓力也越來越大。
光模塊的成本構(gòu)成一般有三部分,即設(shè)計成本、物料成本和制造成本,光模塊的方案現(xiàn)在都比較成熟,因此,設(shè)計成本較低,可選的方案都比較透明,因此物料成本比較固定,差異在于制造成本,最大的區(qū)別就是制造成本。
光發(fā)射器的調(diào)試和測試是整個光模塊生產(chǎn)中最關(guān)鍵的部分,是最為花費工時的。現(xiàn)有手工調(diào)試的情況,一般是對著儀表,一點點調(diào)試;有條件采用自動調(diào)試的,一般的做法是,根據(jù)芯片方案能提供的參數(shù)范圍,每次進行1/2的逼近,然而這些調(diào)試方法針對性不強,比較費時,需要較多的循環(huán)次數(shù),因此,總工時難以控制下來,光模塊的制造成本自然就上升了。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是針對現(xiàn)有光發(fā)射器調(diào)試和測試費時而導(dǎo)致光模塊的制造成本高的缺陷,提供一種光發(fā)射器調(diào)試裝置及其調(diào)試方法。
本發(fā)明解決上述技術(shù)問題的技術(shù)方案如下:
依據(jù)本發(fā)明的一個方面,提供一種光發(fā)射器調(diào)試裝置,包括上位機、參數(shù)檢測模塊、物料數(shù)據(jù)庫、ERP系統(tǒng)、測試板和眼圖儀,所述參數(shù)檢測模塊的信號輸出端與所述物料數(shù)據(jù)庫的信號輸入端連接,所述物料數(shù)據(jù)庫、所述ERP系統(tǒng)、所述測試板和所述眼圖儀分別與所述上位機連接;所述測試板還與所述眼圖儀連接;
所述參數(shù)檢測模塊用于光模塊產(chǎn)品所用光器件入庫時的參數(shù)檢測,獲得的檢測參數(shù)作為光模塊產(chǎn)品所用光器件調(diào)試測試時的測試參數(shù);所述物料數(shù)據(jù)庫用于保存光模塊產(chǎn)品所用光器件的參數(shù)信息,其中所述參數(shù)信息包括與所述測試參數(shù)相對應(yīng)的流水號;所述ERP系統(tǒng)用于保存企業(yè)數(shù)據(jù)管理信息,其中所述企業(yè)數(shù)據(jù)管理信息包括光模塊產(chǎn)品的BOM清單、調(diào)試目標(biāo)值及所述測試參數(shù);所述測試板用于對光發(fā)射器進行調(diào)試測試;所述眼圖儀用于讀取所述測試板的測試值;
所述上位機用于根據(jù)光模塊產(chǎn)品的制造單號查詢所述ERP系統(tǒng)內(nèi)對應(yīng)的BOM清單及調(diào)試目標(biāo)值,并從所述BOM清單中獲取光發(fā)射器的批號;所述上位機還用于根據(jù)所述批號查詢所述物料數(shù)據(jù)庫,獲取光發(fā)射器的的流水號,并從所述ERP系統(tǒng)中調(diào)取與所述流水號相對應(yīng)的測試參數(shù);所述上位機將所述測試參數(shù)寫入光發(fā)射器,并控制所述測試板對光發(fā)射器進行調(diào)試測試;所述上位機還用于讀取所述眼圖儀上的當(dāng)前測試值C,并將所述當(dāng)前測試值C與調(diào)試目標(biāo)值相比較,若當(dāng)前測試值C與調(diào)試目標(biāo)值不一致,則所述上位機還用于計算并設(shè)置光發(fā)射器的調(diào)整測試值。
本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明利用參數(shù)檢測模塊檢測光模塊產(chǎn)品所用光器件的參數(shù),并在光發(fā)射器調(diào)試裝置中結(jié)合物料數(shù)據(jù)庫和ERP系統(tǒng),充分利用物料數(shù)據(jù)庫中的光模塊產(chǎn)品所用光器件的參數(shù)信息,以及ERP系統(tǒng)中的企業(yè)數(shù)據(jù)管理信息,通過在光發(fā)射器內(nèi)寫入其真實測試參數(shù)的方式進行調(diào)試,無需循環(huán)或只需少量的循環(huán),即可完成光發(fā)射器的調(diào)試工序,從而提高了生產(chǎn)效率,縮短了生產(chǎn)工時,減少了制造成本。
在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上,本發(fā)明還可以做如下改進。
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