[發(fā)明專利]用于遠(yuǎn)程等離子體處理的室調(diào)節(jié)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711372325.2 | 申請日: | 2017-12-19 |
| 公開(公告)號: | CN108461374B | 公開(公告)日: | 2021-06-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王德琪;劉剛;阿南德·查德拉什卡;楊宗翰;約翰·W·格里斯沃爾德 | 申請(專利權(quán))人: | 朗姆研究公司 |
| 主分類號: | H01J37/32 | 分類號: | H01J37/32;C23C16/02 |
| 代理公司: | 上海勝康律師事務(wù)所 31263 | 代理人: | 樊英如;邱曉敏 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 遠(yuǎn)程 等離子體 處理 調(diào)節(jié) | ||
本發(fā)明涉及用于遠(yuǎn)程等離子體處理的室調(diào)節(jié)。本文描述的方法、系統(tǒng)和裝置涉及用于遠(yuǎn)程等離子體處理的室調(diào)節(jié),特別地涉及遠(yuǎn)程的基于氮的等離子體處理。本公開的某些實(shí)現(xiàn)方式涉及用于特征填充的包括室調(diào)節(jié)的遠(yuǎn)程等離子體抑制處理。本公開的實(shí)施方式涉及在襯底(諸如半導(dǎo)體晶片)的基于氮的遠(yuǎn)程等離子體處理之前將遠(yuǎn)程等離子體處理室暴露于氟物質(zhì)。晶片內(nèi)均勻性和晶片間均勻性得到改善。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體制造工藝,更具體地涉及用于遠(yuǎn)程等離子體處理的室調(diào)節(jié)。
背景技術(shù)
用各種材料填充接觸孔、溝槽線和其他特征是半導(dǎo)體制造工藝的不可分割的一部分。例如,為了形成水平互連、相鄰金屬層之間的通孔、第一金屬層和器件之間的接觸,可以使用化學(xué)氣相沉積(CVD)技術(shù)來沉積諸如鎢之類的金屬。在傳統(tǒng)的沉積工藝中,在沉積室中將襯底加熱到預(yù)定的工藝溫度,并沉積用作晶種或成核層的含鎢材料的薄層。之后,剩余的含鎢材料(體層)沉積在成核層上。常規(guī)地,通過用氫氣(H2)還原六氟化鎢(WF6)來形成含鎢材料。含鎢材料被沉積在襯底的包括特征和場區(qū)域的整個暴露表面區(qū)域上。
將材料沉積到成小的且高深寬比的特征中可能導(dǎo)致在填充的特征內(nèi)部形成空隙和接縫。大的接縫可能導(dǎo)致高電阻、污染、填充材料的損失,并且另外降低集成電路的性能。例如,接縫可以在填充過程之后接近場區(qū)域延伸,然后在化學(xué)機(jī)械平面化過程中打開。同樣,空隙可能會導(dǎo)致集成和性能方面的問題。
發(fā)明內(nèi)容
本公開的一個方面涉及一種在遠(yuǎn)程等離子體處理室上執(zhí)行調(diào)節(jié)處理的方法,所述調(diào)節(jié)處理包括:將含氟氣體引入等離子體發(fā)生器以產(chǎn)生含氟調(diào)節(jié)等離子體;將所述含氟調(diào)節(jié)等離子體引入所述遠(yuǎn)程等離子體處理室,其中所述遠(yuǎn)程等離子體處理室包括襯底支撐件和噴頭,并且所述噴頭布置在所述襯底支撐件和所述等離子體發(fā)生器之間,并且其中在所述調(diào)節(jié)處理期間,所述遠(yuǎn)程等離子體處理室中不存在制造襯底;在執(zhí)行所述調(diào)節(jié)處理之后,將制造襯底引入所述遠(yuǎn)程等離子體處理室;并將所述制造襯底暴露于遠(yuǎn)程產(chǎn)生的基于氮的等離子體。在一些實(shí)施方式中,所述制造襯底包括待填充的一個或多個特征。
在一些實(shí)施方式中,由N2氣體產(chǎn)生所述遠(yuǎn)程產(chǎn)生的基于氮的等離子體。在一些實(shí)施方式中,所述遠(yuǎn)程產(chǎn)生的基于氮的等離子體由含氮化合物產(chǎn)生,并且調(diào)節(jié)處理進(jìn)一步包括將含氮化合物引入等離子體發(fā)生器以產(chǎn)生不含氟化物的基于氮的調(diào)節(jié)等離子體,以及將所述不含氟化物的基于氮的調(diào)節(jié)等離子體引入到所述遠(yuǎn)程等離子體處理室。
在一些實(shí)施方式中,該方法進(jìn)一步包括將一個或多個額外的制造襯底順序地引入到所述遠(yuǎn)程等離子體處理室并且將每個附加的制造襯底暴露于遠(yuǎn)程產(chǎn)生的基于氮的等離子體。例如,在執(zhí)行另一個調(diào)節(jié)處理之前,可以將至少三個制造襯底引入到所述遠(yuǎn)程等離子體處理室。
在一些實(shí)施方式中,遠(yuǎn)程產(chǎn)生的基于氮的等離子體相對于特征的內(nèi)部選擇性地抑制特征開口附近的成核。在一些這樣的實(shí)施方式中,該方法還可以包括:在特征中,相對于特征開口附近,在特征內(nèi)部選擇性地沉積鎢或鈷。在一些實(shí)施方式中,調(diào)節(jié)處理可以進(jìn)一步包括在一個或多個室部件上形成含氟層。在一些實(shí)施方式中,調(diào)節(jié)處理可以進(jìn)一步包括在一個或多個室部件上形成氟化鋁層。
本公開的另一方面涉及一種方法,其包括執(zhí)行多個調(diào)節(jié)和處理循環(huán)以在遠(yuǎn)程等離子體處理室中順序地處理多個襯底。每個循環(huán)可以包括:a)執(zhí)行調(diào)節(jié)處理,其包括:i)將含氟氣體引入等離子體發(fā)生器以產(chǎn)生含氟調(diào)節(jié)等離子體;和ii)將所述含氟調(diào)節(jié)等離子體引入所述遠(yuǎn)程等離子體處理室,其中所述遠(yuǎn)程等離子體處理室包括襯底支撐件和噴頭,并且所述噴頭設(shè)置在所述襯底支撐件和所述等離子體發(fā)生器之間,并且其中在所述調(diào)節(jié)處理期間在遠(yuǎn)程等離子體處理室中不存在制造襯底;b)在所述調(diào)節(jié)處理之后且在重復(fù)所述調(diào)節(jié)處理之前,執(zhí)行多個氮等離子體暴露處理,其中每個氮等離子體暴露處理均包括:i)將制造襯底引入所述遠(yuǎn)程等離子體處理室;ii)將制造襯底暴露于遠(yuǎn)程產(chǎn)生的基于氮的等離子體;和iii)從遠(yuǎn)程等離子體處理室移除制造襯底。
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