[發明專利]一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的雙探針透射式探頭

在審

• 申請號: 201711370932.5
• 申請日: 2017-12-19
• 公開（公告）號: CN107941746A
• 公開（公告）日: 2018-04-20
• 發明（設計）人: 高洪智;王動民;丁海泉;蘇建全;于新洋
• 申請（專利權）人: 廣東星創眾譜儀器有限公司
• 主分類號: G01N21/359
• 分類號: G01N21/359
• 代理公司: 廣州市華學知識產權代理有限公司44245
• 代理人: 黃磊,陳宏升

1.一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的雙探針透射式探頭，其特征在于：包括光源探針、檢測探針、固定裝置，其中光源探針、檢測探針平行設置在固定裝置上，光源探針上設置的出射窗正對著檢測探針上設置的入射窗；光源探針內安裝有出射光線發出裝置，檢測探針內安裝有檢測裝置，出射光線發出裝置將出射光傳導至出射窗進入到固體顆粒物，出射光經過固體顆粒物形成的透射光經入射窗進入即得到入射光線，入射光線被檢測裝置接收，檢測裝置將接收到入射光線的光信號轉換為電信號傳輸出去。

2.根據權利要求1所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的雙探針透射式探頭，其特征在于：所述檢測裝置包括分光元件、陣列探測器，入射窗、分光元件、陣列探測器依次排列；入射光線經過分光元件分光后到達陣列探測器，陣列探測器將入射光線的光信號轉換為電信號傳輸出去。

3.根據權利要求2所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的雙探針透射式探頭，其特征在于：所述分光元件光纖陣列板、濾光片陣列，入射窗、光纖陣列板、濾光片陣列、陣列探測器依次排列。

4.根據權利要求3所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的雙探針透射式探頭，其特征在于：所述光纖陣列板為M個平行排列的短光纖，用于限制進入濾光片陣列的入射光線的角度，其中M≥1；所述濾光片陣列為N個窄帶濾光片或者線性漸變濾光片組成的陣列，其中N≥1。

5.根據權利要求3所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的雙探針透射式探頭，其特征在于：所述濾光片陣列為一維濾光片陣列，所述陣列探測器為線陣列探測器，或者所述濾光片陣列為二維濾光片陣列，所述陣列探測器為面陣列探測器。

6.根據權利要求1所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的雙探針透射式探頭，其特征在于：所述出射光線發出裝置包括第一光源、出射光纖束、第一反射鏡，其中出射光纖束將第一光源的光傳導至第一反射鏡，經第一反射鏡改變方向后經過出射窗進入到固體顆粒物中。

7.根據權利要求6所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的雙探針透射式探頭，其特征在于：所述第二反射鏡為平面反射鏡或者長邊鍍有反射膜的實體直角棱鏡。

8.根據權利要求7所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的雙探針透射式探頭，其特征在于：所述長邊鍍有反射膜的實體直角棱鏡與出射窗分體設置，或者與出射窗合并為一個實體棱鏡。

9.根據權利要求1所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的雙探針透射式探頭，其特征在于：所述出射光線發出裝置包括第二光源，第二光源置于光源探針中且正對著出射窗，第二光源發出的光直接經過出射窗進入到固體顆粒物中。

10.根據權利要求1所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的雙探針透射式探頭，其特征在于：所述出射光線發出裝置采用在600～1100nm波段有連續分布的寬光譜光源，所述寬光譜光源包括鹵鎢燈光源、寬光譜LED；所述光源探針、檢測探針之間的間距為1cm～5cm。