[發明專利]選擇離子篩除設備以及方法有效
| 申請號： | 201711368233.7 | 申請日： | 2017-12-18 |
| 公開（公告）號： | CN108054076B | 公開（公告）日： | 2021-04-13 |
| 發明（設計）人： | 彭真;朱輝;呂金諾;郝慈環;程平;董俊國 | 申請（專利權）人： | 廣州禾信儀器股份有限公司 |
| 主分類號： | H01J49/06 | 分類號： | H01J49/06 |
| 代理公司： | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人： | 陳金普 |
| 地址： | 510530 廣東省廣州市廣州高新*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 選擇 離子 篩除 設備 以及 方法 | ||
1.一種選擇離子篩除設備，其特征在于，包括連接飛行時間質量分析器的脈沖電源；
所述脈沖電源調節脈沖參數，向所述飛行時間質量分析器反射區的反射板輸出反射脈沖；所述脈沖參數包括脈沖個數；所述脈沖個數為所述脈沖電源通過調節脈沖頻率得到；
所述反射板根據所述反射脈沖，對到達所述反射板上的待選擇離子進行定量篩除；其中，所述反射板根據所述反射脈沖，對到達所述反射板上的待選擇離子進行定量篩除，得到需篩除的離子和需保留的離子；
所述反射板對所述需篩除的離子進行預設篩除次數的篩除；所述預設篩除次數為所述反射脈沖的脈沖個數；所述反射板對所述需保留的離子進行預設反射次數的反射，使得所述需保留的離子進入所述飛行時間質量分析器的檢測區。
2.根據權利要求1所述的選擇離子篩除設備，其特征在于，所述脈沖參數還包括脈沖延時和脈沖寬度。
3.根據權利要求1所述的選擇離子篩除設備，其特征在于，所述飛行時間質量分析器的調制區、加速區、無場飛行區、反射區和檢測區均設有柵網。
4.根據權利要求3所述的選擇離子篩除設備，其特征在于，
所述反射區包括第一級反射區；
或
所述反射區包括第一級反射區和第二級反射區。
5.根據權利要求3所述的選擇離子篩除設備，其特征在于，所述檢測區為雙微通道板離子檢測器。
6.根據權利要求1至5任意一項所述的選擇離子篩除設備，其特征在于，推斥脈沖的單個脈沖周期、引出脈沖的單個脈沖周期以及所述反射脈沖的單個脈沖周期均相同；
所述推斥脈沖為施加在所述飛行時間質量分析器調制區推斥板上的脈沖；
所述引出脈沖為施加在所述飛行時間質量分析器加速區引出板上的脈沖。
7.根據權利要求6所述的選擇離子篩除設備，其特征在于，所述推斥脈沖和所述引出脈沖的脈沖個數相同。
8.根據權利要求7所述的選擇離子篩除設備，其特征在于，
所述反射脈沖的脈沖個數小于或等于所述推斥脈沖的脈沖個數；
或
所述反射脈沖的脈沖個數小于或等于所述引出脈沖的脈沖個數。
9.根據權利要求8所述的選擇離子篩除設備，其特征在于，
所述預設反射次數為所述推斥脈沖或所述引出脈沖的脈沖個數與所述反射脈沖的脈沖個數的差值。
10.一種選擇離子篩除方法，其特征在于，包括以下步驟：
調節脈沖參數，向飛行時間質量分析器反射區的反射板輸出反射脈沖；所述脈沖參數包括脈沖個數；所述脈沖個數為脈沖電源通過調節脈沖頻率得到；
所述反射脈沖用于指示所述反射板對到達所述反射板上的待選擇離子進行定量篩除；其中，所述反射板根據所述反射脈沖，對到達所述反射板上的待選擇離子進行定量篩除，得到需篩除的離子和需保留的離子；
所述反射板對所述需篩除的離子進行預設篩除次數的篩除；所述預設篩除次數為所述反射脈沖的脈沖個數；所述反射板對所述需保留的離子進行預設反射次數的反射，使得所述需保留的離子進入所述飛行時間質量分析器的檢測區。
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