[發明專利]大氣中子誘發的電子器件失效率預計方法和系統

在審

• 申請號: 201711366646.1
• 申請日: 2017-12-18
• 公開（公告）號: CN108132400A
• 公開（公告）日: 2018-06-08
• 發明（設計）人: 張戰剛;雷志鋒;何玉娟;彭超;師謙;黃云;恩云飛
• 申請（專利權）人: 中國電子產品可靠性與環境試驗研究所
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 劉艷麗

1.一種大氣中子誘發的電子器件失效率預計方法，其特征在于，包括以下步驟：

獲取在試驗環境下大氣中子誘發的電子器件的原始失效率；

分別獲取所述試驗環境下的原始大氣中子通量與目標環境下的目標大氣中子通量；

根據所述原始大氣中子通量和目標大氣中子通量獲取所述試驗環境與目標環境的大氣中子通量比例因子；

根據所述原始失效率和大氣中子通量比例因子獲取在目標環境下大氣中子誘發的電子器件的目標失效率。

2.根據權利要求1所述的大氣中子誘發的電子器件失效率預計方法，其特征在于，所述根據所述原始大氣中子通量和目標大氣中子通量獲取所述試驗環境與目標環境的大氣中子通量比例因子的步驟包括以下步驟：

根據下述函數關系式獲取所述大氣中子通量比例因子：

μ＝F_n,原始÷F_n,目標

式中，μ為所述大氣中子通量比例因子，F_n,原始為所述原始大氣中子通量，F_n,目標為目標大氣中子通量。

3.根據權利要求1所述的大氣中子誘發的電子器件失效率預計方法，其特征在于，所述根據所述原始失效率和大氣中子通量比例因子獲取在目標環境下大氣中子誘發的電子器件的目標失效率的步驟包括以下步驟：

根據下述函數關系式獲取在目標環境下大氣中子誘發的電子器件的目標失效率：

λ_目標＝λ_原始÷μ

式中，μ為所述大氣中子通量比例因子，λ_原始為所述原始失效率，λ_目標為所述目標失效率。

4.根據權利要求1所述的大氣中子誘發的電子器件失效率預計方法，其特征在于，所述分別獲取所述試驗環境下的原始大氣中子通量與目標環境下的目標大氣中子通量的步驟包括以下步驟：

分別在所述試驗環境和目標環境放置Bonner球譜儀，獲取試驗環境和目標環境的譜儀測量讀數；

分別根據所述試驗環境和目標環境的譜儀測量讀數，獲取所述原始大氣中子通量和目標大氣中子通量。

5.根據權利要求1所述的大氣中子誘發的電子器件失效率預計方法，其特征在于，所述分別獲取所述試驗環境下的原始大氣中子通量與目標環境下的目標大氣中子通量的步驟包括以下步驟：

分別獲取試驗環境和目標環境的環境參數；

根據中子通量的半經驗模型和所述環境參數分別獲取所述原始大氣中子通量和目標大氣中子通量。

6.根據權利要求1所述的大氣中子誘發的電子器件失效率預計方法，其特征在于，所述分別獲取所述試驗環境下的原始大氣中子通量與目標環境下的目標大氣中子通量的步驟包括以下步驟：

分別獲取試驗環境和目標環境的環境參數；

根據所述試驗環境和目標環境的環境參數分別對所述試驗環境和目標環境的輻射環境進行仿真，獲取所述原始大氣中子通量和目標大氣中子通量。

7.根據權利要求1所述的大氣中子誘發的電子器件失效率預計方法，其特征在于，所述分別獲取所述試驗環境下的原始大氣中子通量與目標環境下的目標大氣中子通量的步驟包括以下步驟：

分別獲取試驗環境和目標環境的環境參數；

分別根據所述試驗環境和目標環境的環境參數從輻射環境數據庫中獲取所述原始大氣中子通量和目標大氣中子通量。

8.一種大氣中子誘發的電子器件失效率預計系統，其特征在于，包括以下模塊：

原始失效率獲取模塊，用于獲取在試驗環境下大氣中子誘發的電子器件的原始失效率；

大氣中子通量獲取模塊，用于分別獲取所述試驗環境下的原始大氣中子通量與目標環境下的目標大氣中子通量；

比例因子獲取模塊，用于根據所述原始大氣中子通量和目標大氣中子通量獲取所述試驗環境與目標環境的大氣中子通量比例因子；

目標失效率獲取模塊，用于根據所述原始失效率和大氣中子通量比例因子獲取在目標環境下大氣中子誘發的電子器件的目標失效率。