[發明專利]一種芯片測試模式進入方法、進入系統及芯片

有效

• 申請號: 201711364016.0
• 申請日: 2017-12-18
• 公開（公告）號: CN108196181B
• 公開（公告）日: 2020-12-11
• 發明（設計）人: 胡建偉;黃建剛;羅旭程;程劍濤
• 申請（專利權）人: 上海艾為電子技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 駱宗力;王寶筠

本申請公開了一種芯片測試模式進入方法、進入系統及芯片，其中，所述芯片測試模式進入方法首先獲取數據端口的輸入電壓，然后判斷所述輸入電壓是否滿足第一測試條件，這是因為在芯片正常工作時，輸入電壓滿足第一測試條件是芯片進入測試模式的一個必要條件，在此必要條件滿足后，判斷在所述時鐘端口接收到前預設數量的時鐘信號的過程中，所述數據端口接收到的數據信號與預設信號密碼是否一致，只有在前預設數量的時鐘信號的接收過程中，所述數據端口接收到的數據信號與預設信號密碼一致才使所述芯片進入測試模式，這樣通過兩個測試條件的設置，可以在極大程度上降低芯片正常使用過程中出現誤進入測試模式的可能。

技術領域

本申請涉及集成電路技術領域，更具體地說，涉及一種芯片測試模式進入方法、進入系統及芯片。

背景技術

芯片(Integrated Circuit，IC)，也稱為集成電路，是一種微型電子器件或部件。采用一定的工藝，把一個電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上，然后封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構。

在芯片封裝完成之后，出廠之前，還需要對芯片進行芯片測試，以計算芯片的參數，判斷芯片是否合格。芯片測試是保證出廠的每一顆芯片都滿足芯片的規格要求的必要手段。為了便于芯片的測試，并且減少芯片的測試時間，節約測試成本，需要在芯片內部設計芯片測試模式進入系統，在芯片進入測試模式后對芯片的各項特性參數進行測試。芯片測試模式進入系統不能影響芯片的正常工作。

在現有技術中，通過設置于芯片內部的芯片測試模式進入系統來使芯片進入測試模式的過程通常為：通過對時鐘端口加時鐘信號，對數據端口加特定的數據信號，當采集到的數據信號和芯片設定的信號密碼一致時，芯片測試模式進入系統使芯片進入測試模式。但是在芯片在出廠后的正常使用過程中，由于芯片應用的場合各異，有可能出現在數據端口接收到的某一段工作信號與設定的信號密碼一致，而導致芯片誤進入測試模式的情況。這種在正常工作時誤進入測試模式的情況，會導致芯片無法正常工作，屬于芯片的質量事故，在芯片設計時需要避免。

發明內容

為解決上述技術問題，本發明提供了一種芯片測試模式進入方法、進入系統及芯片，以實現大幅降低在芯片正常使用過程中出現誤進入測試模式的可能的目的。

為實現上述技術目的，本發明實施例提供了如下技術方案：

一種芯片測試模式進入方法，應用于芯片，所述芯片具有數據端口和時鐘端口，所述芯片測試模式進入方法包括：

獲取所述數據端口的輸入電壓；

判斷所述輸入電壓是否滿足第一測試條件，如果是，則判斷所述數據端口接收的數據信號是否滿足第二測試條件，若是，則進入測試模式，若否，則返回獲取所述數據端口的輸入電壓的步驟；

所述第一測試條件包括：所述輸入電壓處于預設電壓范圍，且持續時間超過預設閾值；

所述第二測試條件包括：在所述時鐘端口接收到前預設數量的時鐘信號的過程中，所述數據端口接收到的數據信號與預設信號密碼一致，其中，所述預設數量的取值范圍為3個-10個，包括端點值。

可選的，所述預設數量的取值為5個。

可選的，所述預設電壓范圍的取值范圍為6.5V-7.0V，包括端點值。

可選的，所述預設電壓范圍的取值為6.5V。

可選的，所述預設閾值的取值范圍為100μs±5μs，包括端點值。

一種芯片測試模式進入系統，應用于芯片，所述芯片具有數據端口和時鐘端口，所述芯片測試模式進入系統包括：

輸入電壓獲取模塊，用于獲取所述數據端口的輸入電壓；