[發明專利]斷路器測試方法和終端在審
| 申請號: | 201711363162.1 | 申請日: | 2017-12-18 |
| 公開(公告)號: | CN107884711A | 公開(公告)日: | 2018-04-06 |
| 發明(設計)人: | 郭小燕;祝曉輝;閆佳文;蔣春悅;王偉;劉哲;鄒園;吳強;陳長金;白廷玉;易克難;紀璐 | 申請(專利權)人: | 國家電網公司;國網河北省電力有限公司培訓中心 |
| 主分類號: | G01R31/327 | 分類號: | G01R31/327 |
| 代理公司: | 深圳中一專利商標事務所44237 | 代理人: | 官建紅 |
| 地址: | 100031 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 斷路器 測試 方法 終端 | ||
技術領域
本發明屬于斷路器技術領域,尤其涉及一種斷路器測試方法和終端。
背景技術
在電力系統中,高壓斷路器(俗稱開關)屬于重要設備,機械特性測試和動作電壓測試是保證設備可靠運行的主要試驗項目,均屬于例行試驗項目,由于設備數量很多,測試的頻度很高。通常,測試是在設備停電情況下進行,采用交流220V電源,有一定的觸電危險性,需要有人監護。另外,由于設備機構存在交流220V的電源接線,容易由接線錯誤造成儀器燒損,并且,每一次測試耗時較長,按照專業技能競賽的標準,每測試一臺設備(110kV)需要耗費1小時,并且,需要人為操作儀器,增大了誤操作的風險,導致測試效率較低、測試較大,而且操作危險性較高。
發明內容
有鑒于此,本發明實施例提供了一種斷路器測試方法和終端,以解決現有技術中人為操作儀器導致測試效率較低、測試較大而且操作危險性較高的問題。
本發明實施例的第一方面,提供了一種斷路器測試方法,包括:
將高壓開關特性測試儀與斷路器操動機構的儲能電機回路和控制電源回路接通,并調整所述高壓開關特性測試儀的輸出電壓,使得輸出電流達到預設值;
通過所述高壓開關特性測試儀測試所述儲能電機回路的儲能電機的直流電阻;
在對所述儲能電機的直流電阻測試完后,調整所述高壓開關特性測試儀的輸出電壓為額定電壓,并在所述高壓開關特性測試儀的輸出電壓穩定后,對所述儲能電機回路進行儲能;
在對所述儲能電機回路儲能完成后,將輸出電壓調整為額定電壓的第一預設倍數大小的電壓,并對所述控制電源回路的合閘控制回路進行測試,得到合閘信息;以及將輸出電壓調整為額定電壓的第二預設倍數大小的電壓,并對所述控制電源回路的分閘控制回路進行測試,得到分閘信息。
可選的,在所述將高壓開關特性測試儀與斷路器操動機構的儲能電機回路和控制電源回路接通步驟之前,還包括:
將所述斷路器操動機構能量完全釋放,斷開斷路器控制及儲能電源;
將所述斷路器兩側接地,將所述高壓開關特性測試儀接地。
可選的,所述高壓開關特性測試儀的一個測量通道與所述斷路器中的三相電連接,且所述高壓開關特性測試儀的公共通道與所述斷路器中的三相電均連接;
所述高壓開關特性測試儀的直流輸出與所述儲能電機回路連接;
所述高壓開關特性測試儀的傳感器接頭與設置在所述斷路器上的速度傳感器連接;
所述高壓開關特性測試儀的內觸發接頭與所述控制電源回路連接。
可選的,所述預設值為100安培或200安培。
可選的,所述在所述高壓開關特性測試儀的輸出電壓穩定后,對所述儲能電機回路進行儲能步驟,具體為:
經過第一預設時間,待所述高壓開關特性測試儀的輸出電壓穩定后,通過所述高壓開關特性測試儀的直流輸出,將所述儲能電源回路接通,儲能電機開始儲能,儲能完成后,斷路器自身通過行程開關切斷儲能電源回路;
若對所述儲能電機回路的儲能時間超過閾值,則所述高壓開關特性測試儀將輸出電壓調整為0,并通過指示燈自動報錯。
可選的,所述將輸出電壓調整為額定電壓的第一預設倍數大小的電壓,并對所述控制電源回路的合閘控制回路進行測試,得到合閘信息步驟,具體為:
將輸出電壓調整為額定電壓的80%,并觸發接通所述合閘控制回路,述合閘控制回路的合閘線圈得電,合閘電磁鐵鐵芯可靠動作,完成合閘操作;
合閘操作結束后,所述合閘控制回路通過輔助開關自動斷開合閘控制回路;
合閘操作結束后,獲取并記錄合閘電壓、合閘時間、合閘速度、合閘不同期、同相各斷口間合閘不同期、彈跳次數和彈跳時間,以及繪制合閘行程-時間特性曲線。
可選的,所述將輸出電壓調整為額定電壓的第二預設倍數大小的電壓,并對所述控制電源回路的分閘控制回路進行測試,得到分閘信息步驟,具體為:
將輸出電壓調整為額定電壓的30%,并觸發接通所述分閘控制回路,分閘線圈得電,分閘電磁鐵鐵芯應可靠不動;
按照步進升壓將輸出電壓調整為額定電壓的65%,然后觸發接通所述分閘控制回路,分閘電磁鐵鐵芯應可靠動作,斷路器完成分閘操作;
合閘操作結束后,獲取并記錄分閘電壓、分閘時間、分閘速度、分閘不同期和同相各斷口間分閘不同期,以及繪制分閘行程-時間特性曲線。
可選的,在對所述分閘控制回路進行測試后,所述方法還包括:
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