[發明專利]一種光杠桿法測距儀及其測量方法在審
| 申請號: | 201711350546.X | 申請日: | 2017-12-15 |
| 公開(公告)號: | CN107860355A | 公開(公告)日: | 2018-03-30 |
| 發明(設計)人: | 樊旭峰;單海江;顏婷婷;陳彪;馬振寧;李星;于智清;李強;單亞拿;王遜 | 申請(專利權)人: | 沈陽建筑大學 |
| 主分類號: | G01C3/00 | 分類號: | G01C3/00;G01B5/02;G09B23/06 |
| 代理公司: | 沈陽之華益專利事務所有限公司21218 | 代理人: | 黃英華 |
| 地址: | 110168 遼*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 杠桿 測距儀 及其 測量方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種測量儀器,尤其涉及一種新型的光杠桿法測距儀及其測量方法。
背景技術
長度的測量在生產生活中經常要用到,產品的外形尺寸,人體身高,遙遠的星空距離我們有多遠,這些都是我們涉及到長度或者說距離測量問題。微小長度的測量可以用讀數顯微鏡、激光干涉儀,較遠距離測量可以用衛星定位儀和光學望遠鏡,而1m到100m之內的,可以用皮尺、鋼尺和激光測距儀。
在物理實驗教學中,對1米以上的長度常用用皮尺、鋼卷尺和激光測距儀測量。皮尺和鋼卷尺需要兩個人配合完成測量,而激光測距儀雖然精度高測量準,但該儀器為自動測量,不具有教學演示效果。為了讓學生更好地理解長度測量的特點,了解不同長度測量如何選擇儀器,掌握測量儀器的一些基本調整方法,我們設計了這款便于教學,適用于基礎實驗測量的光杠桿法測距儀,該儀器不僅可以滿足常規實驗1米以上長度的測量,且該儀器蘊含了許多物理的知識點和實驗基本技能的訓練內容,更具有開拓學生思維方式,寓教于樂的演示特點,實驗儀器本身具有進一步的完善和拓展空間,所以這款儀器非常適用于開設長度測量實驗。
發明內容
本發明提供了一種創新的長度測量方法和測量儀器,即一種光杠桿法測距儀及其測量方法;它具有測距方式新穎,構思巧妙,原理簡單,裝置組裝方便,測量過程蘊含實驗基本調整技術和一些長度測量儀器的使用,是訓練學生掌握基礎實驗技能非常全面的實驗項目,適用于各類基礎實驗教學。
為達到上述目的,本發明是通過下述技術方案實現的。
一種光杠桿法測距儀,包括測距裝置和鏡面標尺(9),測距裝置和鏡面標尺(9)是各自獨立的部分,所述測距裝置包括底座(1)、激光筆(2)、螺旋測微器(3)、銷釘(4)、繞軸旋轉架(5)、固定架(6),套筒(7)和光桿(8),所述光桿(8)通過螺紋連接在底座(1)上,激光筆(2)用彈簧片固定在繞軸旋轉架(5)上,繞軸旋轉架(5)的一端通過銷釘(4)固定在光桿(8)上,螺旋測微器(3)焊接在固定架(6)的一端,固定架(6)的另一端用螺釘固定在套筒(7)上,套筒(7)的高度可沿光桿(8)調整,套筒(7)通過螺釘緊固在光桿(8)上,螺旋測微器(3)的頂尖頂在繞軸旋轉架(5)尾部的凹坑中心點處。
進一步地,所述螺旋測微器(3)包括一根精密的測微螺桿(3-1)和套在測微螺桿(3-1)上的螺母套管(3-3),以及緊固在測微螺桿(3-1)上的微分套筒(3-4),螺母套管(3-3)上有兩排刻線,毫米刻線和半毫米刻線;螺母套管(3-3)與螺旋測微器架(3-2)靠鎖緊裝置(3-5)固定;微分套筒(3-4)圓周上刻有50個等分格,當微分套筒(3-4)轉過一周時,測微螺桿(3-1)前進或后退0.5毫米,即測微螺桿(3-1)上的頂尖移動了0.5毫米,頂尖移動的距離由螺母套管(3-3)上毫米刻度和微分套筒(3-4)上等分格的刻度讀出,測量精度為0.01毫米,螺旋測微器(3)可移動的最大距離為25.00毫米,材質為不銹鋼。
進一步地,所述繞軸旋轉架(5)為半敞開式柱狀結構,內圓半徑5毫米,壁厚3毫米,總長120毫米;在距繞軸旋轉架(5)的一端面10毫米處有一凹坑,坑深2毫米,凹坑用于與螺旋測微器(3)的頂尖配合;距繞軸旋轉架(5)的另一端面10毫米處有一孔,孔徑為3毫米,此孔與光桿(8)上的孔用銷釘(4)配合緊固,繞軸旋轉架(5)的材質為鋼板。
進一步地,所述固定架(6)為長方體結構,長120毫米,截面寬16毫米、厚3毫米,在距固定架(6)的一端面10毫米處有兩孔,孔徑為3毫米,該孔用于將固定架(6)固定在套筒(7)上,固定架(6)材質為鋼板。
進一步地,所述鏡面標尺(9)是在平面鏡上用紅色絲線做出刻度線,背面用雙面膠固定于待測物的表面上,固定鏡面標尺(9)時,應將鏡面標尺(9)上的第一個刻度線與測距裝置上激光筆(2)發出的激光點重合。
一種光杠桿法測距儀的測量方法,包括以下步驟:
步驟1:打開激光筆(2),讓光線垂直照射到待測物的表面,將鏡面標尺(9)粘貼到待測物上,且讓鏡面標尺(9)的最高刻度線與激光筆(2)發出的激光點重合;
步驟2:旋轉螺旋測微器(3),利用光的反射路徑與入射光路徑重合,調平繞軸旋轉架(5)的高度,并記錄此時螺旋測微器(3)的讀數n0;
步驟3:繼續同向旋轉螺旋測微器(3),消除空程差,使激光筆(2)發出的激光在鏡面標尺(9)上移動距離D,記錄此時螺旋測微器(3)的讀數n1;
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