[發明專利]一種微波密度檢測儀跳頻信號源同步檢波裝置與方法

有效

• 申請號: 201711345211.9
• 申請日: 2017-12-15
• 公開（公告）號: CN108088767B
• 公開（公告）日: 2019-10-11
• 發明（設計）人: 余祎;凌云志;林偉;張紅兵;錢志國;孫宏杰;曹丙虎
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第四十一研究所
• 主分類號: G01N9/24
• 分類號: G01N9/24;G01N22/04
• 代理公司: 青島智地領創專利代理有限公司 37252
• 代理人: 種艷麗

1.一種微波密度檢測儀中跳頻信號源的同步檢波裝置，其特征在于：包括微帶檢波電路、分時采樣電路、檢波信號處理電路、衰減系數調整電路、模式控制電路及微處理器；所述衰減系數調整電路經模式控制電路與檢波信號處理電路相連接；所述微處理器分別與模式控制電路和衰減系數調整電路相連接；

所述微帶檢波電路，包括信號檢波電路和對地溫補檢波電路兩部分，被配置為用于將經探針耦合出的諧振腔的微波信號轉換為電壓信號；

所述分時采樣電路，主要由采樣保持時鐘信號產生電路及兩片采樣保持集成電路組成，被配置為用于按雙頻點信號源跳頻時序同步區分并接收微帶檢波電路輸出的電壓；其中，采樣保持時鐘信號產生電路產生的采樣保持時鐘信號，由雙頻點信號源的跳頻控制信號經邏輯處理產生；

所述檢波信號處理電路，主要由運放電路組成，被配置為用于將分時采樣電路輸出的雙頻點檢波電壓值進行運算處理及信號調理；

所述衰減系數調整電路，主要由數字電位器組成，被配置為用于在校準模式下經模式控制電路與檢波信號處理電路連接，以使校準模式下檢波信號處理電路輸出電壓信號幅度不會超過工控板AD采樣的參考電壓值；測量模式下，模式控制電路將衰減系數調整電路開路，用于實現在前端的微帶檢波電路及分時采樣電路未作改動時測量模式和校準模式共用一套檢波信號處理電路；

所述微處理器，被配置為用于通過對模式控制電路的控制來完成測量模式和校準模式的切換及通過改變數字電位器的阻值來調整衰減系數調整電路的衰減系數。

2.根據權利要求1所述的微波密度檢測儀中跳頻信號源的同步檢波裝置，其特征在于：信號檢波電路和對地溫補檢波電路采用相同型號的檢波二極管，用于減小溫度對檢測的影響；信號檢波電路和對地溫補檢波電路采用PCB板設計，選用小封裝0201檢波二極管，采用錫焊。

3.一種微波密度檢測儀中跳頻信號源的同步檢波方法，其特征在于：采用如權利要求1所述的微波密度檢測儀中跳頻信號源的同步檢波裝置，具體包括如下步驟：

步驟1：通過微帶檢波電路將經探針耦合出的諧振腔的微波信號轉換為電壓信號；

步驟2：分時采樣電路按雙頻點信號源跳頻時序同步區分并接收微帶檢波電路的輸出電壓；

步驟3：通過檢波信號處理電路將分時采樣電路輸出的雙頻點檢波電壓值進行運算處理及信號調理；

步驟4：校準模式下，由微處理器通過模式控制電路控制衰減系數調整電路接入檢波信號處理電路中，同時微處理器能通過改變衰減系數調整電路中數字電位器的阻值完成對衰減系數調整電路的衰減系數的調整，以使校準模式下檢波信號處理電路輸出電壓信號幅度不會超過工控板AD采樣的參考電壓值；

步驟5：測量模式下，由微處理器通過模式控制電路控制衰減系數調整電路開路，從而實現了在前端的微帶檢波電路及分時采樣電路未作改動時測量模式和校準模式共用一套檢波信號處理電路。