[發明專利]顯示屏的檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 201711342623.7
• 申請日: 2017-12-14
• 公開（公告）號: CN108172150B
• 公開（公告）日: 2021-01-26
• 發明（設計）人: 張志廣;張昌;申麗霞
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 滕一斌

本發明公開了一種顯示屏的檢測方法及裝置，屬于顯示技術領域。該方法包括：通過自動伽馬工藝調節待檢測的顯示屏的光顯示參數；通過伽馬檢測工藝確定顯示屏的畫面補償參數，在自動伽馬工藝和伽馬檢測工藝中，顯示屏的畫面補償功能是關閉的；當顯示屏需要進行畫面補償時，開啟顯示屏的畫面補償功能，并將畫面補償參數燒錄至顯示屏的指定位置；點亮顯示屏的屏幕，使得顯示屏獲取指定位置中的畫面補償參數，解決了相關技術中需要補償的顯示屏和不需要補償的顯示屏需要獨立檢測，效率較低，且成本較高的問題，達到了提高檢測效率，降低檢測成本的效果。本發明用于顯示屏的檢測。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，特別涉及一種顯示屏的檢測方法及裝置。

背景技術

對于顯示裝置的顯示屏來說，顯示畫面的亮度均勻性和殘像仍然是其面臨的主要難題，通常采用畫面補償工藝來改善顯示畫面的亮度均勻性和殘像現象。實際應用中，有的顯示屏需要進行畫面補償工藝，有的顯示屏因顯示效果較好就不需要進行畫面補償工藝。

相關技術中，在檢測顯示屏的過程中，需要補償的顯示屏(簡稱：第一顯示屏)對應一套工藝流程，而不需要補償的顯示屏(簡稱：第二顯示屏)對應另一套工藝流程。第一顯示屏對應的工藝流程包括自動伽馬工藝、伽馬檢測工藝和產品檢查工藝，在所有工藝中，第一顯示屏的畫面補償功能始終是關閉的；第二顯示屏對應的工藝流程包括自動伽馬工藝、伽馬檢測工藝、畫面補償工藝和產品檢查工藝，第二顯示屏的畫面補償功能從自動伽馬工藝開啟。其中，自動伽馬工藝用于調節顯示屏的色度等參數，伽馬檢測工藝用于確定顯示屏的畫面補償參數。

然而，目前第一顯示屏和第二顯示屏需要獨立檢測，效率較低，且成本較高。

發明內容

本發明實施例提供了一種顯示屏的檢測方法及裝置，可以解決相關技術中需要補償的顯示屏和不需要補償的顯示屏需要獨立檢測，效率較低，且成本較高的問題，所述技術方案如下：

第一方面，提供了一種顯示屏的檢測方法，所述方法包括：

通過自動伽馬工藝調節待檢測的顯示屏的光顯示參數；

通過伽馬檢測工藝確定所述顯示屏的畫面補償參數，在所述自動伽馬工藝和所述伽馬檢測工藝中，所述顯示屏的畫面補償功能是關閉的；

當所述顯示屏需要進行畫面補償時，開啟所述顯示屏的畫面補償功能，并將所述畫面補償參數燒錄至所述顯示屏的指定位置；

點亮所述顯示屏的屏幕，使得所述顯示屏獲取所述指定位置中的畫面補償參數。

可選的，所述顯示屏設置有集成電路IC模塊，所述IC模塊設置有一次性編程OTP子模塊，

所述開啟所述顯示屏的畫面補償功能，包括：

將用于指示所述顯示屏的畫面補償功能的補償指示信息寫入所述OTP子模塊。

可選的，在所述通過伽馬檢測工藝確定所述顯示屏的畫面補償參數之后，所述方法還包括：

當所述顯示屏不需要進行畫面補償時，禁止開啟所述顯示屏的畫面補償功能。

可選的，所述光顯示參數包括色度，所述通過自動伽馬工藝調節待檢測的顯示屏的光顯示參數，包括：

通過所述自動伽馬工藝將所述顯示屏的色度調節為目標色度，所述目標色度屬于預設色度范圍。

可選的，所述顯示屏設置有存儲模塊，所述將所述畫面補償參數燒錄至所述顯示屏的指定位置，包括：

將所述畫面補償參數燒錄至所述存儲模塊。

可選的，所述顯示屏包括保護蓋板和顯示面板，在所述通過自動伽馬工藝調節待檢測的顯示屏的光顯示參數之前，所述方法還包括：