[發明專利]基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時間測量系統

在審

• 申請號: 201711341523.2
• 申請日: 2017-12-14
• 公開（公告）號: CN107966277A
• 公開（公告）日: 2018-04-27
• 發明（設計）人: 閆亞東;何俊華;張敏;韋明智;薛艷博;許瑞華
• 申請（專利權）人: 中國科學院西安光學精密機械研究所
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司61211
• 代理人: 陳廣民

1.一種基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時間測量系統，包括取樣裝置和測量裝置，其特征在于：所述取樣裝置包括球狀真空靶室和取樣光闌，所述球狀真空靶室內設置有靶點和橢球面漫反射白板；打靶激光入射靶點產生的近背向散射光沿打靶反方向散射后由橢球面漫反射白板產生漫反射，漫反射光經取樣光闌取樣后進入測量裝置；所述靶點位于橢球面漫反射白板的一個焦點上，所述取樣光闌中心位于橢球面漫反射白板的另一個焦點上。

2.根據權利要求1所述的基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時間測量系統，其特征在于：所述測量裝置包括沿光路傳播方向依次設置的成像鏡頭、縮束正透鏡和二向色鏡；所述二向色鏡將光譜分離后，長波被透射進入長波透射光測量單元，短波被反射進入短波反射光測量單元。

3.根據權利要求2所述的基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時間測量系統，其特征在于：所述長波透射光測量單元包括長波時間測量耦合鏡和長波時間測量快光電管；長波透射光由長波時間測量耦合鏡成像于長波時間測量快光電管所在的長波取樣光闌像面上。

4.根據權利要求3所述的基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時間測量系統，其特征在于：所述長波取樣光闌像面上設置有長波光吸收陷阱。

5.根據權利要求4所述的基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時間測量系統，其特征在于：所述長波取樣光闌像面上還設置有長波光譜取樣光纖。

6.根據權利要求2所述的基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時間測量系統，其特征在于：所述短波反射光測量單元包括短波時間測量耦合鏡和短波時間測量快光電管；短波反射光由短波時間測量耦合鏡成像于短波時間測量快光電管所在的短波取樣光闌像面上。

7.根據權利要求6所述的基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時間測量系統，其特征在于：所述短波取樣光闌像面上設置有短波光吸收陷阱。

8.根據權利要求7所述的基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時間測量系統，其特征在于：所述短波取樣光闌像面上還設置有短波光譜取樣光纖。

9.根據權利要求2-8中任一所述的基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時間測量系統，其特征在于：所述成像鏡頭將橢球面漫反射白板成像于一次像面上，所述一次像面上設置有雜散光濾波裝置。