[發(fā)明專利]一種電熔絲狀態(tài)檢測電路有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711338430.4 | 申請日: | 2017-12-14 |
| 公開(公告)號: | CN108089630B | 公開(公告)日: | 2021-01-22 |
| 發(fā)明(設計)人: | 羅旭程;胡建偉;程劍濤 | 申請(專利權)人: | 上海艾為電子技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G05F3/26 | 分類號: | G05F3/26 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權代理有限公司 11227 | 代理人: | 王寶筠 |
| 地址: | 201199 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 絲狀 檢測 電路 | ||
1.一種電熔絲狀態(tài)檢測電路,其特征在于,包括:
電熔絲,所述電熔絲具有阻值;
基準電阻,所述基準電阻的阻值介于所述電熔絲熔斷前低電阻和熔斷后高電阻之間;
第一電流源,所述第一電流源和所述電熔絲串聯(lián)連接在電源和地之間,所述第一電流源的電流值為基準電流;
第二電流源,所述第二電流源和所述基準電阻串聯(lián)連接在所述電源和地之間,所述第二電流源的電流值為所述基準電流;
開關,所述開關用于在所述電熔絲處于測試模式時閉合,在所述電熔絲處于用戶模式時打開;
第三電流源,所述第三電流源和所述開關形成的串聯(lián)支路與所述第二電流源并聯(lián)連接,所述第三電流源的電流值為k倍所述基準電流,所述k為比例系數(shù);
比較電路,具有第一輸入端和第二輸入端,所述第一輸入端連接所述基準電阻、所述第二電流源和所述串聯(lián)支路的公共端,所述第二輸入端連接所述第一電流源和所述電熔絲的公共端;所述比較電路用于根據(jù)所述第一輸入端檢測到的電壓值和所述第二輸入端檢測到的電壓值產(chǎn)生輸出信號,所述輸出信號用于指示所述電熔絲是否已熔斷;
測試模式控制電路,所述測試模式控制電路的輸出端連接所述開關的控制端,所述測試模式控制電路用于在所述電熔絲處于測試模式時,向所述開關輸入導通信號;
其中,所述電熔絲在測試模式和用戶模式的判定閾值之差為k*Rref,Rref為基準電阻的阻值。
2.根據(jù)權利要求1所述的電熔絲狀態(tài)檢測電路,其特征在于,當所述第一電流源、所述第二電流源、所述第三電流源和所述開關均包括NMOS管時,所述電熔絲狀態(tài)檢測電路包括:
所述電熔絲;
所述基準電阻;
作為所述開關的第一開關管,所述第一開關管的控制端用于在所述電熔絲處于測試模式時接收導通信號,在所述電熔絲處于用戶模式時接收關斷信號,所述第一開關管的輸入端通過所述基準電阻連接所述電源;
第二開關管,所述第二開關管的輸入端用于輸入所述基準電流,所述第二開關管的輸出端接地,所述第二開關管的控制端連接所述第二開關管的輸入端;
第三開關管,所述第三開關管的控制端連接所述第二開關管的控制端,所述第三開關管的輸入端通過所述電熔絲連接所述電源,所述第三開關管的輸出端接地;
第四開關管,所述第四開關管的控制端連接所述第二開關管的控制端,所述第四開關管的輸入端連接所述第一開關管的輸出端,所述第四開關管的輸出端接地;
第五開關管,所述第五開關管的控制端連接所述第二開關管的控制端,所述第五開關管的輸入端連接所述第一開關管的輸入端,所述第五開關管的輸出端接地;
所述比較電路,具有所述第一輸入端和所述第二輸入端,所述第一輸入端連接所述第一開關管、所述基準電阻和所述第五開關管的公共端;所述第二輸入端連接所述第三開關管和所述電熔絲的公共端;所述比較電路用于根據(jù)所述第一輸入端檢測到的電壓值和所述第二輸入端檢測到的電壓值產(chǎn)生輸出信號,所述輸出信號用于指示所述電熔絲是否已熔斷;
其中,所述第二開關管和所述第三開關管構成所述第一電流源,所述第二開關管和所述第五開關管構成所述第二電流源,所述第二開關管和所述第四開關管構成所述第三電流源;流入所述第二開關管、所述第三開關管和所述第五開關管的電流均為所述基準電流,流入所述第四開關管的電流為所述k倍的所述基準電流,所述k為所述第四開關管和所述第二開關管的物理尺寸比例。
3.根據(jù)權利要求2所述的電熔絲狀態(tài)檢測電路,其特征在于,所述檢測電路還包括:第六開關管和基準電流控制電路;
所述第六開關管的輸入端用于輸入所述基準電流,所述第六開關管的輸出端連接所述第二開關管的輸入端,所述第六開關管的控制端連接所述基準電流控制電路,所述基準電流控制電路用于在所述電熔絲狀態(tài)檢測電路工作時,向所述第六開關管輸出導通信號,使所述基準電流通過所述第六開關管流入所述第二開關管。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海艾為電子技術股份有限公司,未經(jīng)上海艾為電子技術股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711338430.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





