[發明專利]沒有經常旋轉需要的角度傳感器的校準

有效

• 申請號: 201711338272.2
• 申請日: 2017-12-14
• 公開（公告）號: CN108225400B
• 公開（公告）日: 2020-07-14
• 發明（設計）人: D·哈默施密特
• 申請（專利權）人: 英飛凌科技股份有限公司
• 主分類號: G01D18/00
• 分類號: G01D18/00
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 鄭立柱;崔卿虎

1.一種傳感器設備，包括：

一個或多個處理器，用于：

獲取由感測設備收集的原始傳感器數據，所述原始傳感器數據包括信號值的集合和與所述信號值的集合相對應的溫度值的集合，

所述信號值的集合與存在于所述感測設備處的磁場相對應；

基于所述信號值的集合來確定與校準所述感測設備相關聯的校準參數的第一值；

基于所述溫度值的集合來將特定溫度值與所述校準參數的第一值相關聯；

基于所述特定溫度值和與所述校準參數相關聯的溫度補償函數來確定所述校準參數的第二值；以及

基于所述第一值和所述第二值的比較來選擇性地更新所述溫度補償函數。

2.根據權利要求1所述的設備，其中所述信號值的集合包括與所述磁場的第一分量相對應的第一信號的最小值、所述第一信號的最大值、與所述磁場的第二分量相對應的第二信號的最小值和所述第二信號的最大值。

3.根據權利要求1所述的設備，其中所述一個或多個處理器進一步用于：

基于所述溫度值的集合來確定溫度窗口被滿足；以及

其中所述一個或多個處理器在選擇性地更新所述溫度補償函數時用于：

基于確定所述溫度窗口被滿足來選擇性地更新所述溫度補償函數。

4.根據權利要求1所述的設備，其中所述一個或多個處理器進一步用于：

獲取標識與所述信號值的集合相對應的時間的集合的信息；

基于標識所述時間的集合的所述信息來確定時間窗口被滿足；以及

其中所述一個或多個處理器在選擇性地更新所述溫度補償函數時用于：

基于確定所述時間窗口被滿足來選擇性地更新所述溫度補償函數。

5.根據權利要求1所述的設備，其中所述特定溫度值是所述溫度值的集合的平均溫度值、所述溫度值的集合的中間值、或所述溫度值的集合的眾數溫度值。

6.根據權利要求1所述的設備，其中所述一個或多個處理器在基于所述第一值和所述第二值的比較來選擇性地更新所述溫度補償函數時用于：

計算所述第一值與所述第二值之間的差值；以及

當所述第一值與所述第二值之間的差值滿足偏差閾值時，更新所述溫度補償函數。

7.根據權利要求6所述的設備，其中所述一個或多個處理器進一步用于：

引起與所述溫度補償函數相關聯的存儲的信息被維持在非易失性存儲器部件中直到與更新所述溫度補償函數相關聯的寫入過程的成功已經被驗證。

8.根據權利要求1所述的設備，其中所述溫度補償函數是多項式函數、分段線性函數或樣條函數。

9.一種用于校準感測設備的方法，包括：

通過所述感測設備獲取信號值的集合和與所述信號值的集合相對應的溫度的集合，

所述信號值的集合和所述溫度的集合被包括在由所述感測設備收集的傳感器數據中，并且

所述信號值的集合與存在于所述感測設備處的磁場的一個或多個分量相對應；

通過所述感測設備基于所述信號值的集合來確定與校準所述感測設備相關聯的校準參數的第一值；

通過所述感測設備基于所述溫度的集合來將特定溫度與所述校準參數的第一值相關聯；

通過所述感測設備基于所述特定溫度和與所述校準參數相對應的溫度補償函數來計算所述校準參數的第二值；以及

通過所述感測設備基于所述第一值和所述第二值來選擇性地更新所述溫度補償函數。

10.根據權利要求9所述的方法，其中所述信號值的集合包括與所述磁場的第一分量相對應的第一信號的最小值和最大值、以及與所述磁場的第二分量相對應的第二信號的最小值和最大值。