[發(fā)明專利]一種眼晶體所受輻射劑量的仿真檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711335906.9
• 申請(qǐng)日: 2017-12-14
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107992699B
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-03-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李德紅;黃建微;郝艷梅;郭彬;吳琦
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院
• 主分類號(hào): G06F30/20
• 分類號(hào): G06F30/20
• 代理公司: 北京慧誠(chéng)智道知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11539
• 代理人: 李楠

本發(fā)明實(shí)施例涉及一種眼晶體所受輻射劑量的仿真檢測(cè)方法，所述仿真檢測(cè)方法包括：A、根據(jù)當(dāng)前的待監(jiān)測(cè)輻射場(chǎng)，在眼晶體劑量當(dāng)量轉(zhuǎn)換系數(shù)表中獲取相應(yīng)的眼晶體劑量當(dāng)量轉(zhuǎn)換系數(shù)；B、將內(nèi)置于仿真模型內(nèi)的電離室所在標(biāo)準(zhǔn)輻射場(chǎng)位置處的空氣比釋動(dòng)能率除以測(cè)量電荷值，得到電離室刻度因子；C、將內(nèi)置于仿真模型內(nèi)的電離室放入所述待監(jiān)測(cè)輻射場(chǎng)中，測(cè)量所述內(nèi)置于仿真模型內(nèi)的電離室在所述待監(jiān)測(cè)輻射場(chǎng)中的電流或電荷值；D、基于步驟A至步驟C，將所述眼晶體劑量當(dāng)量轉(zhuǎn)換系數(shù)、所述電離室刻度因子和實(shí)測(cè)得到的電流或電荷值相乘，得到眼晶體劑量當(dāng)量率。本發(fā)明，為眼晶體個(gè)人劑量當(dāng)量的測(cè)量提供了更準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)，測(cè)量過(guò)程簡(jiǎn)單。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種仿真檢測(cè)方法，尤其涉及一種眼晶體所受輻射劑量的仿真檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步和人們生活水平的提高，人們?cè)絹?lái)越注重自己的生活質(zhì)量以及身體健康。但是，在多種行業(yè)的多種工種中都存在著放射性物質(zhì)職業(yè)危害，如果防護(hù)措施不當(dāng)，就可能由電離輻射照射機(jī)體而引起損傷。

為了保證放射性工作場(chǎng)所職業(yè)人員的身體健康，需要進(jìn)行嚴(yán)格的輻射防護(hù)措施，并對(duì)其放射工作環(huán)境的輻射劑量進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，確保職業(yè)工作人員在相對(duì)安全的環(huán)境中工作。眼晶體是輻射敏感器官之一，受到電離輻射照射，發(fā)生白內(nèi)障的幾率會(huì)增加，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)放射工作人員的工作場(chǎng)所中的眼晶體劑量當(dāng)量顯得非常重要。當(dāng)前對(duì)放射工作環(huán)境的人員眼晶體劑量的監(jiān)測(cè)還停留在通過(guò)測(cè)量強(qiáng)貫穿輻射個(gè)人劑量當(dāng)量，然后通過(guò)轉(zhuǎn)換的方法得到，這種轉(zhuǎn)換方式得到的眼晶體劑量當(dāng)量值的準(zhǔn)確度不高，因此，提出了一種用于眼晶體個(gè)人劑量當(dāng)量的仿真檢測(cè)方法，提高檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確度。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的問(wèn)題，提供一種眼晶體個(gè)人劑量當(dāng)量的測(cè)量值更準(zhǔn)確且檢測(cè)過(guò)程簡(jiǎn)單的仿真檢測(cè)方法。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種仿真檢測(cè)方法，所述仿真檢測(cè)方法包括以下步驟：

步驟A、根據(jù)當(dāng)前的待監(jiān)測(cè)輻射場(chǎng)，在眼晶體劑量當(dāng)量轉(zhuǎn)換系數(shù)表中獲取相應(yīng)的眼晶體劑量當(dāng)量轉(zhuǎn)換系數(shù)；

步驟B、將內(nèi)置于仿真模型內(nèi)的電離室所在標(biāo)準(zhǔn)輻射場(chǎng)位置處的空氣比釋動(dòng)能率除以測(cè)量電荷值，得到電離室刻度因子；

步驟C、將內(nèi)置于仿真模型內(nèi)的電離室放入所述待監(jiān)測(cè)輻射場(chǎng)中，測(cè)量所述內(nèi)置于仿真模型內(nèi)的電離室在所述待監(jiān)測(cè)輻射場(chǎng)中的電流或電荷值；

步驟D、基于步驟A至步驟C，將所述眼晶體劑量當(dāng)量轉(zhuǎn)換系數(shù)、所述電離室刻度因子和實(shí)測(cè)得到的電流或電荷值相乘，得到眼晶體劑量當(dāng)量率。

優(yōu)選的，所述眼晶體劑量當(dāng)量轉(zhuǎn)換系數(shù)表的生成過(guò)程步驟包括：

步驟一、測(cè)量所述電離室在Cs-137γ射線標(biāo)準(zhǔn)輻射場(chǎng)內(nèi)的第一電流值Ι₁；

步驟二、測(cè)量所述內(nèi)置于仿真模型內(nèi)的電離室在所述Cs-137γ射線標(biāo)準(zhǔn)輻射場(chǎng)內(nèi)的第二電流值Ι₂；

步驟三、根據(jù)所述第一電流值Ι₁與所述第二電流值Ι₂得到所述Cs-137γ射線標(biāo)準(zhǔn)輻射場(chǎng)的眼晶體劑量當(dāng)量轉(zhuǎn)換系數(shù)s；所述眼晶體劑量當(dāng)量轉(zhuǎn)換系數(shù)s的計(jì)算公式為：

步驟四、在所述Cs-137γ射線標(biāo)準(zhǔn)輻射場(chǎng)中，射線選取不同的入射角度，重復(fù)上述步驟一至步驟三，得到所述Cs-137γ射線標(biāo)準(zhǔn)輻射場(chǎng)不同角度的眼晶體劑量當(dāng)量轉(zhuǎn)換系數(shù)；

步驟五、在其他不同能量的輻射場(chǎng)中重復(fù)上述步驟一至步驟四,得到所述其他不同能量的輻射場(chǎng)不同角度的眼晶體劑量當(dāng)量轉(zhuǎn)換系數(shù)；

步驟六、基于各輻射場(chǎng)不同角度的眼晶體劑量當(dāng)量轉(zhuǎn)換系數(shù)生成眼晶體劑量當(dāng)量轉(zhuǎn)換系數(shù)表。

進(jìn)一步優(yōu)選的，所述步驟一包括：