[發(fā)明專利]一種修正天線罩瞄準誤差的方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201711335592.2
• 申請日: 2017-12-14
• 公開（公告）號: CN108110419A
• 公開（公告）日: 2018-06-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 宋乃濤;高勁松;徐念喜;單冬至;湯洋;馮曉國
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: H01Q1/42
• 分類號: H01Q1/42;H01Q15/00
• 代理公司: 深圳市科進知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 44316
• 代理人: 趙勍毅

1.一種修正天線罩瞄準誤差的方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

根據(jù)超表面的周期尺寸將天線罩的罩體離散成多個離散單元；

計算各個所述離散單元所對應的天線罩的罩體厚度；

采用相位公式計算獲得各個所述離散單元的插入相位；

改變所述超表面的單元結(jié)構(gòu)尺寸，使得所述超表面相位改變剛好補償插入相位且超表面與所述天線罩的組合體的透射系數(shù)為1；

制備超表面的陣列結(jié)構(gòu)，并將所述超表面貼附在所述天線罩的內(nèi)表面。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種修正天線罩瞄準誤差的方法，其特征在于，所述相位公式的具體表達式如下所示：

ΔΦ i = 2 πd i ϵ r λ 0 ]]>

其中，ΔΦi為第i個離散單元的所對應的天線罩的插入相位，di為第i個離散單元的天線罩的罩體厚度，εr為天線罩材料的相對介電常數(shù)，λ0為自由空間的波長。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種修正天線罩瞄準誤差的方法，其特征在于，所述超表面的結(jié)構(gòu)尺寸使得相應超表面對入射電磁波的改變相位符合下述表達式：

ΔΦi+ΔΦ′i＝ΔΦi+1+ΔΦ′i+1

其中，ΔΦi為第i個離散單元所對應的天線罩的插入相位，ΔΦ′i為第i個離散單元所對應超表面對入射電磁波的改變相位。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種修正天線罩瞄準誤差的方法，其特征在于，所述插入相位和所述改變相位之和為常數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種修正天線罩瞄準誤差的方法，其特征在于，所述超表面的陣列結(jié)構(gòu)采用柔性多層印刷線路板工藝制備。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種修正天線罩瞄準誤差的方法，其特征在于，所述超表面采用柔性膜轉(zhuǎn)移技術(shù)貼附于所述天線罩的內(nèi)表面。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種修正天線罩瞄準誤差的方法，其特征在于，所述超表面采用異常透射型超表面。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種修正天線罩瞄準誤差的方法，其特征在于，所述異常透射型超表面為非周期的陣列結(jié)構(gòu)。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種修正天線罩瞄準誤差的方法，其特征在于，所述異常透射型超表面的透射相位的變化范圍為[-π，π]。