[發(fā)明專利]基于鉑電阻的溫度采集裝置及方法

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• 申請日: 2017-12-13
• 公開（公告）號: CN108151902A
• 公開（公告）日: 2018-06-12
• 發(fā)明（設計）人: 邢立佳;陳志兵
• 申請（專利權(quán)）人: 天津津航計算技術研究所
• 主分類號: G01K7/18
• 分類號: G01K7/18
• 代理公司: 中國兵器工業(yè)集團公司專利中心 11011
• 代理人: 周恒

1.一種基于鉑電阻的溫度采集裝置，其特征在于，所述裝置包括：鉑電阻溫度電壓轉(zhuǎn)換器、A/D采集芯片、A/D采集芯片控制模塊、電壓溫度轉(zhuǎn)換表、處理器；

所述鉑電阻溫度電壓轉(zhuǎn)換器用于基于鉑電阻在溫度變化時自身電阻值也隨之改變的特性，使用鉑電阻將環(huán)境溫度值轉(zhuǎn)換為電壓值；

所述處理器發(fā)送采集指令至A/D采集芯片控制模塊，A/D采集芯片控制模塊通過配置A/D采集芯片來進行采集；

所述A/D采集芯片用于對電壓值進行實時采集，送至電壓溫度轉(zhuǎn)換表；

所述電壓溫度轉(zhuǎn)換表判斷實時采集的電壓值是否超過了電壓溫度轉(zhuǎn)換表允許輸入的電壓值范圍，如果超出范圍則上報告警標志，表示溫度范圍異常；如果采集的電壓值在允許范圍內(nèi)則查詢電壓溫度轉(zhuǎn)換表，獲得當前電壓值對應的溫度值，將獲得的溫度值提供給處理器查詢。

2.如權(quán)利要求1所述的基于鉑電阻的溫度采集裝置，其特征在于，所述A/D采集芯片控制模塊由FPGA實現(xiàn)。

3.如權(quán)利要求1所述的基于鉑電阻的溫度采集裝置，其特征在于，所述電壓溫度轉(zhuǎn)換表由FPGA實現(xiàn)。

4.如權(quán)利要求1所述的基于鉑電阻的溫度采集裝置，其特征在于，所述處理器為DSP處理器。

5.如權(quán)利要求1所述的基于鉑電阻的溫度采集裝置，其特征在于，所述電壓溫度轉(zhuǎn)換表是在指定的全溫度范圍內(nèi)對環(huán)境溫度進行采樣，并多次測量取平均值獲得的預設表，其通過輸入采集電壓值，則輸出對應的溫度值。

6.一種基于鉑電阻的溫度采集方法，其特征在于，該方法基于權(quán)利要求1所述的裝置來實施，所述方法包括：

步驟一：通過處理器配置A/D采集芯片控制模塊，控制A/D采集芯片控制模塊啟動溫度轉(zhuǎn)換，此時A/D采集芯片控制模塊通過配置A/D采集芯片，獲得當前輸入電壓值的采樣值；

步驟二：等待A/D采集轉(zhuǎn)換完成后，判斷A/D采集電壓值是否超過了電壓溫度轉(zhuǎn)換表允許輸入的電壓值范圍，如果超出范圍則上報告警標志，表示溫度范圍異常；如果A/D采集電壓值在允許范圍內(nèi)則查詢電壓溫度轉(zhuǎn)換表，獲得當前電壓值對應的溫度數(shù)值；

步驟三：查詢電壓溫度轉(zhuǎn)換表，并更新轉(zhuǎn)換后的溫度值，提供給處理器查詢，此時溫度采集結(jié)束。

7.如權(quán)利要求6所述的基于鉑電阻的溫度采集方法，其特征在于，所述A/D采集芯片控制模塊由FPGA實現(xiàn)。

8.如權(quán)利要求6所述的基于鉑電阻的溫度采集方法，其特征在于，所述電壓溫度轉(zhuǎn)換表由FPGA實現(xiàn)。

9.如權(quán)利要求6所述的基于鉑電阻的溫度采集方法，其特征在于，所述處理器為DSP處理器。

10.如權(quán)利要求6所述的基于鉑電阻的溫度采集方法，其特征在于，所述電壓溫度轉(zhuǎn)換表是在指定的全溫度范圍內(nèi)對環(huán)境溫度進行采樣，并多次測量取平均值獲得的預設表，其通過輸入采集電壓值，則輸出對應的溫度值。