[發(fā)明專利]一種觀測不融合液面間空氣層干涉現(xiàn)象的裝置及其使用方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711330976.5 | 申請日: | 2017-12-13 |
| 公開(公告)號: | CN107843597A | 公開(公告)日: | 2018-03-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 白赫;段瑞夢;畢瑛潔 | 申請(專利權(quán))人: | 天津師范大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/84 | 分類號: | G01N21/84 |
| 代理公司: | 天津創(chuàng)智天誠知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)12214 | 代理人: | 王秀奎,田陽 |
| 地址: | 300387 *** | 國省代碼: | 天津;12 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 觀測 融合 液面 氣層 干涉現(xiàn)象 裝置 及其 使用方法 | ||
1.一種觀測不融合液面間空氣層干涉現(xiàn)象的裝置,包括光源、觀測部件、樣品臺、液滴發(fā)生裝置、揚聲器、信號發(fā)生器、音頻功率放大器和計算機(jī),所述光源為三盞以上同色且具有相干性光源,所述觀測部件包括顯微鏡及螺桿移動裝置,所述顯微鏡安裝在螺桿移動裝置上;
其中,所述光源按照正多邊形方式安裝在所述正多邊形頂點位置,所述揚聲器安裝在所述正多邊形中心,所述樣品臺設(shè)置在所述揚聲器上,所述觀測裝置設(shè)置在所述樣品臺一側(cè)且保證所述觀測裝置中的顯微鏡在所述樣品臺正上方,所述液滴發(fā)生裝置位于所述樣品臺相對觀測裝置一側(cè),所述信號發(fā)生器信號輸出端與音頻功率放大器信號輸入端相連,所述音頻放大器信號輸出端與所述揚聲器相連,計算機(jī)與顯微鏡數(shù)據(jù)輸出端連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觀測不融合液面間空氣層干涉現(xiàn)象的裝置,其特征在于,所述液滴發(fā)生裝置包括調(diào)節(jié)支架和注射器,所述注射器與水平面呈45°~60°角,所述注射器最低點距離樣品臺底面高度為5cm~10cm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觀測不融合液面間空氣層干涉現(xiàn)象的裝置,其特征在于,所述顯微鏡為放大倍數(shù)不小于1000倍的數(shù)碼電子顯微鏡,所述光源為低壓鈉燈。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觀測不融合液面間空氣層干涉現(xiàn)象的裝置,其特征在于,所述正多邊形邊長為23cm~45cm之間。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觀測不融合液面間空氣層干涉現(xiàn)象的裝置,其特征在于,所述樣品臺為玻璃培養(yǎng)皿,所述揚聲器為長沖程揚聲器。
6.利用如權(quán)利要求1所述裝置進(jìn)行不融合液面間空氣層干涉現(xiàn)象觀測的方法,按照下述方法進(jìn)行:
打開光源待其穩(wěn)定后開始實驗,將溶液試劑注入所述樣品臺中,形成厚度為1cm~4cm的液膜,打開并調(diào)整信號發(fā)生器,使其輸出頻率為16Hz~25Hz的正弦信號,所述正弦信號經(jīng)過音頻功率放大器調(diào)節(jié)Vpp值為0.08±0.01mv后輸入揚聲器,將所述溶液試劑注入液滴發(fā)生裝置中的注射器內(nèi),緩慢推動注射器,在注射器最低點形成液滴并使其自由下落入樣品臺中的液膜內(nèi),通過調(diào)節(jié)所述螺桿移動裝置調(diào)節(jié)顯微鏡高度,直至在計算機(jī)中觀察到清晰的干涉條紋現(xiàn)象。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的不融合液面間空氣層干涉現(xiàn)象觀測的方法,其特征在于,所述溶液試劑為硅油,所述硅油為50cst硅油,注射器最低點與樣品臺中硅油液面之間距離為4~6cm。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的不融合液面間空氣層干涉現(xiàn)象觀測的方法,其特征在于,所述溶液試劑注入所述樣品臺后靜置5~10分鐘。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的不融合液面間空氣層干涉現(xiàn)象觀測的方法,其特征在于,所述光源采用低壓鈉燈時,開始試驗前需充分預(yù)熱15分鐘以上。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的不融合液面間空氣層干涉現(xiàn)象觀測的方法,其特征在于,在計算機(jī)中采用Measurement軟件進(jìn)行干涉圖像的觀察和采集。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于天津師范大學(xué),未經(jīng)天津師范大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711330976.5/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:利用調(diào)制的X射線輻射的成像
- 下一篇:X射線拍攝裝置及方法
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





