[發明專利]一種用于檢測透鏡中心偏離的裝置

在審

• 申請號: 201711330678.6
• 申請日: 2017-12-13
• 公開（公告）號: CN107830823A
• 公開（公告）日: 2018-03-23
• 發明（設計）人: 李儀芳;何影記;仇云利
• 申請（專利權）人: 廣東技術師范學院
• 主分類號: G01B11/27
• 分類號: G01B11/27;G01M11/02
• 代理公司: 東莞市中正知識產權事務所(普通合伙)44231
• 代理人: 成偉

技術領域

本發明屬于光學里的透鏡中心偏離檢測領域，具體是涉及一種用于檢測透鏡中心偏離的裝置。

背景技術

透鏡在制造及組裝過程中，當透鏡光軸與系統光軸發生了偏離時，不可避免地產生中心偏差現象。中心偏離的存在會影響透鏡系統的成像效果。因而在透鏡的制造以及組裝過程中需要對其進行中心偏離的檢測。

目前普遍采用TRIOPTIC公司的OptiCentric系列下的單光路測量方法，但只能用于測量單透鏡，如果測量多透鏡系統時后測量面的準確度會受到前測量面測量準確度的影響，造成誤差的累積效應。另外，對于多透鏡系統而言，不能同時檢測多個透鏡的偏心和透鏡組整體的偏心，若要對系統中各個透鏡每個面進行偏心測量則需要花費大量的時間。

發明內容

本發明針對現有技術的不足，提供一種用于檢測透鏡中心偏離的裝置。該裝置可以用來同步檢測具有多個面的透鏡系統，其在很大程度上提升了檢測的效率。

為了達到上述目的，本發明一種用于檢測透鏡中心偏離的裝置，主要包括用于發射特定波長的準直激光光束的激光光源，只能反射該激光光源特定波長光束的分光鏡組，用于置放待測透鏡面的待測平臺，十字線標靶，以及與所述激光光源、分光鏡組相對應的具有成像透鏡和圖像傳感器的成像單元；所述分光鏡組由第一分光鏡和第二分光鏡構成；所述激光光源發射特定波長的準直激光光束到其對應的分光鏡組后，該分光鏡組的第一分光鏡把該波長的光束反射出去，之后所述光束透過第二分光鏡進入到待測平臺的待測透鏡面中，并由該待測透鏡面反射到第二分光鏡上，最后該光束由第二分光鏡反射到成像單元。

優選地，所述待測平臺上裝設有旋轉裝置，以旋轉待測平臺上的待測透鏡面。

優選地，所述十字線標靶與激光光源集成在一起。

作為上述方案的另一種改進，所述十字線標靶還可以設置于激光光源的外部。

優選地，所述激光光源的光束進入到待測平臺前的光路上裝設有中繼鏡，以減小整個測量裝置與待測透鏡之間的距離，從而縮小整個測量裝置的高度。

優選地，所述激光光源數量超過一個時，每個激光光源發射的激光波長均不相同；所述分光鏡組僅對與之相對應的激光波長的光束有分光作用，而對其他波長的激光光束僅有透射作用。

所述激光光源發射特定波長的準直激光光束到其對應的分光鏡組后，該分光鏡組的第一分光鏡把該波長的光束反射出去，之后所述光束透過第二分光鏡進入到待測平臺的待測透鏡面中，并由該待測透鏡面反射到第二分光鏡上，最后該光束由第二分光鏡反射到成像單元。

當成像單元處在合適的距離上能獲取清晰的待測透鏡面反射回的十字線像，隨后通過旋轉裝置旋轉待測平臺以轉動待測透鏡面，這樣可以獲取多個十字線像，之后將獲取的多個十字線像的中心進行擬合，擬合出的圓即為偏心檢測的結果。

本裝置可以用來同步檢測具有多個面的透鏡系統，其在很大程度上提升了檢測的效率。該結構應用廣泛，實用性強，易于推廣使用。

附圖說明

圖1為本發明的結構示意圖。

其中，11、12、1N為激光光源，211、221、2N1為第一分光鏡，212、222、2N2為第二分光鏡，31、32、3N為成像單元，4為中繼鏡，5為待測透鏡面。

具體實施方式

以下結合附圖和具體實施例對本發明進行詳細描述，但不作為對本發明的限定。

參照圖1，本發明實施例一種用于檢測透鏡中心偏離的裝置，主要包括用于發射不同波長的準直激光光束的激光光源11、激光光源12、激光光源1N，只能反射該激光光源對應波長光束的分光鏡組，用于置放待測透鏡面的待測平臺，設于激光光源外部的十字線標靶，以及與所述激光光源、分光鏡組相對應的具有成像透鏡和圖像傳感器的成像單元31、成像單元32、成像單元3N；所述圖像傳感器可以是CCD也可以是CMOS；所述分光鏡組由第一分光鏡和第二分光鏡構成。第一分光鏡211、第二分光鏡212對應的是激光光源11和成像單元31，第一分光鏡221、第二分光鏡222對應的是激光光源12和成像單元32，第一分光鏡2N1、第二分光鏡2N2對應的是激光光源1N和成像單元3N。

參照圖1，所述待測平臺上裝設有旋轉裝置，以旋轉待測平臺上的待測透鏡面5。所述第二分光鏡與待測平臺之間的光路上裝設有中繼鏡4，以減小整個測量裝置與待測透鏡之間的距離，從而縮小整個測量裝置的高度。