[發明專利]一種受單片機控制的集成電路的仿真驗證方法有效
| 申請號: | 201711329579.6 | 申請日: | 2017-12-13 |
| 公開(公告)號: | CN108197351B | 公開(公告)日: | 2021-04-13 |
| 發明(設計)人: | 徐小倩;喻賢坤;劉松林;樊旭;彭斌;穆辛;王莉;李健;姜爽;孔瀛;毛鶴莉;王瀟瀟;莫艷圖;宋奎鑫;李卓 | 申請(專利權)人: | 北京時代民芯科技有限公司;北京微電子技術研究所 |
| 主分類號: | G06F30/30 | 分類號: | G06F30/30;G06F115/10 |
| 代理公司: | 中國航天科技專利中心 11009 | 代理人: | 龐靜 |
| 地址: | 100076 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 單片機 控制 集成電路 仿真 驗證 方法 | ||
本發明提供了一種受單片機控制的集成電路的仿真驗證方法,包括如下步驟:(1)、編寫相應的單片機仿真模型,用來模擬單片機;(2)、將該單片機仿真模型與待驗證集成電路仿真模型相連,形成頂層測試模塊;(3)、編寫待測集成電路的單片機測試程序,編譯生成可燒錄至單片機程序存儲器的可執行測試程序;(4)、將可執行測試程序轉換成*.memh文件形式;(5)、編寫仿真驗證測試程序,在仿真驗證測試程序中,實例化頂層測試模塊,通過$readmemh系統函數,把*.memh文件形式的可執行測試程序加載到單片機仿真模型的程序存儲器中;(6)、運行仿真驗證測試程序,完成受單片機控制的集成電路仿真驗證。本發明提高測試程序的復用性,從而提高了芯片的驗證效率。
技術領域
本發明涉及一種受單片機控制的集成電路的仿真驗證方法,特別是應用于待驗證集成電路是由單片機控制的情況下,該電路可以看作是單片機的一個外部設備,屬于半導體數字集成電路仿真驗證領域。
背景技術
在數字集成電路的設計過程中,仿真驗證是一個重要的環節,在前期它可以檢驗RTL模型是否能完成預期的功能,在后期還要對包含延遲信息的RTL進行時序仿真。隨著電路的集成度越來越高,功能越來越復雜,對仿真驗證的要求也越來越高。在大量驗證向量的編寫過程中,傳統的驗證方法需要謹慎設置向量變化的時序關系,顯得比較繁瑣,容易出錯,而且很浪費時間。在傳統的仿真驗證過程中,我們在寫測試程序時,需要設置大量延時,來模擬芯片在實際工作時,輸入端口數據的改變時間,以滿足其建立時間和保持時間的要求。
另外,除了通過軟件工具對硬件描述語言編寫的芯片進行仿真驗證外,通常在后續的芯片制造過程中,還需要進行板級的測試,此時就需要重新編寫測試程序,導致浪費了大量的時間。
我們希望找到一種方法,可以快速而準確的產生測試程序,而且使測試程序的復用性足夠高,這樣就可以大大的提高芯片制造的效率,降低成本。
發明內容
本發明的技術解決的問題是:克服現有技術的不足,提供了一種受單片機控制的集成電路的仿真驗證方法。在待驗證芯片是由單片機控制的情況下,能夠更真實的模擬芯片的實際工作場景,降低產生測試程序的復雜度,并且提高測試程序的復用性,從而提高了芯片的驗證效率。
本發明的技術解決方案是:一種受單片機控制的集成電路的仿真驗證方法,該方法包括如下步驟:
(1)、根據控制待驗證集成電路的單片機型號,采用硬件描述語言,編寫相應的單片機仿真模型,用來模擬單片機;
(2)、按照實際電路連接,將該單片機仿真模型與待驗證集成電路仿真模型相連,形成頂層測試模塊;
(3)、編寫待測集成電路的單片機測試程序,對單片機測試程序進行編譯生成可燒錄至單片機程序存儲器的可執行測試程序;
(4)、將可執行測試程序轉換成硬件描述語言中的$readmemh命令能夠直接讀取的*.memh文件形式;
(5)、編寫仿真驗證測試程序,在仿真驗證測試程序中,實例化頂層測試模塊,通過$readmemh系統函數,把*.memh文件形式的可執行測試程序加載到單片機仿真模型的程序存儲器中;
(6)、運行仿真驗證測試程序,完成受單片機控制的集成電路仿真驗證。
所述步驟(2)提取可執行測試程序中的有效數據,按照地址遞增的順序排列在新的文件中,并存儲為*.memh文件。
所述步驟(4)采用python語言實現。
所述待測集成電路的單片機測試程序根據測試要求確定。
本發明與現有技術相比有益效果為:
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