[發(fā)明專利]一種存儲(chǔ)熱備盤的添加方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711325534.1
• 申請(qǐng)日: 2017-12-13
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN108319523A
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-07-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 莊建波
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 創(chuàng)新科存儲(chǔ)技術(shù)（深圳）有限公司;創(chuàng)新科存儲(chǔ)技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/20
• 分類號(hào): G06F11/20
• 代理公司: 北京德琦知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11018
• 代理人: 孫清然;王琦

1.一種存儲(chǔ)熱備盤的添加方法，其特征在于，包括：

a、當(dāng)磁盤陣列RAID中檢測(cè)到壞磁盤時(shí)，將所述壞磁盤從所述RAID的成員磁盤中刪除；

b、所述RAID根據(jù)當(dāng)前的熱備盤配置情況，在檢測(cè)到所述壞磁盤被拔出且在相同位置上插入了新磁盤時(shí)，將所述新磁盤設(shè)置為熱備盤，并對(duì)所述壞磁盤中的數(shù)據(jù)進(jìn)行自動(dòng)重建。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟b包括：

如果所述RAID已配置熱備盤，則將該熱備盤設(shè)置為所述RAID的成員磁盤，將所述壞磁盤中的數(shù)據(jù)拷貝至該熱備盤中，當(dāng)所述RAID檢測(cè)到所述壞磁盤被拔出且在相同位置上插入了新磁盤時(shí)，將所述新磁盤設(shè)置為熱備盤；

如果所述RAID未配置熱備盤，則當(dāng)所述RAID檢測(cè)到所述壞磁盤被拔出且在相同位置上插入了新磁盤時(shí)，將所述新磁盤設(shè)置為熱備盤，然后將該熱備盤設(shè)置為所述RAID的成員磁盤，并將所述壞磁盤中的數(shù)據(jù)拷貝至該熱備盤中。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法進(jìn)一步包括：

當(dāng)磁盤陣列RAID中檢測(cè)到壞磁盤時(shí)，將所述RAID的狀態(tài)設(shè)置為降級(jí)狀態(tài)。

4.一種存儲(chǔ)熱備盤的添加裝置，其特征在于，包括：

故障檢測(cè)單元，用于當(dāng)磁盤陣列RAID中檢測(cè)到壞磁盤時(shí)，將所述壞磁盤從所述RAID的成員磁盤中刪除；

處理單元，用于所述RAID根據(jù)當(dāng)前的熱備盤配置情況，在檢測(cè)到所述壞磁盤被拔出且在相同位置上插入了新磁盤時(shí)，將所述新磁盤設(shè)置為熱備盤，并對(duì)所述壞磁盤中的數(shù)據(jù)進(jìn)行自動(dòng)重建。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述處理單元，用于如果所述RAID已配置熱備盤，則將該熱備盤設(shè)置為所述RAID的成員磁盤，將所述壞磁盤中的數(shù)據(jù)拷貝至該熱備盤中，當(dāng)所述RAID檢測(cè)到所述壞磁盤被拔出且在相同位置上插入了新磁盤時(shí)，將所述新磁盤設(shè)置為熱備盤；如果所述RAID未配置熱備盤，則當(dāng)所述RAID檢測(cè)到所述壞磁盤被拔出且在相同位置上插入了新磁盤時(shí)，將所述新磁盤設(shè)置為熱備盤，然后將該熱備盤設(shè)置為所述RAID的成員磁盤，并將所述壞磁盤中的數(shù)據(jù)拷貝至該熱備盤中。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述故障檢測(cè)單元，進(jìn)一步用于當(dāng)磁盤陣列RAID中檢測(cè)到壞磁盤時(shí)，將所述RAID的狀態(tài)設(shè)置為降級(jí)狀態(tài)。