[發(fā)明專(zhuān)利]抗冷反射紅外靶標(biāo)制備方法及抗冷反射紅外靶標(biāo)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711319998.1 | 申請(qǐng)日: | 2017-12-12 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109917617B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-06-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張?chǎng)?/a>;吳柯萱;魏樹(shù)弟;王志;杜繼東;何立平;張林軍 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 北京振興計(jì)量測(cè)試研究所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G03F7/00 | 分類(lèi)號(hào): | G03F7/00;G01M11/00 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 100074 北京市*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 反射 紅外 靶標(biāo) 制備 方法 | ||
1.一種抗冷反射紅外靶標(biāo)制備方法,其特征在于,所述抗冷反射紅外靶標(biāo)制備方法包括:
步驟一,在多晶硅基底(10)上涂覆負(fù)性光刻膠層(20);
步驟二,通過(guò)掩模板(30)對(duì)表面涂覆有所述負(fù)性光刻膠層(20)的所述多晶硅基底(10)進(jìn)行曝光,所述掩模板(30)具有與待成型的靶標(biāo)孔形狀相同的透光孔;
步驟三,對(duì)曝光后的表面涂覆有所述負(fù)性光刻膠層(20)的所述多晶硅基底(10)進(jìn)行顯影處理,以獲取表面具有靶標(biāo)孔形的負(fù)性光刻膠層(20)的多晶硅基底(10);
步驟四,對(duì)表面具有靶標(biāo)孔形的負(fù)性光刻膠層(20)的多晶硅基底(10)進(jìn)行電腐蝕以獲取表面具有抗反射層(40)和靶標(biāo)孔形的負(fù)性光刻膠層(20)的多晶硅基底(10);
步驟五,在所述抗反射層(40)和靶標(biāo)孔形的負(fù)性光刻膠層(20)上均涂覆一層膜層(50),所述膜層(50)用于保護(hù)所述抗反射層(40);
步驟六,除去所述多晶硅基底(10)上的靶標(biāo)孔形的負(fù)性光刻膠層(20)以及設(shè)置在所述靶標(biāo)孔形的負(fù)性光刻膠層(20)上的所述膜層(50),以獲取抗冷反射紅外靶標(biāo)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗冷反射紅外靶標(biāo)制備方法,其特征在于,在所述步驟一中,所述多晶硅基底(10)的厚度大于100微米,所述負(fù)性光刻膠層(20)的厚度大于15微米。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗冷反射紅外靶標(biāo)制備方法,其特征在于,所述步驟二具體包括:照明光路依次經(jīng)過(guò)掩模板(30)和投影光學(xué)系統(tǒng),將所述掩模板(30)的圖形投影到所述多晶硅基底(10)表面的所述負(fù)性光刻膠層(20)上。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗冷反射紅外靶標(biāo)制備方法,其特征在于,所述步驟三具體包括:將顯影液覆蓋在所述多晶硅基底 表面的所述負(fù)性光刻膠層(20)上,以獲取表面具有靶標(biāo)孔形的負(fù)性光刻膠層(20)的多晶硅基底(10)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗冷反射紅外靶標(biāo)制備方法,其特征在于,所述步驟四具體包括:將表面具有靶標(biāo)孔形的負(fù)性光刻膠層(20)的多晶硅基底(10)浸沒(méi)在電腐蝕液中,通過(guò)控制電腐蝕的溫度以及電壓控制所述多晶硅基底(10)的腐蝕程度,以獲取表面具有抗反射層(40)和靶標(biāo)孔形的負(fù)性光刻膠層(20)的多晶硅基底(10)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的抗冷反射紅外靶標(biāo)制備方法,其特征在于,所述電腐蝕的溫度范圍為20℃至30℃,所述電腐蝕的電壓為10V至30V。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗冷反射紅外靶標(biāo)制備方法,其特征在于,所述膜層(50)包括碳膜膜層,所述碳膜膜層的厚度小于所述負(fù)性光刻膠層(20)的厚度。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的抗冷反射紅外靶標(biāo)制備方法,其特征在于,所述碳膜膜層的厚度為5μm至10μm。
9.一種抗冷反射紅外靶標(biāo),其特征在于,所述抗冷反射紅外靶標(biāo)使用如權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的抗冷反射紅外靶標(biāo)制備方法制作。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的抗冷反射紅外靶標(biāo),其特征在于,所述抗冷反射紅外靶標(biāo)具有靶標(biāo)孔,所述靶標(biāo)孔包括圓孔、矩形孔或十字孔,所述圓孔的直徑、所述矩形孔的線(xiàn)寬以及所述十字孔的線(xiàn)寬均小于10微米。
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