[發明專利]直接分析取樣器

有效

• 申請號: 201711316923.8
• 申請日: 2017-12-12
• 公開（公告）號: CN108225846B
• 公開（公告）日: 2020-07-24
• 發明（設計）人: D·拜恩斯;J-P·費爾赫芬
• 申請（專利權）人: 賀利氏電測騎士國際有限公司
• 主分類號: G01N1/20
• 分類號: G01N1/20;G01N21/25
• 代理公司: 北京市中咨律師事務所 11247
• 代理人: 馬利蓉;吳鵬

1.一種用于從熔融金屬熔池取得樣品的取樣器，所述取樣器包括：

-樣品室組件，所述樣品室組件具有蓋板和殼體，所述殼體具有設置有流入管道的浸漬端并且包括樣品腔，所述樣品腔包括與所述流入管道流動連通的分配區、與所述分配區相鄰的分析區以及在熔融金屬的流動方向上與所述分析區相鄰并且在所述分析區的下游的通氣區，所述分析區的一部分與所述分配區重疊，

其特征在于：

-所述流入管道的截面積在所述分析區的截面積的0.5倍與2倍之間并且在所述分配區的最大截面積的0.20倍與0.70倍之間，

-所述分析區具有大于1.5mm小于3mm的深度，以及基于預定數量的分析部位而選擇的長度和寬度，

-所述通氣區具有0.1mm至1mm的深度、等于或小于所述分析區的寬度的寬度、和可計算的長度，

-所述樣品腔被尺寸確定為如下四個相鄰部段：

-第一部段，所述第一部段包括所述分析區的第一部分和所述分配區的位于下方的第一部分，所述第一部段具有與所述流入管道的內徑相等的長度L₁和與所述分析區的深度+所述流入管道的內徑+1mm之和相等的深度D₁，

-第二部段，所述第二部段包括所述分析區的第二部分和所述分配區的位于下方的第二部分，所述分配區的第二部分的底面成40°與90°之間的角度與所述分析區的底面交叉，所述第二部段具有能基于所述交叉角度計算的長度L₂和等于所述分析區的最大深度加上深度D₁兩者之和除以2的深度D₂，

-第三部段，所述第三部段包括所述分析區的其余第三部分，所述第三部段具有等于所述分析區的長度減去所述第一部段和第二部段的長度L₁、L₂的長度L₃，所述第三部段具有與所述分析區的深度相等的深度D₃，和

-第四部段，所述第四部段包括所述通氣區，所述第四部段具有與所述通氣區的可計算長度相等的長度L₄和與所述通氣區的深度相等的深度D₄，

-所述四個相鄰部段滿足下式：

(L₁/D₁)+(L₂/D₂)+(L₃/D₃)+(L₄/D₄)25。

2.根據權利要求1所述的取樣器，其特征在于，所述樣品腔和所述流入管道沿共同的縱向軸線對齊。

3.根據權利要求1或2所述的取樣器，其特征在于，所述樣品腔的寬度尺寸在熔融金屬的流動方向上在所述分配區的端部之后不增大。

4.根據權利要求1或2所述的取樣器，其特征在于，所述分析區和所述通氣區的總長度在20mm與50mm之間。

5.根據權利要求1或2所述的取樣器，其特征在于，所述分析區在所述分配區上方具有均勻深度并且所述分析區的截面積在熔融金屬的流動方向上逐漸變小。

6.根據權利要求1或2所述的取樣器，其特征在于，所述通氣區的截面積在熔融金屬的流動方向上逐漸變小。

7.根據權利要求1或2所述的取樣器，其特征在于，所述分析區、分配區和通氣區被構造為多個相鄰部段，每個部段具有一長度與深度比，所述多個部段的長度與深度比之和大于25。

8.根據權利要求1或2所述的取樣器，其特征在于，所述分配區、分析區和通氣區被構造為多個相鄰部段，每個部段具有一長度與深度比，所述部段的長度與深度比隨著離位于所述殼體的浸漬端的用于接納流入管道的第一開口的距離增大而相繼增大。

9.根據權利要求1所述的取樣器，其特征在于，所述分配區的第二部分的底面成60°的角度與所述分析區的底面交叉。

10.根據權利要求4所述的取樣器，其特征在于，所述分析區和所述通氣區的總長度為30mm。