[發(fā)明專利]一種提高帶隙基準源精度的乘數(shù)修調(diào)補償技術

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201711316170.0
• 申請日: 2017-12-06
• 公開（公告）號: CN107817862A
• 公開（公告）日: 2018-03-20
• 發(fā)明（設計）人: 王軍;任賀宇;周小潔;趙傳陣
• 申請（專利權）人: 天津工業(yè)大學
• 主分類號: G05F1/567
• 分類號: G05F1/567
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發(fā)明提出了一種提高帶隙基準源精度的乘數(shù)修調(diào)補償技術，歸屬于微電子學和傳感技術等領域。

背景技術

帶隙基準源作為精密電路系統(tǒng)的電源，參考電壓等部分，其精度對系統(tǒng)的穩(wěn)定性有著重要作用；為提高帶隙基準源的精度，人們提出了多種對帶隙基準源溫度特性曲線進行曲率補償?shù)募夹g，但是這些技術基本是基于加減法實現(xiàn)，即使用原來的帶隙基準源溫度特性曲線與所用的曲率補償曲線相加減，實現(xiàn)曲率補償，這類基于加減法的曲率補償方法一方面精度提高的程度還不夠高，另一方面往往需要增加電路來實現(xiàn)補償，導致電路復雜度，芯片面積，成本，功耗的增加。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提出一種簡便高效的提高帶隙基準源精度的乘數(shù)修調(diào)補償技術，該技術以乘法的方式改善帶隙基準源溫漂小的溫度區(qū)間內(nèi)的溫度特性曲線，并極大改善帶隙基準源溫漂大的溫度區(qū)間內(nèi)的溫度特性曲線，從而簡便高效的提高帶隙基準源在整體溫度范圍內(nèi)的精度，以克服現(xiàn)有技術的不足。

為了達到上述目的，本發(fā)明提出了一種提高帶隙基準源精度的乘數(shù)修調(diào)補償技術，采用乘數(shù)修調(diào)曲線與帶隙基準源溫度特性曲線相乘的方法，該發(fā)明中乘數(shù)修調(diào)曲線作為帶隙基準源溫度曲線的乘法系數(shù)，合理設計其在不同溫度區(qū)間內(nèi)的函數(shù)值，對帶隙基準源的溫度特性曲線進行曲率修調(diào)，簡便高效地得到精度高的修調(diào)后帶隙基準源的溫度特性曲線。

所述乘數(shù)修調(diào)曲線是一種函數(shù)值隨溫度變化且最大值為1的曲線，在帶隙基準源溫漂較小的溫度區(qū)間，乘數(shù)修調(diào)曲線的函數(shù)值較大，在帶隙基準源溫漂較大的溫度區(qū)間，乘數(shù)修調(diào)曲線的函數(shù)值較小。

所述提高帶隙基準源精度的乘數(shù)修調(diào)補償技術使用所述乘數(shù)修調(diào)曲線與所述帶隙基準源的溫度特性曲線相乘，當乘數(shù)修調(diào)曲線的函數(shù)值接近1時，可改善帶隙基準源溫漂較小的溫度區(qū)間內(nèi)的溫度特性曲線，當乘數(shù)修調(diào)曲線的函數(shù)值較小時，可極大改善帶隙基準源溫漂大的溫度區(qū)間內(nèi)的溫度特性曲線，從而極大提高帶隙基準源的精度。

所述帶隙基準源的溫度特性曲線是由各種帶隙基準電路產(chǎn)生的基準源隨溫度變化的曲線，從其形狀上分類，主要有下開口的類拋物曲線，上開口的類拋物曲線和類正弦曲線。

本發(fā)明具有的優(yōu)點在于簡便高效，易于實現(xiàn)，靈活通用；可大幅度提高帶隙基準源的精度；可通過不增加電路復雜度的方式實現(xiàn)，減小芯片面積，節(jié)約成本，降低功耗。

附圖說明

圖1是本發(fā)明所提出的一種提高帶隙基準源精度的乘數(shù)修調(diào)補償技術的原理圖；

圖2是本發(fā)明在修調(diào)具有下開口類拋物溫度特性曲線的帶隙基準源時的乘數(shù)修調(diào)原理圖；

圖3是本發(fā)明在修調(diào)具有上開口類拋物溫度特性曲線的帶隙基準源時的乘數(shù)修調(diào)原理圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和實施方式；

請參閱圖1，為本發(fā)明所提出的一種提高帶隙基準源精度的乘數(shù)修調(diào)補償技術的原理圖；本發(fā)明提出的一種提高帶隙基準源精度的乘數(shù)修調(diào)補償技術，采用乘數(shù)修調(diào)曲線與帶隙基準源溫度特性曲線相乘的方法，本發(fā)明中乘數(shù)修調(diào)曲線作為帶隙基準源溫度曲線的乘法系數(shù)，合理設計其在不同溫度區(qū)間內(nèi)的函數(shù)值，對帶隙基準源的溫度特性曲線進行曲率修調(diào)，得到精度高的修調(diào)后帶隙基準源的溫度特性曲線。

所述帶隙基準源的溫度特性曲線是由各種帶隙基準電路產(chǎn)生的基準源隨溫度變化的曲線，從其形狀上分類，主要有下開口的類拋物曲線，上開口的類拋物曲線和類正弦曲線。

所述乘數(shù)修調(diào)曲線是一種函數(shù)值隨溫度變化且最大值為1的曲線，在帶隙基準源溫漂較小的溫度區(qū)間，乘數(shù)修調(diào)曲線的函數(shù)值較大，在帶隙基準源溫漂較大的溫度區(qū)間，乘數(shù)修調(diào)曲線的函數(shù)值較小。

所述乘數(shù)修調(diào)補償技術使用所述乘數(shù)修調(diào)曲線與所述帶隙基準源的溫度特性曲線相乘，當乘數(shù)修調(diào)曲線的函數(shù)值接近1時，可改善帶隙基準源溫漂較小的溫度區(qū)間內(nèi)的溫度特性曲線，當乘數(shù)修調(diào)曲線的函數(shù)值較小時，可極大改善帶隙基準源溫漂大的溫度區(qū)間內(nèi)的溫度特性曲線，從而極大提高帶隙基準源的精度。

請參閱圖2，為本發(fā)明在修調(diào)具有下開口溫度特性曲線的帶隙基準源時的修調(diào)原理圖，其乘數(shù)修調(diào)補償原理與圖1中相同。

請參閱圖3，為本發(fā)明在修調(diào)具有上開口溫度特性曲線的帶隙基準源時的修調(diào)原理圖，其乘數(shù)修調(diào)補償原理與圖1中相同。

以上所述內(nèi)容僅為本發(fā)明的較佳實施例，不能被認為用于限定本發(fā)明的實施范圍；凡依本發(fā)明申請范圍所作的均等變化與改進等，均應仍歸屬于本發(fā)明的專利涵蓋范圍之內(nèi)。