[發明專利]光學輻射標定裝置

在審

• 申請號: 201711308833.4
• 申請日: 2017-12-11
• 公開（公告）號: CN107907210A
• 公開（公告）日: 2018-04-13
• 發明（設計）人: 雷正偉;呂艷梅;劉海濤;牛剛;張東;甄洪濤;夏明飛;郭曉冉
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍63908部隊
• 主分類號: G01J1/04
• 分類號: G01J1/04;G01J1/08
• 代理公司: 石家莊輕拓知識產權代理事務所(普通合伙)13128
• 代理人: 王占華

技術領域

本發明涉及光學輻射測量和標定的裝置技術領域，尤其涉及一種光學輻射標定裝置。

背景技術

隨著各種光電測角裝置的廣泛應用，對輻射量值檢定和性能檢測的需求逐漸增多。目前，各類光電測角裝置（如電視測角儀）光譜范圍和準確度、測角靈敏度、抗干擾性等指標是直接關系到裝置能否有效探測目標，精確形成并傳輸信息的關鍵。為檢測相關光學技術指標，一般配備帶有光學輻射標準單元的各類參數檢測儀，實施光電探測裝置的量值測試和性能診斷。根據各類測角裝置和參數檢測儀的技術工藝特點，隨著出廠時間增加，其光學輻射探測單元和輻射標準單元會變暗，探測靈敏度和模擬目標與背景的濾光片透過率會不斷衰減，探測識別率和模擬標準目標特征也會變化，標定需求尤為迫切。

目前對光學輻射探測單元和光學輻射標準單元的標校方法一般為：在生產線上，建立技術復雜、體積龐大的生產工裝，測角裝置的光學輻射探測單元、參數檢測儀的光學輻射標準單元與生產工裝進行互檢，未能實現有效的量值溯源和測量過程受控；其中，生產工裝是通過各種環境試驗篩選、設計定型的專裝，存在試驗和研制成本很高、維護困難、壽命短和無法更新等諸多問題；參數檢測儀配發后一般有兩種方法標定：一種是不對光學輻射光源標校，僅憑經驗更換損壞的燈源等，進行必要的維修和保養；第二種是采用“生產工裝”對參數檢測儀的光學輻射光源進行標校，然后再用被標校出來的參數檢測儀對批量生產的測角裝置進行標校。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是如何提供一種具備光學輻射標準輸出標定和光學輻射測量功能的光學輻射標定裝置。

為解決上述技術問題，本發明所采取的技術方案是：一種光學輻射標定裝置，其特征在于：包括光學輻射標準單元、光學輻射測量單元以及主控計算機，所述光學輻射標準單元和光學輻射測量單元受控于所述主控計算機， 所述光學輻射標準單元在主控計算機的控制下輸出標準的光學輻射量值，用于標定各類光電探測類儀器或模塊的光電響應特性參數；所述光學輻射測量單元用于在主控計算機的控制下，對被檢對象的光學輸出量值和光譜特性進行測定；

用國家基準校準后的輻射計標定光學輻射標準單元，得到光學輻射標準單元光源輻射亮度值，通過光學輻射標準單元作為光源測量各類光電探測類儀器或模塊的電壓響應值，建立輻射亮度值與電壓響應值的函數關系，實現被校對象光電響應特性的標定；

用標定后的光學輻射標準單元，將光學輻射量值傳遞給光學輻射測量單元，實現光學輻射測量單元的光電測量特性的標定；然后將光學輻射測量單元對準被測對象，通過測量被測對象的光學輻射量值和光譜特性，實現被測對象光學輻射輸出特性的標定。

進一步的技術方案在于：所述光學輻射標準單元包括固定光源、可調光源部和光電探測單元，所述固定光源和可調光源受控于所述主控計算機，固定光源在所述主控計算機的控制下輸出光輻射值一定的光，用于對所述光學輻射標準單元的光輻射值實現粗輸出；所述可調光源部通過主控計算機進行光學輻射亮度的精細控制輸出，并與固定光源輸出的光進行混合后輸出，實現對所述輻射標準單元的標準輻射亮度的可調輸出；所述光電探測單元受控于所述主控計算機，用于檢測光學輻射標準單元視場輸出的綜合輻射亮度，形成可調光源部精確輸出的控制偏量。

進一步的技術方案在于：所述固定光源包括第一箱體，所述第一箱體上設置有積分球殼體，所述積分球殼體包括前半球殼體和后半球殼體，所述前半球殼體上均勻的設置有若干個固定光源燈，固定光源燈上的發光部分位于所述積分球殼體內，且固定光源燈發出的光強度固定，所述固定光源燈之間的前半球殼體上設置有光學輸出孔，所述固定光源燈之間的前半球殼體上設有內置的LED標定燈和光電探測單元，所述LED標定燈的光源部分以及光電探測單元的探測部分位于所述積分球殼體內，所述光電探測單元的信號輸出端與所述主控計算機的信號輸入端連接，所述光電探測單元用于測量積分球殼體內光學輻射量值。

進一步的技術方案在于：所述積分球殼體的下端通過型材進行支撐，且所述積分球殼體上設有金屬外罩，用于保護所述積分球殼體，所述金屬外罩的左右斜面上設有把手。