[發明專利]基于納米孔的分子檢測與測序

在審

• 申請號: 201711308364.6
• 申請日: 2013-01-18
• 公開（公告）號: CN107828877A
• 公開（公告）日: 2018-03-23
• 發明（設計）人: 蘭德爾·戴維斯;R·陳
• 申請（專利權）人: 吉尼亞科技公司
• 主分類號: C12Q1/6874
• 分類號: C12Q1/6874;G01N33/487
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司11262
• 代理人: 王瑋瑋,鄭霞

1.一種用于鑒定分子或其部分的方法，該方法包括：

(a)提供在鄰近或接近電極設置的膜中包含至少一個納米孔的芯片，其中該電極被適配為檢測通過該納米孔的電流；

(b)將分子或其部分插入該納米孔；

(c)改變跨納米孔和/或跨膜施加的電壓；和

(d)測量多個電壓下的電流以鑒定所述分子或其部分。

2.如權利要求1所述的方法，其中所述分子為聚合物分子，并且當該聚合物分子穿過或駐留于所述納米孔中時，該聚合物分子的部分得到鑒定。

3.如權利要求2所述的方法，其中所述聚合物分子為核酸，并且所述聚合物分子的部分為核酸或成組的核酸。

4.如權利要求2所述的方法，其中所述聚合物分子為多肽，并且所述多肽的部分為氨基酸或成組的氨基酸。

5.如權利要求2所述的方法，其中借助于一個或多個減速物分子減慢所述聚合物分子通過納米孔的速率，并且其中當所述聚合物分子的穿行速度減慢時，所述聚合物分子的部分得到鑒定。

6.如權利要求5所述的方法，其中單個減速物分子包含核糖核酸。

7.如權利要求2所述的方法，其中所述聚合物分子被捕獲在納米孔中。

8.如權利要求7所述的方法，其中使所述聚合物分子往復地穿過納米孔以多次鑒定所述聚合物分子的至少一些部分。

9.如權利要求7所述的方法，其中所述聚合物分子為單鏈核酸分子，并且所述分子被在納米孔任意一側形成的大體積結構捕獲在納米孔中。

10.如權利要求2所述的方法，其中以沿著所述聚合物分子長度的順序鑒定所述聚合物分子的部分。