[發(fā)明專利]一種改善IC橋位偏移及脫落的工藝在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711306992.0 | 申請日: | 2017-12-11 |
| 公開(公告)號: | CN108366495A | 公開(公告)日: | 2018-08-03 |
| 發(fā)明(設計)人: | 張惠琳 | 申請(專利權)人: | 信豐福昌發(fā)電子有限公司 |
| 主分類號: | H05K3/34 | 分類號: | H05K3/34 |
| 代理公司: | 蘇州潤桐嘉業(yè)知識產權代理有限公司 32261 | 代理人: | 趙麗麗 |
| 地址: | 341600 江西*** | 國省代碼: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 橋位 偏移 全檢 顯影 阻焊 附著力 印刷 油墨稀釋劑 物理實驗 油墨溶劑 制作工藝 均勻性 曝光機 前處理 碳酸鉀 小距離 烘干 揮發(fā) 切片 側蝕 吹干 對位 磨板 噴砂 酸洗 吸干 油墨 預烤 拉網(wǎng) 測試 曝光 生產 | ||
本發(fā)明涉及PCB制作工藝領域,提供一種改善IC橋位偏移及脫落的工藝,克服現(xiàn)有阻焊生產中IC小距離、IC橋位偏移及IC橋位脫落的缺陷。包括以下步驟:(1)阻焊前處理,具體包括酸洗、磨板、噴砂、吸干、吹干、烘干;(2)印刷,其中油墨稀釋劑添加:30ml/KG,43T斜拉網(wǎng)、連塞帶印、白網(wǎng)印刷;(3)預烤;(4)對位曝光,采用半自動曝光機;(5)顯影,采用碳酸鉀顯影;(6)QC全檢,具體采用40倍鏡全檢;(7)后烤,先烤低溫,再烤高溫155℃/80min;(8)物理實驗測試,具體切片確認油墨側蝕。本發(fā)明可延長油墨溶劑的揮發(fā)時間提升保橋能力;增加能量及能量均勻性,可提升IC橋位的附著力。
技術領域
本發(fā)明涉及PCB制作工藝領域,具體涉及一種改善IC橋位偏移及脫落的工藝。
背景技術
PCB(printed Circuit Board)中文名字印制電路板,又稱印刷線路板,是重要的電子部件,是電子元器件的支撐體,是電子元器件電器連接的載體。電子設備采用印制板后,由于同類印制板的一致性,從而避免了人工接線的差錯,并可實現(xiàn)電子元件自動插件或貼裝.自動焊錫.自動檢測,保證了電子設備的質量及穩(wěn)定性。提高了勞動生產效率.降低了成本,并便于維修。隨著高性能高精密的電子產品的高速發(fā)展。電子產品對印制板產品要求向高密度.高精度.細孔徑.細導線.細間距.高可靠.多層化.高速傳輸,輕量薄形發(fā)展。所以對于PCB的IC偏移度及可靠性的要求越來越嚴格。制作難度越來越高。為保證IC焊接的牢靠性及電器性能不受影響。設備及基板漲縮導致對位準確度偏移會在1.25mil左右。隨著IC小間距7mil的位置,IC橋位與IC兩邊需保證1mil以上的間距,為改善偏位阻焊不上IC加大開窗至2.25mil,減小阻焊IC橋位至2.5mil,給生產過程中帶來了IC容易脫落.偏位上IC的因素,為保證效率不改變印刷方式情況下,(白網(wǎng)連塞帶印)阻焊顯影即要保證孔內油墨能沖干凈,又要保證IC橋位不脫落,需要在設備及工藝上改善阻焊IC保橋能力。因此在生產過程中提升產品,品質是業(yè)界共同追求的目標。
發(fā)明內容
本發(fā)明要解決的問題是克服現(xiàn)有阻焊生產中IC小距離、IC橋位偏移及IC橋位脫落的缺陷。提供一種改善IC橋位偏移及IC橋位脫落的工藝。
為解決以上技術問題,本發(fā)明提供了如下技術改善方案:
本發(fā)明改善阻焊生產IC橋位偏移及掉橋的工藝包括以下步驟:
(1)阻焊前處理,具體包括酸洗、磨板、噴砂、吸干、吹干、烘干;
(2)印刷,油墨稀釋劑添加:30ml/KG,43T斜拉網(wǎng)、連塞帶印、白網(wǎng)印刷;
(3)預烤;
(4)對位曝光,采用半自動曝光機;
(5)顯影,采用碳酸鉀;
(6)QC全檢,具體40倍鏡全檢;
(7)后烤,先烤低溫,再高溫烤155℃/80min;
(8)物理實驗測試,具體切片確認油墨側蝕;
高溫后烤做物理測試,切片確認油墨側蝕。側蝕越大越容易掉橋,表面處理時IC橋位存在越大脫落的風險。側蝕越小保橋能力越強。
進一步說明,所述阻焊生產IC小距離。IC橋位偏移及IC橋位脫落的問題。
進一步說明,所述步驟(3)現(xiàn)有要求預烤(隧道烤爐73℃/8段/每段408秒,合計54分鐘)本技術要求預烤(隧道烤爐73℃/8段/每段468秒,合計62分鐘)本技術中預烤增加8分鐘可延長油墨溶劑的揮發(fā)時間提升保橋能力。
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