[發(fā)明專利]一種利用三坐標(biāo)測量機對多孔相交位置度的檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201711302583.3
• 申請日: 2017-12-11
• 公開（公告）號: CN108195267B
• 公開（公告）日: 2019-11-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 方強;余壯;徐鋼;張辰
• 申請（專利權(quán)）人: 中國航空工業(yè)集團公司洛陽電光設(shè)備研究所
• 主分類號: G01B5/24
• 分類號: G01B5/24
• 代理公司: 61204 西北工業(yè)大學(xué)專利中心
• 代理人: 王鮮凱<國際申請>=<國際公布>=<進入

本發(fā)明涉及一種利用三坐標(biāo)測量機對多孔相交位置度的檢測方法，測量基本形狀為三個彼此相交孔的殼體零件，殼體上有三個彼此相交的孔形成的三個相交軸線，分別命名為X、Y、Z軸，Z軸與X軸形成固定角度，Y軸與X、Z軸形成的平面垂直，且過其交點，解算Y軸和Z軸相對X軸和基準(zhǔn)平面的位置度。通過理論分析求解，然后通過編程，利用三坐標(biāo)測量機的自動檢測解算，能夠快速準(zhǔn)確的測量出彼此相交孔軸線的位置度。該方法能夠快速準(zhǔn)確的測量出彼此相交孔軸線的位置度，具有較好的推廣性。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于檢測技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種利用三坐標(biāo)測量機對多孔相交位置度的檢測方法，利用三坐標(biāo)測量機通過建立不同的坐標(biāo)系進行坐標(biāo)變換然后對位置度進行測試，測試方案簡單高效且精度高。

背景技術(shù)

復(fù)雜光學(xué)系統(tǒng)中多光路匯交非常普遍，裝配光學(xué)零件的殼體也就存在多孔彼此相交的情況。而殼體相交孔的位置精度直接決定著光學(xué)系統(tǒng)的性能，因此對多孔相交位置度的檢測就顯得非常重要。

過去都是通過設(shè)計綜合檢具定性的測量位置度，但是對要求高的光學(xué)系統(tǒng)來說，提高殼體的加工精度對光學(xué)系統(tǒng)的改善有著非常重要的作用。

目前三坐標(biāo)測量機可以通過理論分析求解，然后通過編程，利用三坐標(biāo)測量機的自動檢測解算，能夠快速準(zhǔn)確的測量出彼此相交孔軸線的位置度。

發(fā)明內(nèi)容

要解決的技術(shù)問題

為了避免現(xiàn)有技術(shù)的不足之處，本發(fā)明提出一種利用三坐標(biāo)測量機對多孔相交位置度的檢測方法，解決光學(xué)系統(tǒng)中殼體類零件多孔相交位置度難以測試的問題。通過三坐標(biāo)編程，建立不同的坐標(biāo)系，利用三坐標(biāo)測量機的自動檢測解算，能夠快速準(zhǔn)確的測量出彼此相交孔軸線的位置度。

技術(shù)方案

一種利用三坐標(biāo)測量機對多孔相交位置度的檢測方法，其特征在于：被測殼體零件上具有三個彼此相交的孔形成的三個相交軸線，多孔相交位置度的檢測方法步驟如下：

步驟1、建立坐標(biāo)系：將被測殼體零件置于三坐標(biāo)測量機的測量臺，分別以三個孔的軸線作為X、Y、Z軸，建立三個坐標(biāo)系，其中：Z軸與X軸形成固定角度，Y軸與X、Z軸形成的平面垂直，且過其交點；

步驟2：當(dāng)被測軸線與X軸、Y軸均成理論正確角度時，測量被測軸線對理論X軸、Y軸的尺寸偏離得到Δx和Δy；

步驟3：計算由尺寸偏離引起的被測軸線的位置度誤差為：

步驟4：測量被測軸線與理論X軸、Y軸的兩個方向的角度偏差Δα₁和Δα₂；

步驟5：計算由角度偏差引起的位置度誤差為：

步驟6：計算Z軸的位置度為：

其中：L為被測軸線的長度。

有益效果

本發(fā)明提出的一種利用三坐標(biāo)測量機對多孔相交位置度的檢測方法，測量基本形狀為三個彼此相交孔的殼體零件，殼體上有三個彼此相交的孔形成的三個相交軸線，分別命名為X、Y、Z軸，Z軸與X軸形成固定角度，Y軸與X、Z軸形成的平面垂直，且過其交點，解算Y軸和Z軸相對X軸和基準(zhǔn)平面的位置度。位置度公差帶是以理想位置為軸，一定直徑的圓柱面內(nèi)的區(qū)域，將被測實際要素分解為X軸和Y軸兩個方向的尺寸偏差，求其2倍均方根值，又有兩個方向的角度偏離，求其孔深度和偏離角度的正弦積的2倍均方根，然后再對位置偏差和角度偏差位置度的2倍均方根，即是最終的所求解的位置度公差。

通過理論分析求解，然后通過編程，利用三坐標(biāo)測量機的自動檢測解算，能夠快速準(zhǔn)確的測量出彼此相交孔軸線的位置度。該方法能夠快速準(zhǔn)確的測量出彼此相交孔軸線的位置度，具有較好的推廣性。

附圖說明