[發明專利]痕量檢測汞離子的方法有效
| 申請號： | 201711296419.6 | 申請日： | 2017-12-08 |
| 公開（公告）號： | CN108169202B | 公開（公告）日： | 2020-09-25 |
| 發明（設計）人： | 鮑皓明;張洪文;蔡偉平 | 申請（專利權）人： | 中國科學院合肥物質科學研究院 |
| 主分類號： | G01N21/65 | 分類號： | G01N21/65 |
| 代理公司： | 合肥和瑞知識產權代理事務所(普通合伙) 34118 | 代理人： | 任崗生 |
| 地址： | 230031 安徽省合肥*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 痕量 檢測 離子 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種痕量檢測汞離子的方法，包括表面增強拉曼散射法，其特征在于完成步驟如下：
步驟1，先將其外包覆有硫化銅殼層的金納米顆粒置于汞離子溶液中浸泡，其浸泡的時間為5-120min，再對其進行固液分離處理，得到生成物；
步驟2，將生成物作為表面增強拉曼散射的活性基底，使用激光拉曼光譜儀測量其上反應富集的汞；
所述金納米顆粒的粒徑為10-200nm，其外包覆的硫化銅殼層的殼厚為0.6-25nm。
2.根據權利要求1所述的痕量檢測汞離子的方法，其特征是固液分離處理為離心分離或過濾分離。
3.根據權利要求2所述的痕量檢測汞離子的方法，其特征是離心分離時的轉速為3000-7000r/min、時間為3-7min。
4.根據權利要求1所述的痕量檢測汞離子的方法，其特征是激光拉曼光譜儀的激發波長為532nm或633nm或785nm、輸出功率為0.1-25mW/μm2、積分時間為1-20s。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院合肥物質科學研究院，未經中國科學院合肥物質科學研究院許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711296419.6/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
