[發(fā)明專利]一種積分球系統(tǒng)和測(cè)試方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711296091.8
• 申請(qǐng)日: 2017-12-08
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN108061707A
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-05-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 曹勇;袁浩;葉智文
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 湖南文理學(xué)院
• 主分類號(hào): G01N21/01
• 分類號(hào): G01N21/01;G01N21/55;G01N21/59
• 代理公司: 北京風(fēng)雅頌專利代理有限公司 11403
• 代理人: 曾志鵬

1.一種積分球系統(tǒng)，其特征在于，包括光源裝置、積分球裝置、聯(lián)動(dòng)裝置(6)、樣品架移動(dòng)裝置(7)和輸入光探測(cè)裝置；

所述積分球裝置包括本體(4)和標(biāo)準(zhǔn)白板Ⅰ(631)，本體(4)內(nèi)部設(shè)置有球形空腔，還包括設(shè)置在本體(4)上的連通外界和球形空腔的輸入孔(41)、測(cè)試孔(42)以及安裝有輸出光探測(cè)器(5)的輸出孔(43)；

所述聯(lián)動(dòng)裝置(6)包括電機(jī)(3)、和電機(jī)(3)的傳動(dòng)軸連接的導(dǎo)軌Ⅰ(62)、固定在導(dǎo)軌Ⅰ(62)上的連接桿(61)以及用于遮擋測(cè)試孔(42)的遮光板(65)，所述導(dǎo)軌Ⅰ(62)上設(shè)置有白板架Ⅰ(63)，白板架Ⅰ(63)上安裝有標(biāo)準(zhǔn)白板Ⅰ(631)；

當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)白板Ⅰ(631)不密封輸入孔(41)時(shí)，遮光板(65)遮擋測(cè)試孔(42)，光不能從外界穿過(guò)測(cè)試孔(42)進(jìn)入球形空腔；當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)白板Ⅰ(631)密封輸入孔(41)時(shí)，遮光板(65)不遮擋測(cè)試孔(42)，光從外界穿過(guò)測(cè)試孔(42)進(jìn)入球形空腔；

所述樣品架移動(dòng)裝置(7)位于遮光板(65)和測(cè)試孔(42)之間，包括電機(jī)(3)、和電機(jī)(3)的傳動(dòng)軸連接的導(dǎo)軌Ⅱ(71)以及設(shè)置在導(dǎo)軌Ⅱ(71)上的白板架Ⅱ(72)和樣品架(73)，所述白板架Ⅱ(72)安裝有標(biāo)準(zhǔn)白板Ⅱ(721)。

2.如權(quán)利要求1所述的積分球系統(tǒng)，其特征在于，所述輸入光探測(cè)裝置包括半透半反鏡(8)以及檢測(cè)透過(guò)半透半反鏡(8)的光線的輸入光探測(cè)器(9)。

3.如權(quán)利要求1或2所述的積分球系統(tǒng)，其特征在于，所述光源裝置包括光源、半透半反鏡和全反射鏡，所述光源發(fā)出的光穿過(guò)半透半反鏡后，分成兩束光，兩束光在全反射鏡的作用下分別進(jìn)入輸入光探測(cè)裝置和積分球裝置。

4.如權(quán)利要求1所述的積分球系統(tǒng)，其特征在于，所述本體(4)的外表面設(shè)置有供標(biāo)準(zhǔn)白板Ⅰ(631)滑動(dòng)的平面，所述輸入孔(41)位于上述平面上。

5.如權(quán)利要求1所述的積分球系統(tǒng)，其特征在于，所述輸入孔(41)的孔徑為5～8mm。

6.如權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的積分球系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試孔(42)的孔徑為5～8mm。

7.如權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的積分球系統(tǒng)，其特征在于，所述本體(4)的材料為鋁、陶瓷或銅。

8.如權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的積分球系統(tǒng)，其特征在于，所述球形空腔的內(nèi)壁上涂覆的材料為氧化鎂或硫酸鋇。

9.一種應(yīng)用如權(quán)利要求1-8任一項(xiàng)所述的積分球系統(tǒng)的測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試方法為測(cè)試待測(cè)樣品的反射率，包括兩個(gè)步驟，先進(jìn)行背景測(cè)試，再進(jìn)行樣品測(cè)試：

a背景測(cè)試：?jiǎn)?dòng)電機(jī)(3)，使標(biāo)準(zhǔn)白板Ⅰ(631)不遮擋輸入孔(41)，遮光板(65)遮擋測(cè)試孔(42)，標(biāo)準(zhǔn)白板Ⅱ(721)位于測(cè)試孔(42)處，光源裝置發(fā)出的光經(jīng)過(guò)輸入孔(41)，從輸出孔(43)射出，計(jì)算得到背景參數(shù)B＝I1b/I2b，I1b、I2b分別為輸出光探測(cè)器(5)和輸入光探測(cè)裝置檢測(cè)得到的光強(qiáng)；

b樣品測(cè)試：樣品架(73)內(nèi)放置樣品，啟動(dòng)電機(jī)(3)，使樣品位于測(cè)試孔(42)處，光源裝置發(fā)出的光經(jīng)過(guò)輸入孔(41)，從輸出孔(43)射出，計(jì)算得到樣品的反射率R＝(I1/I2)/B＝(I1/I2)/(I1b/I2b)，I1、I2分別為輸出光探測(cè)器(5)和輸入光探測(cè)裝置檢測(cè)得到的光強(qiáng)。

10.一種應(yīng)用如權(quán)利要求1-8任一項(xiàng)所述的積分球系統(tǒng)的測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試方法為測(cè)試待測(cè)樣品的透過(guò)率，包括兩個(gè)步驟，先進(jìn)行背景測(cè)試，再進(jìn)行樣品測(cè)試：

a背景測(cè)試：樣品架(73)不放置樣品，啟動(dòng)電機(jī)(3)，使標(biāo)準(zhǔn)白板Ⅰ(631)位于輸入孔(41)處，遮光板(65)不遮擋測(cè)試孔(42)，樣品架(73)位于測(cè)試孔(42)處，光源裝置發(fā)出的光經(jīng)過(guò)測(cè)試孔(42)，從輸出孔(43)射出，計(jì)算得到背景參數(shù)B＝I1b/I2b，I1b、I2b分別為輸出光探測(cè)器(5)和輸入光探測(cè)裝置檢測(cè)得到的光強(qiáng)；

b樣品測(cè)試：樣品架(73)放置樣品，啟動(dòng)電機(jī)(3)，使樣品位于測(cè)試孔(42)處，光源裝置發(fā)出的光經(jīng)過(guò)測(cè)試孔(42)，從輸出孔(43)射出，計(jì)算得到樣品的透過(guò)率T＝(I1/I2)/B＝(I1/I2)/(I1b/I2b)，I1、I2分別為輸出光探測(cè)器(5)和輸入光探測(cè)裝置檢測(cè)得到的光強(qiáng)。