[發明專利]顯示屏均勻性的測試方法、終端及計算機可讀存儲介質有效
| 申請號: | 201711293573.8 | 申請日: | 2017-12-08 | 
| 公開(公告)號: | CN108091288B | 公開(公告)日: | 2021-08-03 | 
| 發明(設計)人: | 王甜甜;韋澤垠 | 申請(專利權)人: | 深圳TCL新技術有限公司 | 
| 主分類號: | G09G3/00 | 分類號: | G09G3/00 | 
| 代理公司: | 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287 | 代理人: | 宋朝政 | 
| 地址: | 518052 廣東省深圳市南山區中*** | 國省代碼: | 廣東;44 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯示屏 均勻 測試 方法 終端 計算機 可讀 存儲 介質 | ||
1.一種顯示屏均勻性的測試方法,其特征在于,所述測試方法包括以下步驟:
獲取待測屏的顯示狀態圖片,并獲取所述顯示狀態圖片的有效區域,作為所述待測屏對應的測試圖片;
獲取預設的樣本圖片,計算所述樣本圖片對應像素值的樣本均值;
獲取所述測試圖片對應的測試像素值,將所述測試像素值和所述樣本均值進行對比,并根據對比結果確定所述待測屏均勻性的測試結果;
其中,所述獲取所述測試圖片對應的測試像素值,將所述測試像素值和所述樣本均值進行對比,并根據對比結果確定所述待測屏均勻性的測試結果的步驟具體包括:
獲取所述測試圖片內各個像素點對應的測試像素值,將所述測試像素值和所述樣本均值進行對比,判斷是否存在測試像素值大于所述樣本均值的像素點;
在存在所述測試像素值大于所述樣本均值的像素點時,則判定所述待測屏的均勻性不滿足測試要求;
獲取所述測試像素值大于所述樣本均值的像素點,作為所述測試圖片中不均勻區域的峰值像素點,并獲取所述峰值像素點的坐標位置;
根據預設劃分規則,將所述測試圖片均等劃分為區域測試圖片,并將所述區域測試圖片與對應的區域樣本圖片疊加處理得到各個區域對應的測試疊加圖片;
獲取所述測試疊加圖片內各個像素點的疊加像素值,根據對應的區域樣本均值,判斷是否存在疊加像素值小于所述區域樣本均值的像素點;
在存在疊加像素值小于所述區域樣本均值的像素點時,則獲取所述疊加像素值小于所述區域樣本均值的像素點,作為所述測試圖片中不均勻區域的谷值像素點,并獲取所述谷值像素點的坐標位置;
根據所述谷值像素點的坐標位置和所述峰值像素點的坐標位置,確定所述測試圖片中不均勻區域的位置區域。
2.如權利要求1所述的測試方法,其特征在于,所述顯示狀態圖片包括全白場圖片和棋盤格圖片,所述獲取待測屏的顯示狀態圖片,并獲取所述顯示狀態圖片的有效區域,作為所述待測屏對應的測試圖片的步驟具體包括:
在所述待測屏播放白色圖片時,對所述待測屏進行拍攝,獲取所述待測屏的全白場圖片;
在所述待測屏播放棋盤格圖片時,對所述待測屏進行拍攝,獲取所述待測屏的棋盤格圖片;
根據所述棋盤格圖片和預設算法規則,獲取所述全白場圖片中的有效區域,作為所述待測屏對應的測試圖片。
3.如權利要求1所述的測試方法,其特征在于,所述獲取預設的樣本圖片,計算所述樣本圖片對應像素值的樣本均值的步驟具體包括:
獲取參考屏的樣本圖片,并獲取所述樣本圖片內各個像素點對應的樣本像素值;
根據預設計算規則,計算所述各個像素點對應的樣本像素值的樣本均值。
4.如權利要求1所述的測試方法,其特征在于,所述獲取預設的樣本圖片,計算所述樣本圖片對應像素值的樣本均值的步驟具體包括:
獲取參考屏的樣本圖片,根據預設劃分規則,將所述樣本圖片均等劃分為區域樣本圖片,并獲取各個區域樣本圖片內各個像素點對應的區域樣本像素值;
根據預設計算規則,計算所述各個區域樣本像素值對應的區域樣本均值。
5.一種顯示屏均勻性的測試終端,其特征在于,所述測試終端包括處理器、存儲器、以及存儲在所述存儲器上并可被所述處理器執行的測試程序,其中所述測試程序被所述處理器執行時,實現如權利要求1至4中任一項所述的測試方法的步驟。
6.一種計算機可讀存儲介質,其特征在于,所述計算機可讀存儲介質上存儲有測試程序,其中所述測試程序被處理器執行時,實現如權利要求1至4中任一項所述的測試方法的步驟。
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