[發明專利]乘性水印嵌入方法、提取方法及相關裝置

有效

• 申請號: 201711293328.7
• 申請日: 2017-12-08
• 公開（公告）號: CN107993182B
• 公開（公告）日: 2021-06-22
• 發明（設計）人: 劉金華;李永明;徐信葉;徐牡蓮;吳連發
• 申請（專利權）人: 上饒師范學院
• 主分類號: G06T1/00
• 分類號: G06T1/00
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 金相允

1.一種乘性水印嵌入方法，其特征在于，所述方法包括：

將原始圖像劃分為多個圖像子塊；

根據每個所述圖像子塊對應的能量值，按照預定規則篩選出預定個數的目標圖像子塊；

分別計算每個所述目標圖像子塊對應的第一低頻子帶圖像小波系數向量、高頻子帶小波系數能量及顯著度距離；

根據獲取到的所述高頻子帶小波系數能量及顯著度距離，生成自適應嵌入強度因子；其中，包括根據所述高頻子帶小波系數能量，利用平均值計算模型，獲得高頻子帶圖像能量；

根據所述高頻子帶圖像能量，利用公式：

μ₁＝a-c×exp(-ξ·E_HF)，

獲取基于圖像紋理掩蔽效應的第一強度因子，其中，a為預先配置的第一常參數，c為預先配置的第二常參數，ξ為預先配置的第三常參數，μ₁為第一強度因子，E_HF為所述高頻子帶圖像能量；根據每個所述目標圖像子塊對應的顯著度距離，獲得平均顯著度距離；接收輸入的最大顯著度距離；根據所述平均顯著度距離及最大顯著度距離，利用公式：

計算基于圖像顯著度模型的第二強度因子，其中，μ₂代表第二強度因子，D_max代表最大顯著度距離，D為平均顯著度距離；

根據所述第一強度因子及第二強度因子，獲得所述自適應嵌入強度因子；

其中，獲得所述自適應嵌入強度因子包括根據所述第一強度因子及第二強度因子，利用公式：

μ＝μ₁×μ₂-1，

獲得每個所述目標圖像子塊對應的所述自適應嵌入強度因子，其中μ代表所述自適應嵌入強度因子，μ₁代表第一強度因子，μ₂代表第二強度因子；

根據所述第一低頻子帶圖像小波系數向量、自適應嵌入強度因子及待嵌入的水印信息，計算每個所述目標圖像子塊對應的嵌入后的第二低頻子帶圖像小波系數向量；

根據所述第二低頻子帶圖像小波系數向量，將所述待嵌入的水印信息嵌入所述原始圖像中，以獲得水印圖像。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述計算每個所述目標圖像子塊對應的嵌入后的第二低頻子帶圖像小波系數向量的步驟包括：

獲取一符合預設規則的偽隨機序列；

根據對應的所述第一低頻子帶圖像小波系數向量、自適應嵌入強度因子、偽隨機序列及待嵌入的水印信息，利用公式：

y＝x*(1+μ(2b-1)w)，

獲得由每一個所述目標圖像子塊對應的所述第二低頻子帶圖像小波系數向量，其中，y代表所述第二低頻子帶圖像小波系數向量，x代表所述目標圖像子塊對應的所述第一低頻子帶圖像小波系數向量，μ代表所述自適應嵌入強度因子，所述待嵌入的水印信息包括水印信息比特，b代表所述水印信息比特，且b∈{0,1}，w代表偽隨機序列。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，計算每個所述目標圖像子塊對應的高頻子帶小波系數能量的步驟包括：

分別獲取每個所述目標圖像子塊對應的高頻水平細節子帶圖像能量、高頻垂直細節子帶圖像能量以及高頻對角細節子帶圖像能量；

根據所述高頻水平細節子帶圖像能量、高頻垂直細節子帶圖像能量以及高頻對角細節子帶圖像能量，利用平均值計算模型，獲取每一個所述目標圖像子塊對應的高頻子帶小波系數能量。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述第二低頻子帶圖像小波系數向量，將所述待嵌入的水印信息嵌入所述原始圖像中的步驟包括：

根據所述第二低頻子帶圖像小波系數向量對每一個所述目標圖像子塊進行小波逆變換，以獲得嵌入水印的所述目標圖像子塊；

將所述目標圖像子塊與所述原始圖像對應的其他圖像子塊進行組合，以獲得所述水印圖像。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

根據每一所述圖像子塊的像素值，獲得所述圖像子塊對應的能量值。