[發明專利]一種對于集成電路板電子元件的檢測設備

有效

• 申請號: 201711293117.3
• 申請日: 2017-12-08
• 公開（公告）號: CN108037442B
• 公開（公告）日: 2019-11-19
• 發明（設計）人: 周曉東;張健;劉超群;鄭世珍
• 申請（專利權）人: 江蘇富瀾克信息技術有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 11724 北京成實知識產權代理有限公司
• 代理人: 陳永虔<國際申請>=<國際公布>=<進入

本發明涉及一種集成電路測試設備，尤其涉及一種對于集成電路板電子元件的檢測設備。本發明要解決的技術問題是提供采用高度檢測法能夠對集成電路板密密麻麻大小不一的電子元件進行準確的檢測、在檢測過程中電子元件的引腳和焊點不會對質檢員的手造成傷害的一種對于集成電路板電子元件的檢測設備。為了解決上述技術問題，本發明提供了這樣一種對于集成電路板電子元件的檢測設備。本發明達到了采用高度檢測法能夠對集成電路板密密麻麻大小不一的電子元件進行準確的檢測、在檢測過程中電子元件的引腳和焊點不會對質檢員的手造成傷害的效果。

技術領域

本發明涉及一種集成電路測試設備，尤其涉及一種對于集成電路板電子元件的檢測設備。

背景技術

集成電路是一種微型電子器件或部件。采用一定的工藝，把一個電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上，然后封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構；其中所有元件在結構上已組成一個整體，使電子元件向著微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面邁進了一大步。它在電路中用字母IC表示。

目前在對集成電路的電子元件進行檢測的時候，尤其是對集成電路的電子元件在安裝的時候是否缺失進行檢測的時候，大部分都是采用質檢員進行觀察，但是在集成電路板中有很多的大小不一的電子元件，難以觀察到缺失的電子元件，而且在檢測的過程中，質檢員的眼睛疲勞也會降低檢測的準確率。

因此亟需研發一種采用高度檢測法能夠對集成電路板密密麻麻大小不一的電子元件進行準確的檢測、在檢測過程中電子元件的引腳和焊點不會對質檢員的手造成傷害的對于集成電路板電子元件的檢測設備來克服目前對集成電路板的電子元件進行缺失檢測的過程中存在采用人工很難對集成電路板密密麻麻大小不一的電子元件進行準確的檢測、在檢測過程中電子元件的引腳和焊點有可能對質檢員的手造成傷害的缺點。

發明內容

（1）要解決的技術問題

本發明為了克服目前對集成電路板的電子元件進行缺失檢測的過程中存在采用人工很難對集成電路板密密麻麻大小不一的電子元件進行準確的檢測、在檢測過程中電子元件的引腳和焊點有可能對質檢員的手造成傷害的缺點，本發明要解決的技術問題是提供采用高度檢測法能夠對集成電路板密密麻麻大小不一的電子元件進行準確的檢測、在檢測過程中電子元件的引腳和焊點不會對質檢員的手造成傷害的一種對于集成電路板電子元件的檢測設備。

（2）技術方案

為了解決上述技術問題，本發明提供了這樣一種對于集成電路板電子元件的檢測設備，包括有支架、固定板、第一連接板、第一滑軌、第一滑塊、第二連接板、刻度板、指針、托塊、第二滑軌、第二滑塊、第一連接桿、把手、電阻表、第一導軌、第一導套、第二連接桿、彈簧、滑套、電阻絲、探頭、擋塊和觸片，兩根支架前側下方之間通過焊接的方式安裝有固定板，固定板上中部左側和右側通過焊接的方式安裝有第一連接板，固定板內左右兩側通過螺栓連接的方式安裝有第一滑軌，第一滑軌內滑動式連接有第一滑塊，第一滑塊上側通過焊接的方式安裝有第二連接板，第二連接板右側中部通過焊接的方式安裝有刻度板，第一連接板中部開有通孔，刻度板穿過通孔，第一連接板右側上方通過焊接的方式安裝有指針，指針指在刻度板上，第一連接板和第二連接板內側上方之間通過焊接的方式安裝有托塊，支架前側上方通過螺栓連接的方式安裝有第二滑軌，第二滑軌內滑動式連接有兩個第二滑塊，第二滑塊之間連接有第一連接桿，第二滑塊上側通過焊接的方式安裝有把手，把手左側通過螺栓連接的方式安裝有電阻表，第二滑塊下側右方通過焊接的方式安裝有第一導軌，第一導軌上滑動式連接有第一導套，第一導套之間連接有第二連接桿，第一導套下側通過焊接的方式安裝有彈簧，彈簧下側通過焊接的方式連接在第一導軌下側，第一導套左端通過焊接的方式安裝有滑套，滑套內滑動式連接有電阻絲，電阻絲下端連接有探頭，電阻絲上端連接有擋塊，滑套下側左方連接有觸片，觸片與電阻絲接觸。