[發(fā)明專利]一種半導(dǎo)體三量子點(diǎn)結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)中遠(yuǎn)紅外單光子探測(cè)的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711291750.9 | 申請(qǐng)日: | 2017-12-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108123003B | 公開(公告)日: | 2019-12-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鐘旭 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海電機(jī)學(xué)院 |
| 主分類號(hào): | H01L31/0352 | 分類號(hào): | H01L31/0352;H01L31/102;H01L31/18 |
| 代理公司: | 31001 上海申匯專利代理有限公司 | 代理人: | 翁若瑩;柏子雵 |
| 地址: | 201100 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 量子點(diǎn) 單光子探測(cè) 量子點(diǎn)結(jié)構(gòu) 光電導(dǎo) 半導(dǎo)體 量子阱紅外探測(cè)器 半導(dǎo)體量子結(jié)構(gòu) 光子吸收效率 電子激發(fā) 光子吸收 紅外探測(cè) 量子干涉 探測(cè)器 引入 成熟 | ||
本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體三量子點(diǎn)結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)中遠(yuǎn)紅外單光子探測(cè)的方法。在半導(dǎo)體量子結(jié)構(gòu)中遠(yuǎn)紅外探測(cè)領(lǐng)域,量子點(diǎn)中電子激發(fā)壽命相比目前較成熟的量子阱紅外探測(cè)器方案要更長(zhǎng),因此量子點(diǎn)探測(cè)器工作溫度更高、光電導(dǎo)增益也更高。本發(fā)明引入了Fano型量子干涉通道,增強(qiáng)了光子吸收效率,進(jìn)一步增大了光電導(dǎo)增益;同時(shí),由于光子吸收只發(fā)生在中間量子點(diǎn)C中,降低了周圍環(huán)境的影響,進(jìn)一步提高了工作溫度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種利用半導(dǎo)體量子點(diǎn)探測(cè)中遠(yuǎn)紅外單光子的方法,屬于紅外和遠(yuǎn)紅外探測(cè)應(yīng)用領(lǐng)域。
背景技術(shù)
單光子探測(cè)器在成像、化學(xué)分析、環(huán)境監(jiān)測(cè)和激光測(cè)距等領(lǐng)域中具有廣泛的應(yīng)用。在可見光和近紅外范圍,可以采用雪崩光電二極管和光電倍增管實(shí)現(xiàn)單光子探測(cè)。但在中遠(yuǎn)紅外波長(zhǎng)范圍,很小的光子能量使得固體中難以產(chǎn)生穩(wěn)定的光生載流子。目前在中遠(yuǎn)紅外波長(zhǎng)范圍有以下三種主要探測(cè)方式:一是利用電光晶體的非線性效應(yīng)進(jìn)行差分探測(cè),此種方式具有靈敏度高、可以同時(shí)探測(cè)輻射強(qiáng)度和相位;二是熱電探測(cè)器,這類探測(cè)器探測(cè)范圍較廣;三是光子型探測(cè)器,以半導(dǎo)體量子阱探測(cè)器為代表,具有響應(yīng)速度快、探測(cè)靈敏度高和較強(qiáng)的光譜分辨本領(lǐng)等特點(diǎn)。
差分探測(cè)探測(cè)器體積較大,不易與半導(dǎo)體電路集成,具有很大的局限性;熱電探測(cè)器響應(yīng)率較低,沒有光譜分辨本領(lǐng);量子阱探測(cè)器的暗電流較大,無(wú)法探測(cè)微弱的中遠(yuǎn)紅外輻射。這三種類型的探測(cè)器目前基本都不具有單光子精度,無(wú)法實(shí)現(xiàn)微弱中遠(yuǎn)紅外光的靈敏探測(cè)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種能探測(cè)微弱的中遠(yuǎn)紅外輻射的方法。
為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明的技術(shù)方案是提供了一種半導(dǎo)體三量子點(diǎn)結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)中遠(yuǎn)紅外單光子探測(cè)的方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1、制作半導(dǎo)體異質(zhì)結(jié),在離該半導(dǎo)體異質(zhì)結(jié)表面一定距離處形成二維電子氣,在該半導(dǎo)體異質(zhì)結(jié)表面制作多個(gè)金屬電極,通電后形成半導(dǎo)體三量子點(diǎn)結(jié)構(gòu),三量子點(diǎn)中的左量子點(diǎn)L及右量子點(diǎn)R分別與二維電子氣通過隧穿耦合連接,三量子點(diǎn)中的中間量子點(diǎn)C與左量子點(diǎn)L及右量子點(diǎn)R通過隧穿耦合連接,左量子點(diǎn)L與中間量子點(diǎn)C構(gòu)成雙量子點(diǎn)LC系統(tǒng),右量子點(diǎn)R與中間量子點(diǎn)C構(gòu)成雙量子點(diǎn)LR系統(tǒng);
步驟2、調(diào)整金屬電極上的電壓,確保在導(dǎo)電窗口內(nèi)左量子點(diǎn)L及右量子點(diǎn)R內(nèi)部分別只有一個(gè)單電子態(tài),而中間量子點(diǎn)C在導(dǎo)電窗口內(nèi)有Donor單電子態(tài)和Acceptor單電子態(tài),中間量子點(diǎn)C內(nèi)Donor單電子態(tài)和Acceptor單電子態(tài)的能級(jí)之差決定了可以探測(cè)的中遠(yuǎn)紅外光子頻率;
步驟3、電子從半導(dǎo)體異質(zhì)結(jié)二維電子氣中由電子隧穿作用隧穿到雙量子點(diǎn)LC系統(tǒng)中,中遠(yuǎn)紅外光照射下,雙量子點(diǎn)LC系統(tǒng)中的電子吸收一個(gè)光子由Donor單電子態(tài)躍遷到Acceptor單電子態(tài),即進(jìn)入雙量子點(diǎn)LR系統(tǒng)中,再由電子隧穿作用電子從右量子點(diǎn)R隧穿到半導(dǎo)體異質(zhì)結(jié)二維電子氣中,從而形成光生電流,通過對(duì)光生電流的檢測(cè)實(shí)現(xiàn)對(duì)遠(yuǎn)紅外單光子的探測(cè)。
優(yōu)選地,雙量子點(diǎn)LC系統(tǒng)中左量子點(diǎn)L單電子態(tài)和中間量子點(diǎn)C中的Donor單電子態(tài)隧穿耦合,當(dāng)該耦合強(qiáng)度比較大而左量子點(diǎn)L單電子態(tài)和中間量子點(diǎn)C中的Donor單電子態(tài)能級(jí)差為零時(shí),左量子點(diǎn)L單電子態(tài)和中間量子點(diǎn)C中的Donor單電子態(tài)將形成Fano型量子干涉通道,調(diào)整隧穿耦合大小控制Fano型量子干涉通道的干涉強(qiáng)度,實(shí)現(xiàn)增強(qiáng)光子吸收而抑制光子激發(fā)作用,從而達(dá)到增強(qiáng)光電導(dǎo)增益的目的。
優(yōu)選地,調(diào)整金屬電極上的電壓來(lái)控制左量子點(diǎn)L與中間量子點(diǎn)C、中間量子點(diǎn)C與右量子點(diǎn)R之間的隧穿耦合強(qiáng)度和能級(jí)差,并可以控制中間量子點(diǎn)C內(nèi)兩個(gè)單電子態(tài)能級(jí)差的大小。
在半導(dǎo)體量子結(jié)構(gòu)中遠(yuǎn)紅外探測(cè)領(lǐng)域,量子點(diǎn)中電子激發(fā)壽命相比目前較成熟的量子阱紅外探測(cè)器方案要更長(zhǎng),因此量子點(diǎn)探測(cè)器工作溫度更高、光電導(dǎo)增益也更高。本發(fā)明引入了Fano型量子干涉通道,增強(qiáng)了光子吸收效率,進(jìn)一步增大了光電導(dǎo)增益;同時(shí),由于光子吸收只發(fā)生在中間量子點(diǎn)C中,降低了周圍環(huán)境的影響,進(jìn)一步提高了工作溫度。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場(chǎng)致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的
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