[發明專利]光線入射角度測量結果的校準方法

有效

• 申請號: 201711291453.4
• 申請日: 2017-12-08
• 公開（公告）號: CN108225256B
• 公開（公告）日: 2020-05-22
• 發明（設計）人: 閆鈺鋒;楊立宇;丁曉;王赫;李洋;付躍剛;白素平;周見紅;王世峰;宋鴻飛;牟達;王崇娥;郭逢時
• 申請（專利權）人: 長春理工大學
• 主分類號: G01C1/00
• 分類號: G01C1/00;G01C25/00
• 代理公司: 北京棋拾知識產權代理事務所(普通合伙) 11863
• 代理人: 楊雪婷

本申請實施例提供的光線入射角度測量結果的校準方法，基于包括光學接收裝置、計算裝置及至少一組具有預置安裝參數的微透鏡陣列的光線入射角度測量系統，預先任取一組微透鏡陣列中的四列微透鏡作為校準陣列，所述方法包括：基于對第一校準陣列的測量結果獲取第一入射角度值；以第一入射角度值作為已知量，并結合第二校準陣列的安裝參數獲取入射角度修正值；基于對第三校準陣列的測量結果獲取第二入射角度值，并根據第二入射角度值與入射角度修正值計算得到第三入射角度值；基于第四校準陣列的安裝參數對第三入射角度值進行校準，以得到校準后的入射角度值。通過本方案，可提高光線入射角度測量結果的精度。

技術領域

本發明涉及光學測量領域，尤其涉及一種光線入射角度測量結果的校準方法。

背景技術

在光學測量領域，尤其是對于光線入射角度的測量，目前大多為采用光電自準直系統來實現，其中，在光電自準直系統中常用的光電接收器件，比如可包括CCD(Charge-coupledDevice)電荷耦合元件、PSD(PositonSensitiveDetector)位置敏感器件、四象限光電探測器等，以根據光的自準直原理并結合光電接收器件獲得的數據實現對光線入射角度的測量。

在實際應用中，提高光線入射角度測量精度的需求越來越廣泛。為了提高光線入射角度的測量精度，現有通常采用共有的基準面或借助校準器對光線入射角度的測量結果進行校準操作。其中，采用共有的基準面進行校準，是將自準直系統和一塊標準的反射鏡同時置于標準平臺上，該標準的反射鏡能保證與水平平臺垂直，即相當于基準，自準直系統的光源發光，經反射鏡反射回來之后在自準直系統會顯示出來反射光斑的位置，調整自準直系統，直到經反射鏡反射回來的光線與自準直系統的出射光線重合；借助校準器進行校準，是借助標準的校準器來完成整個校準過程。

在上述方案中，校準過程都需要借助額外的校準設備，一方面，在校準設備使用過程中，為滿足測量要求，通常每隔半年或一年由計量部門對該儀器進行校準，給校準人員帶來不便；另一方面，現有操作過程較為復雜，且校準效果依賴于操作人員的人為因素或設備精度等客觀因素，校準效果不理想，進而影響光線入射角度的測量精度。

發明內容

本發明提供了一種光線入射角度測量結果的校準方法，可提高光線入射角度的測量精度。

為達到上述目的，本申請的實施例采用如下技術方案：

一種光線入射角度測量結果的校準方法，所述方法基于包括光學接收裝置、計算裝置及至少一組具有預置安裝參數的微透鏡陣列的光線入射角度測量系統，預先任取一組微透鏡陣列中的四列微透鏡作為校準陣列，所述方法包括：

基于對第一校準陣列的測量結果獲取第一入射角度值；

以第一入射角度值作為已知量，并結合第二校準陣列的安裝參數獲取入射角度修正值；

基于對第三校準陣列的測量結果獲取第二入射角度值，并根據第二入射角度值與入射角度修正值計算得到第三入射角度值；

基于第四校準陣列的安裝參數對第三入射角度值進行校準，以得到校準后的入射角度值。

本發明提供的光線入射角度測量結果的校準方法，整個校準過程無需借助額外的校準設備，而是基于包括預先規劃安裝參數的至少一組微透鏡陣列、光學接收器件及計算裝置的光線入射角度測量系統而完成的，預先任選一組微透鏡陣列中的四列微透鏡作為校準陣列，并通過結合對經由校準陣列的光線入射角度的測量結果、校準陣列的實際安裝參數等數據對光線入射角度測量結果進行自校準，以得到校準后的光線入射角度值，從而提高光線入射角度測量結果的精度。

上述說明僅是本發明技術方案的概述，為了能夠更清楚了解本發明的技術手段，而可依照說明書的內容予以實施，并且為了讓本發明的上述和其它目的、特征和優點能夠更明顯易懂，以下特舉本發明的具體實施方式。

附圖說明