[發(fā)明專利]一種評價復合材料結構R區(qū)缺陷超聲檢出概率的方法有效

申請?zhí)枺?/td>	201711290134.1	申請日：	2017-12-07
公開（公告）號：	CN108362780B	公開（公告）日：	2020-09-22
發(fā)明（設計）人：	劉菲菲;劉松平;傅天航;李治應;李樂剛	申請（專利權）人：	中航復合材料有限責任公司
主分類號：	G01N29/30	分類號：	G01N29/30;G01N29/04
代理公司：	中國航空專利中心 11008	代理人：	梁瑞林
地址：	101300 北京市***	國省代碼：	北京;11
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種評價復合材料結構缺陷超聲檢出概率方法
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【權利要求書】：

1.一種評價復合材料結構R區(qū)缺陷超聲檢出概率的方法，所用的超聲檢測系統(tǒng)由超聲換能器(1)、超聲A顯示單元(2)和超聲C掃描單元(3)組成，在R區(qū)概率試塊(4)內部設置有缺陷(5)；其特征在于，評價的步驟如下：

1.1、獲取R區(qū)缺陷檢測信息：利用超聲檢測系統(tǒng)分別對R區(qū)概率試塊(4)進行超聲A掃描檢測和超聲C掃描檢測，并記錄相應的超聲A掃描檢測結果和超聲C掃描檢測結果，包括超聲A掃描檢出R區(qū)缺陷在其軸線方向的最大長度和超聲A掃描檢出R區(qū)缺陷的深度超聲C掃描檢出R區(qū)缺陷在其軸線方向的大小其中：

i為檢出R區(qū)缺陷的序號，i＝1、2、3、...n；

表示超聲A掃描檢出的第i個R區(qū)缺陷在其軸線方向的最大長度，即R區(qū)缺陷長軸方向的尺寸；

表示超聲C掃描檢出的第i個R區(qū)缺陷在其軸線方向的最大長度，即R區(qū)缺陷長軸方向的尺寸；

1.2、R區(qū)缺陷檢出的判別方法：

1.2.1、超聲A掃描檢出R區(qū)缺陷的判別：

1.2.1.1、當超聲A掃描檢出的第i個R區(qū)缺陷大小滿足(1)式，判別為檢出該R區(qū)缺陷，否則，判別為漏檢；

式中：

為第i個檢出R區(qū)缺陷在R區(qū)概率試塊(4)中對應的長軸方向的實際尺寸；

為第i個超聲A掃描檢出R區(qū)缺陷(4)在長軸方向的尺寸允差；

的選擇方法為下述方法之一：

絕對選擇方法：在1mm～2mm之間選擇；

相對選擇方法：

1.2.1.2、當超聲A掃描檢出的第i個R區(qū)缺陷的深度滿足(2)式，判別為能確定該檢出R區(qū)缺陷深度否則，判別為不能確定該檢出R區(qū)缺陷深度位置；

式中：

為對應第i個超聲A掃描檢出R區(qū)缺陷在R區(qū)概率試塊(4)中的實際深度，

h_p為R區(qū)概率試塊(4)中單層復合材料鋪層的厚度；

1.2.2、超聲C掃描檢出R區(qū)缺陷的判別：

當超聲C掃描檢出的第i個R區(qū)缺陷的大小滿足(3)式，判別為檢出該R區(qū)缺陷；否則，判別為漏檢；

式中：

為第i個超聲C掃描檢出R區(qū)缺陷在長軸方向的尺寸允差；

的選擇方法為下述方法之一：

絕對選擇方法：在1.0mm～2.0mm之間選擇；

相對選擇方法：

1.3、R區(qū)缺陷大小加權：根據被檢測復合材料結構R區(qū)的驗收等級和材料工藝結構特點，對R區(qū)概率試塊(4)中漏檢R區(qū)缺陷進行加權，加權系數為k_j，j＝1，2，3，具體方法為：φ₁、φ₂、φ₃為R區(qū)概率試塊(4)中的3種不同尺寸大小的R區(qū)缺陷，φ₁＜φ₂＜φ₃；對應R區(qū)缺陷尺寸為φ₁的加權系數k₁＝1.0，對應R區(qū)缺陷尺寸為φ₂的加權系數k₂＝2.0，對應R區(qū)缺陷尺寸為φ₃的加權系數k₃＝3.0；

1.4、R區(qū)缺陷深度加權：定義h₁、h₂、h₃為R區(qū)概率試塊(4)中的3種不同深度的R區(qū)缺陷，其中：h₁對應的R區(qū)缺陷深度位于R區(qū)概率試塊(4)表面第1個～2個鋪層之間，h₂對應的R區(qū)缺陷深度位于R區(qū)概率試塊(4)中間鋪層處，h₃對應的R區(qū)缺陷深度位于R區(qū)概率試塊(4)底面第1個～第2個鋪層之間；R區(qū)缺陷深度加權系數為m_l，l＝1，2，3；不同深度R區(qū)缺陷加權系數為ml的計算方法為：深度為h₁的R區(qū)缺陷對應的深度加權系數m₁＝1.0，深度為h₂的R區(qū)缺陷對應的m₂＝2.0，深度為h₃的R區(qū)缺陷對應的m₃＝3.0；